1 / 16

______________________________________________________________________________

______________________________________________________________________________. festival znanosti. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA. Doc.dr.sc. Ljerka Slokar. ______________________________________________________________________________.

faith-crawford
Download Presentation

______________________________________________________________________________

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. ____________________________________________________________________________________________________________________________________________________________ festival znanosti ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA Doc.dr.sc. Ljerka Slokar ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  2. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ Elektronska mikroskopija – za stvaranje slike koristi snop elektrona Elektroni ubrzani u vakuumu imaju svojstva vala - λ(elektrona) je 100 000 x manja od λ(svjetlosti) 1931.g. Dr. Ruska konstruira prvi elektronski mikroskop (TEM) Nobelova nagrada za fiziku tek 1986.g. -povećanje: 17 x 1 000 000 x • Vrsteelektronskemikroskopije: • Scanning elektronska mikroskopija (SEM) • Transmisijska elektronska mikroskopija (TEM) • Scanning tunelirajuća mikroskopija (STM) • Mikroskopija atomskom silom (AFM) • Mikroskopija magnetskom silom (MFM)... itd. ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  3. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ Scanning elektronska mikroskopija – za karakterizaciju površine materijala - pomoću scanning elektronskog mikroskopa (SEM) SEM Tescan Vega TS 5136 MM ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  4. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ SEM morfologija i kemijski sastav analiziranog uzorka Prednosti SEM: - rezolucija – mjera za najsitniji detalj koji mikroskop može “vidjeti” - dubina polja - mikroanaliza Prilikom udarca elektrona o površinu uzorka  efekti koji se koriste za dobivanje slike i analizu uzorka: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  5. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ -elektroni povratnog raspršenja  BSE detektor - za proučavanje razlika u kemijskom sastavu uzoraka -sekundarni elektroni  SE detektor - za proučavanje morfologije -kvant energije ili x- zraka  EDS detektor - za određivanje kemijskog sastava uzorka ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  6. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ Priprema uzoraka za SEM analizu: -uzorci moraju biti stabilni u vakuumu -uzorci se lijepe na ljepljivu električno vodljivu grafitnu traku -prema potrebi naparuju se slojem ugljika ili zlata u naparivaču - električna vodljivost uzorka je potrebna da bi se izbjeglo nakupljanje naboja na njegovoj površini, a time i značajna degradacija kvalitete slike. ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  7. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ Primjeri istraživanja metalnih uzoraka pomoću elektronske mikroskopije: NL SEI-200x AlSi11Cu2(Fe) SEI-500x ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  8. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ SEM, EDS i linijska analiza oksidnog uključka Cu13Al3,25Ni legure: Spectrum: CuAlNi-poz2 El AN Series unn. C norm. C Atom. C Error [wt.%] [wt.%] [at.%] [%] ------------------------------------------- O 8 K-series 49.70 44.44 62.39 6.7 Al 13 K-series 41.96 37.52 31.23 2.0 Cu 29 K-series 20.18 18.04 6.38 0.7 ------------------------------------------- Total: 111.85 100.00 100.00 ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  9. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ Rezultati SEM i EDS analize nemetalnog uključka u mikrostrukturi čelika 350LF2: Spectrum: poz1 El AN Series unn. C norm. C Atom. C Error [wt.%] [wt.%] [at.%] [%] -------------------------------------------------------------------- O 8 K-series 59.62 52.24 65.23 8.4 Al 13 K-series 44.99 39.42 29.19 2.2 Mg 12 K-series 5.00 4.38 3.60 0.3 Ca 20 K-series 4.52 3.96 1.97 0.2 -------------------------------------------------------------------- Total: 114.13 100.00 100.00 ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  10. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ Linijska analiza nemetalnog uključka u mikrostrukturi čelika 350LF2: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  11. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ SEM Cu-Al-Ni (83.04 % Cu, 12.62 % Al, 4.34 % Ni) legure s prisjetljivosti oblika prije i nakon potenciodinamičke polarizacije: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  12. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ SEM mikrofraktografije kontinuirano lijevane CuAlNi slitine s prisjetljivosti oblika nakon toplinske obrade na 700°C/2'/voda, pri različitim povećanjima: ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  13. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ AlSi7Mg, BSE-1200x Sivi lijev, SE-1000x Sivi lijev, SE-5000x ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  14. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ SEM i linijska analiza biomedicinske legure Ti60Nb10Zr30 ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  15. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ SEM uzorka visokopećne ćađe: 1000x 3000x ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

  16. ELEKTRONSKA MIKROSKOPIJA U ISTRAŽIVANJU METALA ______________________________________________________________________________ Primjenom elektronske mikroskopije u istraživanju metala dobivamo podatke o njihovoj mikrostrukturi, kvalitativnom i kvantitativnom kemijskom sastavu. Hvala ... ______________________________________________________________________________ TEHNIČKI MUZEJ ZAGREB Zagreb, 9. travnja 2014.

More Related