280 likes | 534 Views
CHIP VARISTOR--Varistor ESD. 1. 靜電發生之電壓高低 2. ESD HUMAN BODY MODELING 3. 半導體器件在 ESD 電壓沖繫下,崩潰電壓範圍 4. IC Device 在 ESD 實驗下之結果 5. ESD 對策方法 6. ESD 測定對應 7. 加入回路保護元件之效果 8. 對 ESD 保護電壓準位之測定回路 9. 實驗結果 10. 抑制元件安裝位置與 ESD 改善效果. 目錄. PART A : ESD 對策.
E N D
1. 靜電發生之電壓高低 2. ESD HUMAN BODY MODELING 3. 半導體器件在ESD電壓沖繫下,崩潰電壓範圍 4. IC Device在ESD實驗下之結果 5. ESD 對策方法 6. ESD 測定對應 7. 加入回路保護元件之效果 8. 對 ESD 保護電壓準位之測定回路 9. 實驗結果 10. 抑制元件安裝位置與ESD改善效果 目錄 PART A : ESD對策
PART B : SURGE SOLUTION 1.接入 Surge Absorber Device的效果測試 2. VARISTOR 的電壓電流特性 3. VARISTOR 的選擇方法 4. 各種 Varistor 的特性
2. 靜電發生模式: 人体MODEL: 因人体活動時產生 電位MODEL : 因電磁場誘導而產生 帶電器件 MODEL : 充電的電荷放電時發生
2. ESD HUMAN BODY MODE IEC1000-4-2 ESD TEST STANDARD GUN
4. IC Device在ESD實驗下之結果 各類IC之崩潰電壓關係 Failue Voltage (V) IC 種類
50Ω衰減機 放入SURGE吸收元件 DIGITAL OSC ESD 實驗機 6. ESD 測定對應 * OPEN CIRCUIT 測試, 請使用 P6015A儀器 * SHORT CIRCUIT 測試, 請使用P6015A儀器,為求測試精確, 並請使用 1GHZ 頻寬之PROB(探針頭)
LS HC 在同一回路中,限流阻抗變化時,被保護的元件崩潰破壞電壓比較
PART B: SURGE Solution 1. 接入 SURGE Absorber Device的效果測試
VA2012L 接入 Peak 10 kV Peak 40V 50V/dev 2000V/dev 30uS/dev 30uS/dev Open circuit voltage 接入Varistor時之 Clamping效果
Input : 500 V 10 A Current 特性 Voltage Clamping 特性
2. VARISTOR 的電壓電流特性 Varistor voltage Working voltage
3. VARISTOR 的選擇方法 AC電源 LINE 110 V 系列 220 V 系列 SURGE 對策位置 DC 5V (以下) DC 電源 LINE DC 12V 系列 車輛用 一般使用 其它 電話回路 Signal LINE 屋外 信號 BOARD 屋內
4. 各種 Varistor 的特性 CHIP VARISTOR : 用於ESD回路. 防止功能喪失Failue 去除信號線的Burst/EFT 用於電源2次側之Surge消除 抑制電源開關產生之突波(Surge) 特性: 可低電壓操作 (低 Vc 值) 與其它Device比較時,有更快.更好之頻率響應.
CHIP SURGE ABSORBER : 防止因ESD造成之Circuit Failue • 或誤動作之元件.) • 特性: • 有極小之 Cp 值 ( 1pF 以下, 3pF以下) • 快速頻率反應 • 一般Varistor無法應用之超高速回路. • (一些公司用於天線回路保護上)
CHIP VARISTOR ARRAY :并行信號線上之ESD, EFT/Burst 雜訊消除使用 特性:并行Data Line的ESD, EFT/Burst去除用 使用全球首先成功應用之鍍金技術 體積輕小
VARISTOR 內裝型CHIP LC FILTER : 低通濾波器與ESD. EFT/BURST. SURGE可同時去除. 因而開發之新產品 特性: 有VARISTOR 及 SURGE 抑制元件效果 有EMI FILTER 之同樣效果 貼片型體輕小型 (2012~ 3216 SIZE)
VL SERIES VARISTOR 用於高頻信號線上 低雜散電容型上之Varistor 用於信號線上之ESD. EFT / BURST 的去除 特性: 高速頻率響應 低Cp值,可應用於高頻回路上