1 / 31

Spintronika

Spintronika. Tomasz Stobiecki Katedra Elektroniki AGH Kraków. Historia spintroniki. 1986 - odkrycie międzywarstwowego oscylacyjnego sprzężenia wymiennego ferro-antyferromagnetycznego w układzie wielowarstwowym Fe/Cr/Fe P. Gr ü nberg et al. Phys Rev.Lett. 57 (1986), 2442

lupita
Download Presentation

Spintronika

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Spintronika Tomasz Stobiecki Katedra Elektroniki AGH Kraków

  2. Historia spintroniki • 1986 - odkrycie międzywarstwowego oscylacyjnego sprzężenia wymiennego ferro-antyferromagnetycznego w układzie wielowarstwowym Fe/Cr/Fe P. Grünberg et al. Phys Rev.Lett. 57 (1986), 2442 • 1988 – odkrycie Gigantycznej Magnetorezystancji - GMR (Giant Magnetoresistivity) w układzie wielowarstwowym Fe/Cr/Fe M. N. Baibich,..., A.Fert,.. et.al. Phys Rev.Lett. 61 (1988), 2472

  3. I = const Ua Magnetorezystancja - - U U R R D R a p a p = = »  % 5 100 U R R p p p Gigantyczna magnetorezystancja(Giant Magnetoresistivity - GMR) I = const  10 nm Up ferromagnetyk nieferromagnetyk ferromagnetyk

  4. M M I R małe Spinowo zależne przewodnictwo elektryczne Analogia do równoległego połączenia dwóch rezystancji I R duże

  5. Energia Energia Energia EF d d d s s s Spin Spinowa polaryzacja ferromagnetyka Magnetyzacja Gęstość stanów

  6. Warstwa mocująca (pin-layer) warstwa swobodna (free-layer) 1 0 1 warstwa zamocowana (pinned-layer) 0 1 0 kierunek ruchu nośnika informacji Zasada działania zaworu spinowego (Spin-Valve) w głowicy twardego dysku AFM: FeMn, NiO, NiMn, IrMn FM: Co, Fe, NiFe, CoFe NM: Cu, Ag, Au USignal AFM I = const

  7. Zapisująco-odczytująca głowica GMR

  8. Zawór Spinowy(Spin-Valve) Krzywa magnesowania Krzywa magnetorezystancji

  9. SV – charakterystyki magnetorezystancyjne Zależność rezystancji od wzajemnego położenia wektorów namagnesowania: • Antysymetryczna charakterystyka M(H) w zakresie małych pól • Duża czułość magnetorezystancyjna SR =2%/Oe

  10. SV – charakterystyki magnetorezystancyjne • Antysymetryczna charakterystyka M(H) w zakresie małych pól • Duża czułość magnetorezystancyjna Zależność rezystancji od wzajemnego położenia wektorów namagnesowania:

  11. Rozwój pamięci dyskowych

  12. Pseudo zawór spinowy (PSV) charakterystyki M(H) i R(H) Dwustanowa charakterystyka magnetorezystancyjna

  13. Zastosowania pseudo-zaworów spinowych • Nieulotne pamięci magnetyczne o dostępie swobodnym (Magnetic Random Access Memory) • matryca złożona z komórek pamięciowych: elementów PSV • bit informacji reprezentowany poprzez wzajemną orientację wektorów namagnesowania warstw ferromagnetycznych twardej i miękkiej; • zapis poprzez przemagnesowanie silniejszym prądem; • odczyt poprzez detekcję rezystancji lub zmiany rezystancji; • informacja przechowywana jest po zaniku zasilania; • szybki zapis i odczyt, mały pobór mocy; • cykle zapisujące są nieniszczące; • odporność na EMP, promieniowanie jonizujące.

  14. 0 1 Magnetic Random Access Memory (MRAM) ścieżka przewodząca antyferromagnetyk ferromagnetyki nieferromagnetyczna międzywarstwa  150 nm

  15. Zasada działania pamięci M-RAM

  16. Zasada działania pamięci M-RAM

  17. Modele elektryczne Zastępczy model elektryczny SV i PSV dla potrzeb programu P-SPICE Odtwarzanie charakterystyki magnetorezystancyjnej pozwala na projektowanie układów scalonych współpracujących z elementami SV i PSV.

  18. Wyniki dopasowania do danych doświadczalnych Pętle histerezy przemagnesowania dla SV i PSV

  19. Przykłady rozwiązań komórek pamięci MRAM Scanning electron microscope image of typical metal-masked magnetic tunnel junction, 80 m x 80 m in area

  20. Kropki magnetyczne Co (4nm) Cu (3nm) NiFe (6nm)

  21. • a new class of device based on the quantum of electron spin, rather than on charge, may yield the next generation of microelectronics”.

  22. Urządzenie do nanoszenia układów wielowarstwowych – EMRALD II

More Related