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电子散斑测量物体离面位移

电子散斑测量物体离面位移. 实验目的. 实验原理. 仪器介绍. 实验内容. 思考练习. 1. 实验目的. 了解和掌握电子散斑干涉术( ESPI )测量物体离面位移的方法和技术; 学会用 ESPI 测试物体的微小离面位移 。. 3. 实验原理. 电子散斑干涉术对物体离面位移测量比较敏感。由激光器发出的单束光经分光镜分成物光和参考光。这两束光相互干涉,形成合成光强。物光的光强分布:. 参考光的光强分布:其中 u o ( r ) 是光波 φ o ( r ) 的振幅,是经物体漫射后的物体光波的相位。 参考光的光强分布:. 两束光的合成光强为:.

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电子散斑测量物体离面位移

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Presentation Transcript


  1. 电子散斑测量物体离面位移 实验目的 实验原理 仪器介绍 实验内容 思考练习

  2. 1.实验目的 • 了解和掌握电子散斑干涉术(ESPI)测量物体离面位移的方法和技术; • 学会用ESPI测试物体的微小离面位移。

  3. 3.实验原理 电子散斑干涉术对物体离面位移测量比较敏感。由激光器发出的单束光经分光镜分成物光和参考光。这两束光相互干涉,形成合成光强。物光的光强分布: 参考光的光强分布:其中uo(r)是光波φo(r)的振幅,是经物体漫射后的物体光波的相位。 参考光的光强分布:

  4. 两束光的合成光强为: 当物体发生变形后,物体表面各点的散斑场振幅uo(r)基本不变,而相位φo改变为φo-Δφ(r),即U’o= uo(r) exp[φo-Δφ(r)],变形前后的参考光波维持不变。这样,产生位移后的合成光强为:

  5. 对变形前后的两个光强相减处理: 可见,得到的光强包含有高频载波项和低频条纹。该低频条纹取决于物体变形引起的光波相位改变。当Δφ=2kπ时, =0,及出现暗条纹。 由光波相位改变与物体变形的关系:

  6. 其中λ是所用激光波长,θ是照明光与物体表面法线的夹,d1是物体变形的离面位移,d2是物体变形的面内方向位移。其中λ是所用激光波长,θ是照明光与物体表面法线的夹,d1是物体变形的离面位移,d2是物体变形的面内方向位移。 在照明角度较小的情况下,既cosθ≈1,sinθ≈0,相位变化可简化为: 当 当 =2kπ(出现暗条纹)时, 即,黑条纹处的离面位移是半波长的整数倍。

  7. 2.实验仪器 实物示意图:

  8. 透镜 激光器:激光相干性很好

  9. 扩束镜 反射镜 分光镜

  10. 图像采集卡 CCD:能够把光学影像转化为数字信号

  11. 各个部件整体组装示意图: 图1.实验光路图

  12. 4.实验内容 1.选择被测物1或被测物2作为测试对象,按图摆好光路,并调 整光路; 2.拍摄测试物体变形前的散斑图,保存; 3.让被测物1或2产生形变,拍摄测试物变形后的散斑图,保存 4.将变形前后的两张图片进行数字图形相减,二值化、手动拟 和或自动拟和,应用测试软件得出物体变形产生的离面位移, 并用三维立体图表示出来。 5. 撰写实验报告,对测量结果进行不确定度分析。

  13. 5.思考练习 • 电子散斑测物体离面位移的精度由什么因素决定? • 电子散斑测物体离面位移的不确定度由什么因素来决定? • 此实验测出的离面位移是绝对位移吗?如何确定0级暗条纹?

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