1 / 15

Měření doby úhlových korelací (ACAR)

Měření doby úhlových korelací (ACAR). long slit geometrie. Pb stínění. scintilační detektor. detektor. scintilační detektor. Pb stínění. q. Pb stínění. zdroj e + + vzorek. Měření doby úhlových korelací (ACAR). vodivostní e -. core e -. Měření Dopplerovského rozšíření.

parley
Download Presentation

Měření doby úhlových korelací (ACAR)

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. Měření doby úhlových korelací (ACAR) long slit geometrie Pb stínění scintilační detektor detektor scintilační detektor Pb stínění q Pb stínění zdroj e+ + vzorek

  2. Měření doby úhlových korelací (ACAR) vodivostní e- core e-

  3. Měření Dopplerovského rozšíření HPGe detektor zdroj e+ + vzorek p pL pT SCA spektroskopický zesilovač ADC A/D převodník

  4. 207 annihilation peak Bi 10000 10000 1000 1000 counts counts 100 100 10 10 FWHM = 2.580(3) keV FWHM = 1.103(1) keV 1 1 550 560 570 580 590 490 500 510 520 530 E (keV) E (keV) Měření Dopplerovského rozšíření (DB) zdroj e+ + vzorek pL pT spektroskopický zesilovač A/D převodník

  5. neurčitost úhlu • DB • neurčitost úhlu Srovnání rozlišení DB  ACAR • ACAR

  6. Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry • S parametr volné e+ e+zachycené v defektech • referenční vzorek: S0 0.5 • S - míra podílu anihilací e+ s valenčními e- (malé DE) • normalizace: S / S0 • nárůst koncentrace defektů  nárůstS parametru

  7. t r Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry

  8. t r Srovnání s mikrotvrdostí

  9. Měření Dopplerovského rozšíření – tvarové parametry • W parametr volné e+ e+zachycené v defektech • referenční vzorek: W0 0.03 • W - míra podílu anihilací e+ s core e- (velké DE) • normalizace: W / W0 • nárůst koncentrace defektů  poklesW parametru

  10. dislokace shluky vakancí Měření Dopplerovského rozšíření – S-W plot HPT Cu • saturovaný záchyt • dva typy defektů: - dislokace - shluky vakancí

  11. povrch Si substrát Mg vrstva Měření Dopplerovského rozšíření – S-W plot Mg film (600 nm) na Si (100) substrátu • M – počet vrstev • Nl – počet typů defektů v l-té vrstvě Mg Si (100)

  12. Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) Technical University Delft

  13. Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) Technical University Delft

  14. Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) • mapování k-prostoru Ni2MnGa [100] [110]

  15. Dvourozměrné měření úhlových korelací (2D ACAR) • rekonstrukce Fermiho plochy Ni2MnGa experiment výpočet

More Related