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电光调制

电光调制. 0 、晶体光学的各向异性. 在许多晶体中,由于分子本身以及排列上的各向异性,必然地影响到晶体的物理性质。光波在晶体中传播时,其电场分量与物质相互作用也会随传播方向的不同而有所不同,表现为各向异性。. 1 、介电张量. 在各向异性晶体中,极化强度与电场的关系为:. 其表明,极化强度分量不仅与同方向的电场分量有关,还会受到另外两个方向的电场分量的影响。极化强度与电场强度方向一般不一致. 可以找到这样的方向,当电场沿着这个方向时,晶体也该方向极化,电场强度和极化强度方向一致,介电张量的非对角元素为零。这样的三个方向构成的坐标系称为主介电坐标系(主坐标系),此时:.

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电光调制

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  1. 电光调制 0、晶体光学的各向异性 在许多晶体中,由于分子本身以及排列上的各向异性,必然地影响到晶体的物理性质。光波在晶体中传播时,其电场分量与物质相互作用也会随传播方向的不同而有所不同,表现为各向异性。

  2. 1、介电张量 在各向异性晶体中,极化强度与电场的关系为: 其表明,极化强度分量不仅与同方向的电场分量有关,还会受到另外两个方向的电场分量的影响。极化强度与电场强度方向一般不一致

  3. 可以找到这样的方向,当电场沿着这个方向时,晶体也该方向极化,电场强度和极化强度方向一致,介电张量的非对角元素为零。这样的三个方向构成的坐标系称为主介电坐标系(主坐标系),此时:可以找到这样的方向,当电场沿着这个方向时,晶体也该方向极化,电场强度和极化强度方向一致,介电张量的非对角元素为零。这样的三个方向构成的坐标系称为主介电坐标系(主坐标系),此时:

  4. 2、双折射 (1)、双折射现象 同一束入射光射到晶体, 折射后分成两束光的现象称为 双折射。(冰洲石:CaCO3, 方解石的一种) (2)、o光和e光 一束平行光线照射到晶体表面,在晶体内的两条折射线中,一条总是符合普通的折射击定律称为寻常光——o光,而另一条却常常违背它,称之为非寻常光——e光.(o光、e光只是在晶体里面有意义)

  5. (3)、晶体的光轴 在晶体中存在着一个特殊的方向,光线沿着这个方向传播时,o光和e光不分开,这个特殊的方向称为晶体的光轴。 Note:光轴不是一条线,而是一个方向。

  6. (4)、主平面 晶体中某条光线与晶体光轴构成的平面,称为主平面。 o光的偏振:电矢量的振动方向与主平面垂直。 e光的偏振:电矢量的振动方向与主平面平行。

  7. (5)、单轴晶体、双轴晶体 只有一个光轴方向的晶体称为单晶体。 如:冰洲石、石英、红宝石、冰等。 有两个光轴方向的晶体,称为双晶体。如:云母、兰宝石、橄榄石、硫磺等。 在单轴晶体中,o光传播规律与普通各向同性媒质中一样,沿各个方向的传播速度v0相同,其波面是球面。e光沿各个方向的传播速度不相同,沿光轴方向传播速度与o光一样,也是v0,沿垂直光轴方向的传播速度是另一数值ve,沿其它方向传播速度v介于v0与ve之间,其波面是一椭球面。

  8. (6)主折射率 对于o光晶体的折射率 no=c/ v0 ,但对e光,因为它不服从普通的折射定律,不能简单地用一个折射率来反映它折射的规律。通常仍把真空光速c与e光沿垂直于光轴传播时的速度ve之比也叫做它的折射率,用ne表示, ne=c/ve

  9. (7)、负晶体、正晶体 负晶体(冰洲石): ve >v0 no>ne(内切球) 正晶体(石英): ve<v0 no<ne (外切球)

  10. 电光调制 电光调制的物理基础是电光效应,即某些晶体在外加电场的作用下,其折射率将发生变化,当光波通过此介质时,其传输特性就受到影响而改变,这种现象称为电光效应。 §1.2.1 电光调制的物理基础 光波在介质中的传播规律受到介质折射率分布的制约,而折射率的分布又与其介电常量密切相关。晶体折射率可用施加电场E的幂级数表示,即

  11. 或写成 式中,γ和h 为常量,n0为未加电场时的折射率。在(1.2-2)式中, γE是一次项,由该项引起的折射率变化,称为线性电光效应或泡克耳斯(Pockels)效应;由二次项 γE2引起的折射率变化,称为二次电光效应或克尔(Kerr )效应。对于大多数电光晶体材料,一次效应要比二次效应显著,可略去二次项,故在本章只讨论线性电光效应。

  12. 1.电致折射率变化 对电光效应的分析和描述有两种方法:一种是电磁理论方法,但数学推导相当繁复;另一种是用几何图形───折射率椭球体(又称光率体)的方法,这种方法直观、方便,故通常都采用这种方法。 在晶体未加外电场时,主轴坐标系中,折射率椭球由如下方程描述:

  13. 式中,x,y,z为介质的主轴方向,也就是说在晶体内沿着这些方向的电位移D和电场强度E是互相平行的;nx,ny,nz为折射率椭球的主折射率。式中,x,y,z为介质的主轴方向,也就是说在晶体内沿着这些方向的电位移D和电场强度E是互相平行的;nx,ny,nz为折射率椭球的主折射率。 当晶体施加电场后,其折射率椭球就发生“变形”,椭球方程变为 如下形式:

  14. 比较 (1.2-3)和 (1.2-4)两式可知,由于外电场的作用,折射率椭球各系数 随之发生线性变化,其变化量 可定义为 式中,γij称为线性电光系数; i取值1,…,6;j取值1,2,3。(1.2-5)式可以用张量的矩阵形式表式为:

  15. = . (1.2-6)

  16. 式中, 是电场沿 方向的分量。具有 元素的 矩阵称为电光张量,每个元素的值由具体的晶体决定,它是表征感应极化强弱的量。下面以常用的KDP晶体为例进行分析。 KDP(KH2PO4)类晶体属于四方晶系, 42m点群, 是负单轴晶体, 因此有 这类晶体的电光张量为:

  17. (1.2-7)

  18. 而且, 因此,这一类晶体独立的电光系数只有 两个。将(1.2-7)式代入(1.2-6)式,可得: 电光系数:γ63

  19. 由上式可看出, 外加电场导致折射率椭球方程中“交叉”项的出现, 说明加电场后, 椭球的主轴不再与 x, y, z轴平行, 因此, 必须找出一个新的坐标系, 使(1.2-9)式在该坐标系中主轴化, 这样才可能确定电场对光传播的影响。为了简单起见, 将外加电场的方向平行于轴 z ,即 , 于是(1.2-9)式变成: 将(1.2-8)式代入(1.2-4)式,便得到晶体加外电场 E后的新折射率椭球方程式:

  20. (1.2-11)式中, x’, y’, z’为加电场后椭球主轴的方向,通常称为感应主轴; 是新坐标系中的主折射率,由于(1.2-10)式中的 x和y是对称的 , 故可将 x 坐标和 y 坐标绕z轴旋转α角,于是从旧坐标系到新坐标系的变换关系为: 为了寻求一个新的坐标系 (x’, y’, z’),使椭球方程不含交叉项,即具有如下形式:

  21. y’ y x’ α x 令交叉项为零,即 ,则方程式变为 (1.2-14) 将(1.2-12)式代入(1.2-10)式,可得: 这就是KDP类晶体沿 Z轴加电场之后的新椭球方程,如图所示。其椭球主轴的半长度由下式决定:

  22. y y' x' 450 x 图1.2-1加电场后的椭球的形变

  23. 由于γ63很小(约10-10m/V),一般是γ63EZ <<, 利用微分式 , 故 即得到(泰勒展开后也可得) :

  24. 由此可见,KDP晶体沿 z(主)轴加电场时,由单轴晶变成了双轴晶体,折射率椭球的主轴绕z轴旋转了45o角,此转角与外加电场的大小无关,其折射率变化与电场成正比,(1.2—16)式的△n值称为电致折射率变化。这是利用电光效应实现光调制、调Q、锁模等技术的物理基础。

  25. (1.2-14) 2.电光相位延迟 下面分析一下电光效应如何引起相位延迟。一种是电场方向与通光方向一致, 称为纵向电光效应;另一种是电场与通光方向相垂直, 称为横向电光效应。仍以KDP类晶体为例进行分析, 沿晶体 Z轴加电场后,其折射率椭球如图1.2-2所示。如果光波沿 Z方向传播,则其双折射特性取决于椭球与垂直于Z轴的平面相交所形成的椭园。在(1.2-14)式中,令 Z = 0,得到该椭圆的方程为:

  26. nz=ne y

  27. 这个椭圆的一个象限如图中的暗影部分所示。它的长、短半轴分别与 x’ 和 y’ 重合, x’ 和 y’ 也就是两个分量的偏振方向, 相应的折射率为 nx’ 和 ny’ 。 当一束线偏振光沿着 z 轴方向入射晶体, 且 E 矢量沿 x 方向,进入晶体 (z=0) 后即分解为沿 x’ 和 y’方向的两个垂直偏振分量。由于二者的折射率不同, 则沿x’ 方向振动的光传播速度快, 而沿 y’ 方向振动的光传播速度慢, 当它们经过长度 L 后所走的光程分别为 nx’L 和ny’L, 这样, 两偏振分量的相位延迟分别为

  28. 因此,当这两个光波穿过晶体后将产生一个相位差因此,当这两个光波穿过晶体后将产生一个相位差 式中的 V = Ez L是沿 Z轴加的电压;当电光晶体和通光波长确定后,相位差的变化仅取决于外加电压,即只要改变电压,就能使相位成比例地变化。

  29. 当光波的两个垂直分量Ex’ , Ey’的光程差为半个波长(相应的相位差为π)时所需要加的电压,称为“半波电压”,通常以 表示。由(1.2-19)式得到 半波电压是表征电光晶体性能的一个重要参数,这个电压越小越好,特别是在宽频带高频率情况下,半波电压小,需要的调制功率就小。半波电压通常可用静态法(加直流电压)测出,再利用(1.2-20)式就可计算出电光系数 值。下表 为 KDP型(42m晶类)晶体的半波电压和电光系数(波长=0.55um)的关系。

  30. 表1-2-1 KDP型(42m晶类)晶体的半波电压和 (波长=0.5um)

  31. 3.光偏振态的变化 根据上述分析可知,两个偏振分量间的差异,会使一个分量相对于另一个分量有一个相位差( △),而这个相位差作用就会(类似于波片)改变出射光束的偏振态。在一般情况下,出射的合成振动是一个椭圆偏振光,用数学式表示为: 这里我们有了一个与外加电压成正比变化的相位延迟晶体(相当于一个可调的偏振态变换器),因此,就可能用电学方法将入射光波的偏振态变换成所需要的偏振态。

  32. (1)当晶体上未加电场时, 则上面的方程简化为: E x y’ x’ y 让我们先考察几种特定情况下的偏振态变化。 这是一个直线方程,说明通过晶体后的合成光仍然是线偏振光,且与入射光的偏振方向一致,这种情况相当于一个“全波片”的作用。

  33. (2)当晶体上所加电场( )使 时,(1.2-21)式可简化为 这是一个正椭圆方程,当A1=A2 时,其合成光就变成一个圆偏振光,相当于一个“1/4波片”的作用。

  34. x y’ x’ y E (3) 当外加电场Vλ/2使△ = (2n+1)π, (1.2-21)式可简化为 上式说明合成光又变成线偏振光,但偏振方向相对于入射光旋转了一个2θ角(若=450,即旋转了900,沿着y方向),晶体起到一个“半波片”的作用。

  35. 综上所述,设一束线偏振光垂直于x’y’平面入射,且(电矢量E)沿X轴方向振动,它刚进入晶体(Z=0)即分解为相互垂直的 x’,y’ 两个偏振分量,经过距离L后 分量为:

  36. 1.2-25 y’分量为: 1.2-26 1.2-26 注意:ωc / c = 2π/λ 在晶体的出射面(z=L)处,两个分量间的相位差可由上两式中指数的差得到(x’ 分量比y’分量的大) 注: V = EzL, ωc/c = 2π/λ

  37. 图1.2-4示出了某瞬间 和 两个分量(为便于观察,将两垂直分量分开画出),也示出了沿着路径上不同点处光场矢量的顶端扫描的轨迹,在z=0处(a),相位差 ,光场矢量是沿X方向的线偏振光;在e点处, ,则合成光场矢量变为一顺时针旋转的圆偏振光;在i点处, ,则合成光矢量变为沿着Y方向的线偏振光,相对于入射偏振光旋转了90o。如果在晶体的输出端放置一个与入射光偏振方向相垂直的偏振器,当晶体上所加的电压在0— 间变化时。从检偏器输出的光只是椭圆偏振光的Y向分量,因而可以把偏振态的变化变换成光强度的变化(强度调制)。

  38. 二、电光强度调制 利用泡克耳斯效应实现电光调制可以分为两种情况。一种是施加在晶体上的电场在空间上基本是均匀的.但在时间上是变化的.当一束光通过晶体之后,可以使一个随时间变化的电信号转换成光信号,由光波的强度或相位变化来体现要传递的信息,这种情况主要应用于光通信、光开关等领域。另一种是施加在晶体上的电场在空间上有一定的分布,形成电场图像,即随X和y坐标变化的强度透过率或相位分布,但在时间上不变或者缓慢变化,从而对通过的光波进行调制,在后面介绍的空间光调制器就属于这种情况。本节先讨论前一种情况的电光强度调制。

  39. 1. 纵向电光调制(通光方向与电场方向一致) 电光晶体(KDP)置于两个成正交的偏振器之间,其中起偏器P1的偏振方向平行于电光晶体的x轴,检偏器P2的偏振方向平行于y轴,当沿晶体z轴方向加电场后,它们将旋转45o变为感应主轴x’,y’。因此,沿z轴入射的光束经起偏器变为平行于x轴的线偏振光,进入晶体后(z=0)被分解为沿x’和y’方向的两个分量,两个振幅(等于入射光振幅的1/ )和相位都相等.分别为: 图1.2—5是一个纵向电光强度调制的典型结构。

  40. (1.2-28) 当光通过长度为L的晶体后,由于电光效应,E x’和E y’二分量间就产生了一个相位差 ,则 E x’(L)= A E y’(L)= Aexp(-i ) E x’ =Acosωc t E y’=Acosωc t 或采用复数表示, 即 E x’(0)=Acosωc t E y’(0)=Acosωc t 由于光强正比于电场的平方,因此,入射光强度为

  41. x X’ Y’ 45o 45o y 与之相应的输出光强为: (1.2-29) 注意公式: 将出射光强与入射光强相比[(1.2-29)公式/ (1.2-28)公式]得: (1.2-30) 那么,通过检偏器后的总电场强度是E x’(L)和E y’(L)在y方向的投影之和,即 后一步考虑了(1.2—19)式和(1. 2—20)式的关系(见下页)。

  42. Vπ和Vλ/2是一回事。 (1.2-30)式中的T称为调制器的透过率。根据上述关系可以画出光强调制特性曲线,如图1.2-6所示。由图可见,在一般情况下,调制器的输出特性与外加电压的关系是非线性的。 上一讲的(1.2—19)式和(1. 2—20)式如下:

  43. V 2 3 5 1 4 1 2 3 4 5 若调制器工作在非线性部分,则调制光将发生畸变。为了获得线性调制,可以通过引入一个固定的 /2相位延迟,使调制器的电压偏置在T=50%的工作点上。常用的办法有两种:

  44. 其一,在调制晶体上除了施加信号电压之外,再附加一个 Vλ/4 的固定偏压,但此法会增加电路的复杂性,而且工作点的稳定性也差。其二,在调制器的光路上插入一个1/4波片(1.2-5图)其快慢轴与晶体主轴x成45o 角,从而使E x’和E y’二分量间产生 /2 的固定相位差。于是,(1.2-30)式中的总相位差 式中,△m = Vm/V(相当于1.2-30式中的 △ )是相应于外加调制信号最大电压vm的相位延迟。其中Vm sinωmt 是外加调制信号电压。

  45. 因此,调制的透过率可表示为 (1.2-31) 利用贝塞尔函数恒等式将上式 展开,得 (1.2-32) 由此可见,输出的调制光中含有高次诣波分量,使调制光发生畸变。为了获得线性调制,必须将高次

  46. 谐波控制在允许的范围内。设基频波和高次谐波的幅值分别为I1和I2n+1, 则高次谐波与基频波成分的比值为 (1.2-33) 若取 =1rad, 则J1 (1)=0.44, J3(1)=0.02, 所以I3 /I 1 =0.045,即三次谐波为基波的4.5%。在这个范围内可以获得近似线性调制,因而取 (1.2-34) 作为线性调制的判据。 此时 代入(1.2-32)式得 (1.2-35)

  47. 此外,在31式中 sin(△m sinωmt) 的△m若远远小于1, 则31式也变为: 由此也可得出以上同样的结论。所以为了获得线性调制,要求调制信号不宜过大(小信号调制),那么输出的光强调制波就是调制信号V=Vm sinωmt 的线性复现。如果△m <<1rad的条件不能满足(大信号调制),则光强调制波就要发生畸变。 以上讨论的纵向电光调制器具有结构简单、工作稳定、不存在自然双折射的影响等优点。其缺点是半波电压太高,特别在调制频率较高时,功率损耗比较大。

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