1 / 10

Наталья Владимировна Николина НИИСИ РАН

Современные тенденции оценки и контроля производительности микропроцессоров на стадии их разработки. Наталья Владимировна Николина НИИСИ РАН. Содержание. Уравнение производительности Тесты производительности Процесс разработки микропроцессора Аналитические модели Потактовые эмуляторы

cuyler
Download Presentation

Наталья Владимировна Николина НИИСИ РАН

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Современные тенденции оценки и контроля производительности микропроцессоров на стадии их разработки Наталья Владимировна Николина НИИСИ РАН

  2. Содержание • Уравнение производительности • Тесты производительности • Процесс разработки микропроцессора • Аналитические модели • Потактовые эмуляторы • RTL-моделирование • ПЛИС-прототипы и тестовый запуск • Заключение

  3. Уравнение производительности «Железный Закон» производительности процессора:

  4. Тесты производительности

  5. Процесс разработки микропроцессора

  6. Аналитические модели • Эмпирическое моделирование • Предполагает в качестве входных параметров статистические данные, полученные в результате потактового моделирования. • Механистическое моделирование • Модель оценивает производительность процессора, основываясь на ключевом наборе метрик архитектуры и приложений. Эти метрики определены в спецификации.

  7. Потактовые эмуляторы

  8. RTL-моделирование • Микротесты: • Оценка длительности единичных инструкций, проверка ее соответствия требованиям спецификации; • Длительность обработки промахов и попаданий в кэш-память разных уровней для инструкций загрузки/сохранения; • Задержки конвейера в случае зависимых инструкций; • Сигнатура; • Контроль IPC для базы функциональных тестов; • Профилирование.

  9. ПЛИС-прототипы и тестовый запуск

  10. Заключение • Рассмотрены различные методы оценки и контроля производительности разрабатываемых микропроцессоров и их моделей. • Рассмотренные методы суммируют накопленный опыт измерения производительности разрабатываемых в НИИСИ РАН микропроцессоров и их моделей. • По данным методам авторами создана система регрессионного измерения производительности, позволяющая контролировать производительность на всех этапах разработки

More Related