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第一单元 基础测试性实验

实验一 TTL 、 HC 和 HCT 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试. 第一单元 基础测试性实验. 1. 2. 3. 5. 4. 4. 1. 2. 3. 5. 实验一 TTL 、 HC 和 HCT 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试. 1 ．实验目的 (1) 掌握 TTL 、 HC 和 HCT 与非门主要参数的意义和测试方法。 (2) 加深对 TTL 、 HC 和 HCT 集成逻辑门的逻辑功能的认识。 (3) 掌握 TTL 、 HC 和 HCT 器件的传输特性。. 预习要求. 4. 1. 2. 3. 5.

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第一单元 基础测试性实验

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  1. 实验一 TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 第一单元 基础测试性实验 1 2 3 5 4

  2. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 1．实验目的 (1)掌握TTL、HC和HCT与非门主要参数的意义和测试方法。 (2)加深对TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能的认识。 (3)掌握TTL、HC和HCT器件的传输特性。 预习要求

  3. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 2．预习要求 （1）复习TTL和CMOS与非门主要参数的意义和测试方法。 （2）熟悉TTL和CMOS与非门的外引线排列。 （3）借助EWB仿真软件检验设计结果，并做出分析。 （4）完成预习报告。 实验仪器

  4. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 3．实验仪器： （1）信号发生器一台、示波器一台。电流表万用表各一块； （2）实验电路板一块； （3）元器件及导线若干； 实验内容

  5. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 4．实验内容： （1） 测试TTL和CMOS与非门的主要参数ICCH、ICCL、IIS和NO。 （2）测试平均传输延迟时间tpd。 （3）测试TTL和CMOS与非门的电压传输特性。 （4）测试TTL和CMOS与非门的逻辑功能。 实验电路

  6. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 5．实验电路： 图(一)扇出系数测试 图(二)用环行振荡器测tPd 实验电路

  7. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 图(三)电压传输特性 图(四)IIS的测试 选做题目

  8. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 6．选作题目 (1) 根据CMOS门电路的主要参数定义，设计测试电路，对74HC00的参数进行测试。 (2) 用TTL或CMOS门设计单稳触发延时电路，要求延迟时间tp=1s，用LED显示。 教学意图

  9. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 8．教学意图 • TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试是数字电子技术的基础测试性实验。要求学生掌握TTL、CMOS与非门等电路主要参数的测试方法。 思考题

  10. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 9．思考题 (1) TTL和CMOS与非门不用的输入端应如何处理？ (2) 为什么TTL与非门的输入端悬空相当于逻辑高电平？ (3) 测量扇出系数NO的工作原理是什么？ (4) 在什么情况下与非门输出高电平或低电平？其电压值分别等于多少？ (5) 集成电路有关引脚规定接高电平，在实际电路中为什么不能悬空，而必须接VCC。

  11. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 (6) CMOS器件与一般TTL器件有什么不同？ (7) 在什么场合下选用CMOS器件？ (8) CMOS输入端电流可以超过1mA吗？为什么？ (9) 两个TTL与非门输出并接会产生什么现象？ (10)  TTL电源电压允许的波动范围是多少，若超过其范围会产生什么现象？低于其范围会产生什么现象？ 参考文献

  12. 4 1 2 3 5 实验一TTL、HC和HCT集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 10.参考文献 (1)数字逻辑与数字系统题解、题库与实验，白中英，北京：科学出版社，2001年。 (2)电子技术基础实验，陈大钦，武汉：华中科技大学出版社，2001年。

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