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1 Medir. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial. Medições no dia-a-dia. Potência da lâmpada. Horário do despertador. Comprimento da calça. Temperatura da geladeira. Tempo de cozimento. Volume de leite. Volume de combustível. Consumo de energia. Velocidade do automóvel.

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Presentation Transcript


  1. 1Medir Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial

  2. Medições no dia-a-dia Potência da lâmpada Horário do despertador Comprimento da calça Temperatura da geladeira Tempo de cozimento Volume de leite Volume de combustível Consumo de energia Velocidade do automóvel Pressão dos pneus Dimensões das peças Rotação do motor Tamanho do peixe Quantidade de arroz Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 2/30)

  3. Importância de medir "O conhecimento amplo e satisfatório sobre um processo ou fenômeno somente existirá quando for possível medi-lo e expressá-lo através de números". Lord Kelvin, 1883 Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 3/30)

  4. indicação 0 1 2 3 4 unidade Exemplo de medição 1 mensurando 2,4 unidades instrumento de medição Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 4/30)

  5. Exemplo de medição 2 tensão do gerador: 5,305 V constante do sistema de medição: 15,080 (km/h)/V velocidade: 5,305 V . 15,080 (km/h)/V = 80,0 km/h Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 5/30)

  6. 1.2 O que é medir?

  7. O que é medir? Medir é o procedimento experimental através do qual o valor momentâneo de uma grandeza física (mensurando) é determinado como um múltiplo e/ou uma fração de uma unidade, estabelecida por um padrão, e reconhecida internacionalmente. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 7/30)

  8. Algumas definições • Mensurando é o objeto da medição. É a grandeza específica submetida a medição. • Indicação é o valor de uma grandeza fornecido por um sistema de medição. • Indicação direta é o número mostrado pelo sistema de medição. A indicação direta pode ou não ser apresentada na unidade do mensurando. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 8/30)

  9. indicação direta indicação mensurando tensão do gerador: 5,305 V constante do sistema de medição: 15,080 (km/h)/V velocidade: 5,305 V . 15,080 (km/h)/V = 80,0 km/h Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 9/30)

  10. 1.3 Medir para que?

  11. Medir para que? • Monitorar • Observar passivamente grandezas • Controlar • Observar, comparar e agir para manter dentro das especificações. • Investigar • Descobrir o novo, explicar, formular. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 11/30)

  12. Medir para monitorar... • Compra e venda de produtos e serviços: • consumo de água, energia elétrica, taxímetro, combustíveis, etc. • Sinais vitais: • pressão arterial, temperatura, nível de colesterol • Atividades desportivas: • desempenho, recordes Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 12/30)

  13. Medir para monitorar... Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 13/30)

  14. Especificações xxxx ± xx yyyy ± yy zzz ± z Comparar Agir Medir para controlar... Medir Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 14/30)

  15. Medir para controlar... Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 15/30)

  16. pressão rota temperatura altitude velocidade Medir para controlar... Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 16/30)

  17. Medir para investigar... Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 17/30)

  18. Medir para investigar... Pequenas diferenças nas medidas podem levar a conclusões completamente diferentes. Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 18/30)

  19. Medir para investigar... • Compreender • Descobertas científicas, estudar fenômenos • Dominar • Validar, know-how • Evoluir • Melhorar continuamente, expandir limites • Inovar Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 19/30)

  20. Produto Serviço Inovador Idéia invento oportunidade Elementos da inovação tecnológica pesquisa aplicada CQ CQ patenteamento pesquisa aplicada ensaios desenvolvimento certificação ensaios desenvolvimento certificação prototipagem design marketing produção prototipagem produção processos fabricação plano produção processos fabricação plano produção Onde tem metrologia? Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 20/30)

  21. 1.4 Errar é inevitável

  22. condições ambientais imperfeições do sistema de medição procedimento de medição Sistema de medição mensurando influência do operador má definição do mensurando Medições geram erros indicação ± ERROS Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 22/30)

  23. 1.5 O processo de medição

  24. definição do mensurando procedimento de medição sistema de medição operador condições ambientais Processo de medição resultado da medição Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 24/30)

  25. 1.6 O resultado da medição

  26. Sistema de medição mensurando VV Resultado da medição indicação -IM RB +IM Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 26/30)

  27. Resultado da medição • É a faixa de valores dentro da qual deve se situar o valor verdadeiro do mensurando. • Resultado base é a estimativa do valor do mensurando que, acredita-se, mais se aproxime do seu valor verdadeiro. • Incerteza da medição é o tamanho da faixa simétrica, e centrada em torno do resultado base, que delimita a faixa onde se situam as dúvidas associadas à medição. RM = (RB ± IM) unidade Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 27/30)

  28. Pilares da Metrologia M Honestidade Conhecimento Bom-senso Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 28/30)

  29. 1.7 A linguagem da metrologia

  30. A linguagem da metrologia • Até 1995: “Torre de Babel” • Em 08 de Maio de 2012: Portaria INMETRO n° 232 “Vocabulário de Termos Fundamentais e Gerais de Metrologia” (VIM) Em sintonia com:ISO, BIPM, IEC, IFCC, IUPAC, IUPAP Fundamentos da Metrologia Científica e Industrial - Capítulo 1 - (slide 30/30)

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