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8.1 数据域测量 8.1.1 数据域测量的基本概念 8.1.2 数据域测量技术 8.2 逻辑分析仪 8.2.1 概述 8.2.2 逻辑分析仪的工作原理 8.2.3 逻辑分析仪的显示

8.1 数据域测量 8.1.1 数据域测量的基本概念 8.1.2 数据域测量技术 8.2 逻辑分析仪 8.2.1 概述 8.2.2 逻辑分析仪的工作原理 8.2.3 逻辑分析仪的显示 8.2.4 逻辑分析仪的基本应用. 8.1 数据域测量. 8.1.1 数据域测量的基本概念. 1. 数据域测量的特点 数据域测试 —— 检测数字系统或设备输入与输出对应的数据流关系 , 分析系统功能是否正确 , 判断有无故障及故障范围。 包括： 数字系统或设备的故障检测、故障定位、故障诊断以及数据流的监测和显示。 数据域测试设备主要有：

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8.1 数据域测量 8.1.1 数据域测量的基本概念 8.1.2 数据域测量技术 8.2 逻辑分析仪 8.2.1 概述 8.2.2 逻辑分析仪的工作原理 8.2.3 逻辑分析仪的显示

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  1. 8.1 数据域测量 • 8.1.1 数据域测量的基本概念 • 8.1.2 数据域测量技术 • 8.2逻辑分析仪 • 8.2.1 概述 • 8.2.2 逻辑分析仪的工作原理 • 8.2.3 逻辑分析仪的显示 • 8.2.4 逻辑分析仪的基本应用

  2. 8.1 数据域测量 • 8.1.1 数据域测量的基本概念 1.数据域测量的特点 数据域测试——检测数字系统或设备输入与输出对应的数据流关系, 分析系统功能是否正确, 判断有无故障及故障范围。 包括： 数字系统或设备的故障检测、故障定位、故障诊断以及数据流的监测和显示。 数据域测试设备主要有： 逻辑分析仪、特征分析仪和激励仪器、微机及数字系统故障诊断仪、在线仿真器、数据图形产生器、微型计算机开发系统、印刷电路板测试系统等。 2.数字信号的特点 （1）数字信号一般为多路 （2）数字信号按时序传递 （3）数字信号的传递方式 （4）数字信号的非周期性 （5）数字信号频率范围宽 （6）数字信号为脉冲信号

  3. 8.1.2 数据域测量技术 图8-1 基本逻辑部件的测试 1.简单逻辑电路的简易测试 (1) 基本逻辑部件的测试 (a)与门 (b)或门 (c)非门

  4. 表8.1 基本逻辑部件测试真值表

  5. 表8-2 逻辑笔测试响应 • （2）逻辑笔的应用 图8-3选通脉冲的作用

  6. 2.穷举测试法 • 对n位输入端加入2n种可能的组合信号，观察输出是否正确。如果对所有的输入信号，输出信号的逻辑关系是正确的,则数字电路就是正确的；否则；数字电路是错误的。 • 3.伪穷举测试法 • 把一个大电路划分成多个子电路，对每个子电路进行穷举测试。例如，当n=16时，如果将该电路划分成两个n=8的数字电路，则测试输入组合数为28+28=256+256=512，测试时间降低为原测试时间的1/128。 • 4.随机测试法 • 采用“随机测试矢量产生”电路随机地产生输入可能的组合数据流，加到被测电路和已知功能完好的参考电路中，对它们的输出进行比较，根据比较结果，给出“合格/失效”的指示。 返回

  7. 8.2 逻辑分析仪 • 逻辑分析仪是研究和测试数字电路，对数字系统进 • 行逻辑分析的重要工具，由于它以荧光屏显示的方式给 • 出测试结果，因而也称为逻辑示波器。 • 8.2.1概述 • 1.逻辑分析仪的主要特点 • 为满足数据流的检测要求，逻辑分析仪应具有以下 • 主要特点： • （1）具有足够多的输入通道 • （2）具有多种灵活的触发方式 • （3）具有记忆功能 （4）具有负延迟能力 • （5）具有限定功能 （6）具有多种显示方式 • （7）具有驱动时域仪器的能力 • （8）具有可靠的毛刺检测能力

  8. 2.逻辑分析仪的分类 • 逻辑分析仪按取样、显示方式和使用场合可分为两大类： • 逻辑状态分析仪——用于对数字系统状态的分析,是跟踪、调试程序、分析软件故障的有力工具。 • 逻辑定时分析仪——用于观察数字信号的传输情况与时序关系,主要用于数字设备硬件的分析、调试、故障诊断和维修。 • 既可以用作状态分析，也可以用作定时分析，称为通用逻辑分析仪。 • 逻辑分析仪中采用微处理器来代替逻辑控制电路，称为智能逻辑分析仪。 • 按仪器工作性能，逻辑分析仪又可分为高、中、低三个挡次。

  9. 8.2.2 逻辑分析仪的组成和工作原理 1.逻辑分析仪的组成 • 2.逻辑分析仪的触发方式 • （1）组合触发（2）延迟触发 （3）限定触发 • （4）序列触发（5）计数触发 （6）“毛刺”触发 图8.4 逻辑分析仪的基本组成框图 图8.5组合触发逻辑波形图

  10. 3.逻辑分析仪的显示形式 (1) 定时图显示 (2) 状态表显示 图8.6 定时显示图 图8.7 状态显示图

  11. (3) 图像显示 图8.8 BCD计数器图像显示图 (4) 映射显示 图8.9 映射显示图

  12. 图8.10 程序存储器与地址映射图对照

  13. 8.2.3逻辑分析仪的应用 • 1.测试数字集成电路 • 将数字集成电路芯片接入逻辑分析仪中，选择适当的显示方式，得到具有一定规律的图像。如果显示不正常，可以通过显示过程中不正确的图形，找出逻辑错误的位置。 图8.11 测量RAM2114的连线图

  14. 2.逻辑分析仪诊断数字系统故障的实例 （1）测试逻辑部件的状态表、时序图，并可捕捉毛刺干扰。T19-23型通用十进制计数板的组成框图及其与逻辑分析仪（LA）的连接电路如图8.12所示。 图8.12 T19-Z3的组成及其与LA的连接图

  15. 当计数频率在80KHz以下时，电路工作正常，测试结果如图8.13(a)、(b)。当计数频率在80KHz以下时，电路工作正常，测试结果如图8.13(a)、(b)。 图8.13 定时波形及状态表

  16. 测试电路改为图8.14(a)。在“并行定时”情况下测试电路改为图8.14(a)。在“并行定时”情况下 • 启动“锁存”键,以便捕捉毛刺干扰。测试结果如图8.14（b）所示，当计数值从7（0111）变到8（1000）时，在a、c译码线上出现毛刺干扰。 图8.14 测试电路及波形图

  17. （2）检查程序不能正确执行的原因 • 故障现象：有一个用BCD计数寄存器所控制的程序序列，不能正确执行。为了寻找故障原因，对控制寄存器的工作情况进行以下检测。 • ①逻辑功能测试 • 表8.3 状态表

  18. ②定时波形检测 定时波形检测如图8.15所示。 图8.15 定时波形检测

  19. ③测定子程序运行时间及调用次数 • 利用LA可以跟踪、剖析程序，并可以测定子程序运行时间及调用次数。 • 若某子程序的出口地址为3FFFF，入口地址为01FFFF，利用特殊显示方式“地址检索”可以得出如表8.4所示结果。 • 表8.4 地址检索 返回

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