第八节 影像质量管理应用简介

1. 第八节 影像质量管理应用简介

2. 关于影像质量管理的具体应用是很多的，也是很复杂的。有的是规范的，有的尚在制定过程中。具体的影像质量管理操作规范是非常重要的，它是影像质量管理的具体实现，有关X线机设备的、CT、MR等成像设备的管理应用监测工作，将在其他有关章节中介绍，本章介绍的仅是部分影像质量管理应用检测工作。

3. 一、阅片条件的检测 • 阅片条件的检测工作，是指检测阅片灯亮度和阅片的环境照度（illuminance in reading room；IRR），使之有利于阅片医师眼睛观察到影像显示出的信号，不至于因阅片条件不符合要求，而使影像上已有信号却显示不出。这项工作往往被疏忽了。

4. （一）阅片灯亮度的检测 • 1.检测的依据 根据人眼的生理特点，医师的阅片诊断能力，在视觉灵敏度一定范围内随光照度的增加而提高，且与光强度的对数值成正比。但达到一定数值时，上升速度减慢并趋于饱和；然后，光照度再增加，视读能力不但不再上升，反而逐渐下降。1995年欧共体组织制定的综合像质评价标准规定：经X线照片入射到医师眼中的光强度应保持在100cd/m2左右，换算为照射单位（乘以系数π），约为314Lx.由于照片密度D的定义为入射光强Io与透过光强I比值的对数，即： • D=Lg(Io/I) • 由此式可知： • I=Io/10D

5. 由此式不难算出，当照片的D=0.6（低密度片），阅片灯的亮度，即照片的入射光强Io为1300Lx，透过照片入人眼的光强约为100cd/m2；而当照片密度D=1.2（中密度片）阅片灯亮度在5000Lx时，透过照片入人眼的光强也约为100cd/m2，恰好在标准规定的数值范围内。由此式不难算出，当照片的D=0.6（低密度片），阅片灯的亮度，即照片的入射光强Io为1300Lx，透过照片入人眼的光强约为100cd/m2；而当照片密度D=1.2（中密度片）阅片灯亮度在5000Lx时，透过照片入人眼的光强也约为100cd/m2，恰好在标准规定的数值范围内。

6. 通过ROC曲线检测方法，经过统计学数据处理结果表明：用1000Lx的阅片灯阅读低密度值的照片信号读出率最大，和用2000～40000Lx阅片灯时，无显著性差异，而用5000Lx的阅片灯时则有显著性差异；阅读中密度值照片信号时，用5000Lx时信号读出率最大，与用3000～6000Lx时的信号读出率无显著性差异，用2000Lx和7000Lx时有显著性。由此可知：用40005000Lx阅片灯的照度范围，可同时满足低、中密度阅片要求（与最大信号读出率相比无显著性差异）。而对于高密度值的照片，阅片灯亮度调节到最大亮度8000Lx时亦难以满足需求；若要扩大识别范围，必须另配8000Lx以上的强光灯。通过ROC曲线检测方法，经过统计学数据处理结果表明：用1000Lx的阅片灯阅读低密度值的照片信号读出率最大，和用2000～40000Lx阅片灯时，无显著性差异，而用5000Lx的阅片灯时则有显著性差异；阅读中密度值照片信号时，用5000Lx时信号读出率最大，与用3000～6000Lx时的信号读出率无显著性差异，用2000Lx和7000Lx时有显著性。由此可知：用40005000Lx阅片灯的照度范围，可同时满足低、中密度阅片要求（与最大信号读出率相比无显著性差异）。而对于高密度值的照片，阅片灯亮度调节到最大亮度8000Lx时亦难以满足需求；若要扩大识别范围，必须另配8000Lx以上的强光灯。 • 综上所述，医师阅片对阅片灯的要求是：阅片灯照度应该是可调的，可调范围2000～6000Lx。除此之外，阅片时还应该设有强光灯，以备阅读高密度的照片影像。

7. 2．检测方法 每天在医师阅片前，按照度正确操作（如风光牌ZF-2型照度计），对阅片灯进行检测，当阅片灯亮度低于2000Lx时，应考虑更换；检测阅片灯时还要看亮度均匀程度，卫生部的有关文件标准是不均匀度为30%，不均匀度超过30%也应考虑更换。 • （二）环境照度的检测 • 1.检测的依据 外来的光线会降低影像对比度，即影像上已显示的信号，有可能因外来光线降低了信号对比度而视读不出来被遗漏了。

8. 通过试验检测表明：①用ROC曲线检测最大信息量方法证明：不论用观测低密度的观片灯（1000Lx），还是观测高密度的观片灯（5000Lx），都是低环境照度条件下比高环境照度条件下获得最大信息量大，而且对低照度阅片灯影响最大，其差别可达最大信息量的1/2；②用0.6～10Lx/mm矩形波图卡，用胸部条件制作矩形波分辨力照片影像，其数据通过统计学统计表明：用观察低密度照片的阅片灯（1000Lx）时，在低环境照度条件下视读出的分辨力为1.8～2.8LP/mm，平均2.35LP/mm，而在高环境照度下视读出分辨力为1.8～2.5LP/mm，平均2.20LP/mm，两者有显著性差异，同样，用高照度观灯片（5000Lx），分别在低环境和高环境照度下视读出分辨力亦具有显著性差异。现在推荐阅片室内的环境照度只有在50～100Lx之间尚符合要求。这也就是现在提倡尽量使用高性能的阅片灯在低环境照度条件下进行阅片的道理。通过试验检测表明：①用ROC曲线检测最大信息量方法证明：不论用观测低密度的观片灯（1000Lx），还是观测高密度的观片灯（5000Lx），都是低环境照度条件下比高环境照度条件下获得最大信息量大，而且对低照度阅片灯影响最大，其差别可达最大信息量的1/2；②用0.6～10Lx/mm矩形波图卡，用胸部条件制作矩形波分辨力照片影像，其数据通过统计学统计表明：用观察低密度照片的阅片灯（1000Lx）时，在低环境照度条件下视读出的分辨力为1.8～2.8LP/mm，平均2.35LP/mm，而在高环境照度下视读出分辨力为1.8～2.5LP/mm，平均2.20LP/mm，两者有显著性差异，同样，用高照度观灯片（5000Lx），分别在低环境和高环境照度下视读出分辨力亦具有显著性差异。现在推荐阅片室内的环境照度只有在50～100Lx之间尚符合要求。这也就是现在提倡尽量使用高性能的阅片灯在低环境照度条件下进行阅片的道理。

9. 2.检测方法 在医师阅片前，对阅片室内环境照度进行检测，如果在50～100Lx范围内认为合理，如果大于100Lx，就必须用布窗帘遮光，减低外来光线强度，调整至在100Lx以内，视为合格。 • 二、屏-片组合应用质量检测 • 屏-片组合或称屏-片系统，是X线成像设备中重要的器材。应用屏-片组合最大的效果是增加胶片的感度、降低病人接受X线检查的剂量和提高影像对比度。为达此目的必须掌握和检测屏-片组合的质量。

10. （一）增感屏相对感度的检测 • 屏-片组合增感屏有增感作用，但在实际应用中多用相对感度，即以中速增感屏的感度作为100（基数），与其他增感屏相比，所得倍数称感度比或者相对感度。如稀土类Gd2O2S:Tb屏是中速CaWO4屏的4.5倍，常称其相对感度为450，现在的问题是：①购买了新的增感屏其商品标称相对感度值准确吗？如购买的日本产的高清度增感屏FS-V，中速增感屏MS-V，高速增感屏HS-V，超高速增感屏SS-V与感蓝NEWX胶组合，标称相对感度分别为：100、160、250、320等；②更换增感屏时，新的屏-片组合与原屏-片组合的感度比（也可称相对感度），需要进行检测，以确认摄影时曝光量。

11. （二）屏-片组合密着状态的检测 • 1.检测的依据 增感屏的荧光体层厚约为16～20μm，荧光体的粒子径较大：高清晰度增感屏（FS）的平均4～5μm，高速增感屏（HS）的平均10～12μm。当增感屏接受X线，荧光体层放光，有一定体积的荧光体颗粒发出的光不是一个点，而是发光体，再加荧光体层有厚度，使到达胶片上的光线比荧光体颗粒投影面还要大，照片影像上本来是一个点的地方变成面，使影像清晰度差。再加上荧光交叠效应和斜射效应的影响，使照片影像变模糊。假若增感屏和胶片接触不良，哪怕是很小孔隙，就会加大影像模糊，使影像上的显示的信息量丢失严重，图7-22表示的是当增感屏与胶片接触时仅有0.1mm、0.2mm和0.3mm距离时信息传递功能降低的程度。

13. 2.检测方法 ①测试前必须认真清洁被检暗盒中的增感率，同时也要清洁暗盒所有的内表面，待15min时间自然晾干，然后装入胶片，再待15min左右使暗盒内空气排出；②用1mm厚的钢板或铜板制成一个检测板：板的大小以完全遮住暗盒，在上面均匀地每隔4mm制成一个直径为2.5mm孔，在板的中央制成一个直径为13mm的孔。或用IEC的标准制作的检测板：直径为0.5mm的铜丝和锌丝制成的均匀金属网板，2个网格中心距离为同铜直径的6倍，在板的中央制作一个直径为1cm的圆孔或1cm×1cm的方框，金属网板的大小应完全遮盖暗盒；③不管用哪一种检测板，都要将检测板置于暗盒上面，并确保检测板面与暗盒面平行密着；

14. ④调整照射野大小，是中心线垂直对准暗盒中心（检测板中心）；⑤曝光条件60kV以下，FFD为100～200cm之选择，曝光量大小控制在中心小圆孔区域的密度值为2.0左右；⑥冲洗照片；⑦将检测板照片置于观片灯上，在200～300cm距离处观察照片屏-片密着不良的地方，即网格和圆孔影像上有无暗区。有暗区表示对应暗区的暗盒中屏-片不密着接触，若暗区小于1cm2可以接受，若大于1cm2或有多个区域，则不可接受。待重复以上检测试验，再次证明时（几次实验照片进行对比），就需更换增感屏或暗盒。注意用眼睛观察出检测板上照片有暗区时，要用密度测量，以判断密着不良的程度。④调整照射野大小，是中心线垂直对准暗盒中心（检测板中心）；⑤曝光条件60kV以下，FFD为100～200cm之选择，曝光量大小控制在中心小圆孔区域的密度值为2.0左右；⑥冲洗照片；⑦将检测板照片置于观片灯上，在200～300cm距离处观察照片屏-片密着不良的地方，即网格和圆孔影像上有无暗区。有暗区表示对应暗区的暗盒中屏-片不密着接触，若暗区小于1cm2可以接受，若大于1cm2或有多个区域，则不可接受。待重复以上检测试验，再次证明时（几次实验照片进行对比），就需更换增感屏或暗盒。注意用眼睛观察出检测板上照片有暗区时，要用密度测量，以判断密着不良的程度。

15. （三）屏-片组合性能的检测 • 屏-片组合是模拟X线成像的重要设备。不同类型的增感屏与不同类型的X线胶片进行组合；其成像性能有显著的差异，检测其成像性能参数是重要的QM内容，在临床应用中有着重要意义。屏-片组合成像性能参数主要指：分辨力、MTF、RMS、或WS。与此相关的还有：屏-片组合特性曲线的γ值、灰雾。屏-片的ROC曲线成像性能参数的解析、NEQ测试。这些成像性能中有的测试比较容易，如γ值和灰雾。有的就要受到测试条件的限制，如MTF、RMS（或WS）、ROC曲线、NEQ等。比较容易检测的在有关章节和实验中已详细讲解，在此不再赘述，对于一时难以检测的性能参数，可以通过学习国内外有关文献，掌握其物理意义。

16. 三、散射线含有率的检测 • 散射线不仅难以消除，而且降低X线照片影像信号的对比度，增加照片影像细节的模糊，为形成减少散射线的意识，检测散射线含有率是很有必要的。 • 1.检测的依据

17. 如图7-23所示铅圆片置于散射体上，曝光时,X线是垂直穿不过铅图片的，对应于铅圆片下面照片上的密度值Ds应该仅是照片上的灰雾值，然而由于散射体产生的散射线使胶片感光Ds增大了，将散射线形成的Ds及垂直入射X线形成的密度值Dp，用胶片特性曲线转换为X线量Es和Ep，散射线的含油率用S来表示就是：如图7-23所示铅圆片置于散射体上，曝光时,X线是垂直穿不过铅图片的，对应于铅圆片下面照片上的密度值Ds应该仅是照片上的灰雾值，然而由于散射体产生的散射线使胶片感光Ds增大了，将散射线形成的Ds及垂直入射X线形成的密度值Dp，用胶片特性曲线转换为X线量Es和Ep，散射线的含油率用S来表示就是： • S=Es/(Ep+Es)×100%

18. 由于铅图片的遮盖，这样测试的散射线含有率比实际的要小，铅圆片越大，检测出的S值就越小，相反，铅圆片越小，检测出的S值就越大，越接近真实的散射线含有率，当铅圆片为零时，检测出的S值就是真实的散射线含有率，但这是无法做到的。解决这一问题办法是：用a，b，c，d，e，f等直径不等的铅圆片（图7-24），如2mm，3mm。由于铅图片的遮盖，这样测试的散射线含有率比实际的要小，铅圆片越大，检测出的S值就越小，相反，铅圆片越小，检测出的S值就越大，越接近真实的散射线含有率，当铅圆片为零时，检测出的S值就是真实的散射线含有率，但这是无法做到的。解决这一问题办法是：用a，b，c，d，e，f等直径不等的铅圆片（图7-24），如2mm，3mm。

19. 4mm，5mm，6mm，7mm，8mm等，同时置于散射体上曝光，分别求出不同的散射体含有率值，用横坐标表示铅圆片的直径，用纵坐标表示散射线含有率，制成如图7-25所示的曲线，将曲线延伸（注意要光滑）与纵坐标相交，交点代表真实的S值，这一方法叫外插法。4mm，5mm，6mm，7mm，8mm等，同时置于散射体上曝光，分别求出不同的散射体含有率值，用横坐标表示铅圆片的直径，用纵坐标表示散射线含有率，制成如图7-25所示的曲线，将曲线延伸（注意要光滑）与纵坐标相交，交点代表真实的S值，这一方法叫外插法。

20. 2.检测方法 ①将制作好的厚为2mm不同直径如2、3、4、5、6、7、8mm铅圆片如图7-23所示置于4～6cm丙烯树脂板上（散射体其大小能遮盖暗室）；②将中速CaWO4屏-片组合位于丙烯酸树脂板下；③用80kV的管电压，150cm的FFD，0.5mmCu+1mmAl的附加滤过，调整mAs的大小，使曝光后冲洗出照片尚未被铅遮盖出的密度值为1.5左右；④用铝阶法或距离法制作所应用屏-片组合的特性曲线，并按图7-35-2所示方法，将Ds、Dp转换为Es、Ed；⑤用S=Es/(Ep+Es)×100%公式计算出不同铅圆片出测得的散射含有率；⑥在横坐标代表铅圆片直径大小，纵坐标代表S值的坐标中绘制散射线含有率曲线图，用外插法求出真实散射线含有率值。

21. 四、CR的输出特性曲线的检测 • 检测CR的输出特性曲线，象检测屏-片组合的特性曲线一样，是了解、熟悉、掌握CR成像特性的重要内容之一。 • （一）CR的特性曲线的特点 • 屏-片组合仅有一条特性曲线。而CR系统有4条特性曲线：数字特性曲线、校正特性曲线、CR胶片曲线和总特性曲线（图7-26）。

23. 其中数字特性曲线反映的是输入的相对X线强度与影像读出装置中输出的像素值之间的关系，对一般用户而言，像素值是不可测的。临床应用中更加关心的是描绘最后输出总特性曲线。其中数字特性曲线反映的是输入的相对X线强度与影像读出装置中输出的像素值之间的关系，对一般用户而言，像素值是不可测的。临床应用中更加关心的是描绘最后输出总特性曲线。 • 测试CR系统的总特性曲线时，由于IP板的特性，不出现象测试屏-片组合特性曲线时的“互易律失效”现象。故可采用固定距离变动时间曝光法。这样测试不仅与距离法（距离变换为40～400cm）测试效果相同，而且适合医院的CR机房不够大的条件。

24. CR系统总的特性曲线虽然受到多个谐调处理参数的影响，但对于影响最大的是GA，GA对照片影像对比度影响最大，采用不同的GA值，可测试除斜率不同的绕设定的GC转动的数条总特性曲线（图7-27）。CR系统总的特性曲线虽然受到多个谐调处理参数的影响，但对于影响最大的是GA，GA对照片影像对比度影响最大，采用不同的GA值，可测试除斜率不同的绕设定的GC转动的数条总特性曲线（图7-27）。

25. GA变化时总特性曲线的平均斜率发生了改变，这表明在CR影像处理中可通过GA变化达到改变CR照片影像对比度的目的，从而满足临床的要求。CR系统总特性曲线的测试对临床有一定的指导意义。GA变化时总特性曲线的平均斜率发生了改变，这表明在CR影像处理中可通过GA变化达到改变CR照片影像对比度的目的，从而满足临床的要求。CR系统总特性曲线的测试对临床有一定的指导意义。

26. （二）CR的总特性曲线的检测 • CR的总特性曲线的检测方法是：①用70kV的管电压（附加率过0.5mmCu+1.0mmAe），50mA管电压，焦点至IP板的距离150cm，曝光时间分别为0.01s、0.2s、0.04s、0.08s、0.16s、0.32s、0.64s和1.28s分别对3cm×3cm照射野曝光；②CR的影像处理条件：固定GC=1.6、层次变化GS=-0.2、RN=4、RT=R和RE=0.5等参数，GA分别取0.8，1.4，和2.4获得3张光学密度楔；③用光密度计分别测量3张照片中各级光学密度楔的平均密度值，用纵坐标表示密度值，横坐标表示相对曝光量对数值(logRE)，如同作屏-片组合的特性曲线一样绘制不同GA值的CR系统的总特性曲线。

27. 五、CR的后处理功能对影像噪声显示影响的检测五、CR的后处理功能对影像噪声显示影响的检测 • （一）影响CR的影像噪声显示因素 • 形成CR系统噪声的原因比屏-片组合的复杂，在前面有关章节中已叙述。本节注重介绍影响CR的影像噪声显示的后处理功能中的主要参数。CR的图像后处理中层次处理的GA、GT、GC、GS和频率处理的RN、RT、RE等7个参数，对影像噪声的显示都有直接或间接的影响，但是从临床应用上看，GA和RE影响最大，这是因为GA时影响影像对比度的参数，随着GA的增加，影像对比度增加，同时影像的噪声便大；RE与其他频率处理技术一样，是一种边缘锐利技术，可通过对频率响应的调节突出边缘组织的锐利轮廓，这与屏-片组合的频率越高，频率的响应却越小不同，CR可以根据影像显示效果的需要来控制频率的响应。如提高影像高频成分的频率响应，就增加了此部分的对比，但在这一频率上影像对比增加的同时，影像上噪声显示也增多了。

28. （二）CR系统总WS的检测 • 1.实验检测设备 X线机、CR装置、IP、激光打印机、CR胶片、显微密度计（扫描孔径0.01mm×1.00mm）、WS计算软件。 • 2.实验方法 • （1）摄影条件：70kV、附加滤过0.5mmCu＋1.0mmAl，FFD=150cm，选择适宜mAs对IP板曝光，通过CR影像处理后，激光打印出的CR照片密度值D=1.0±0.05；

29. （2）影像处理：A.固定可改变影像对比度的谐调处理参数GA=0.8，GT=E，GC=1.6，GS=-0.2；B.改变影响影像锐利度的空间频率处理参数RN=0、5、9，RT=P、T、F、R，RE=0.5、1.0、1.5，取得10张CR粒状性照片。C.固定空间频率处理参数PN=5，RT=R，RE=1.0及部分谐调处理参数GT=E，GC=1.6，GS=-0.2，改变GA=0.8、1.5取得2张CR粒状性照片。（2）影像处理：A.固定可改变影像对比度的谐调处理参数GA=0.8，GT=E，GC=1.6，GS=-0.2；B.改变影响影像锐利度的空间频率处理参数RN=0、5、9，RT=P、T、F、R，RE=0.5、1.0、1.5，取得10张CR粒状性照片。C.固定空间频率处理参数PN=5，RT=R，RE=1.0及部分谐调处理参数GT=E，GC=1.6，GS=-0.2，改变GA=0.8、1.5取得2张CR粒状性照片。

30. 3.WS的测试和数据处理 ①将12张实验照片置于显微密度计测试台上进行扫描，扫描速度为0.1mm/s，测试的噪声抽样中心为10cm×10cm。扫描分别沿主扫描（与激光扫描方向平行）和副扫描方向（与激光扫描方向垂直）进行，在每个方向上扫描10cm，显微密度计停下并回到原扫描处，垂直向下移10mm，再扫描10cm，如此扫描10次，每次1万个数据，共得10万个数据。②扫描过程中，将计算机通过模拟数字转化卡（即A/D卡）与显微密度计相联，可对扫描过程中数据信号监控，并用编制的专用WS计算软件来处理WS值：用快速傅立叶法计算，抽样间隔0.01mm，抽样长度81.92mm，程序段长1024点（重叠点512），并用三角窗口进行周波数的平滑处理。

37. 表7-5仅变化RN时WS随着空间频率变化的情况

38. 六、CR后处理功能对影像信息量显示影响的检测六、CR后处理功能对影像信息量显示影响的检测 • （一）影响CR的影像信息量显示的因素 • 决定CR成像系统输出影像的信息量多少的因素有：一是IP板的质量；二是图像后处理功能。前者决定IP的构造质量，是由制作的厂家决定的，后者则是由操作者掌握其后处理参数：GA、GT、GS、GC、RN、RE、RT的性能、组合能力水平决定的。

39. IP板的像素值大小影响输出影像的MTF和混叠误差的大小；随着CR的后处理参数GA和GS的增加，一方面使影像上的信号对比度增加，增强信号量的显示，同时，亦使影像上的噪声的对比度增加，增加了影像上噪声的显示；随着RN和RE的增大，可使影像信号的边缘锐利度增大，使影像上信号显示增强的同时，亦使影像上的噪声的锐利度增大，噪声的显示增加。由上所述可知，改变参数的后处理参数的大小，实质上是改变了影像上的SNR的大小。改动后处理参数时，既要看到参数的正效应，也要看到其负效应，只有改动恰当，组合适宜，才能使影像信息量增加。IP板的像素值大小影响输出影像的MTF和混叠误差的大小；随着CR的后处理参数GA和GS的增加，一方面使影像上的信号对比度增加，增强信号量的显示，同时，亦使影像上的噪声的对比度增加，增加了影像上噪声的显示；随着RN和RE的增大，可使影像信号的边缘锐利度增大，使影像上信号显示增强的同时，亦使影像上的噪声的锐利度增大，噪声的显示增加。由上所述可知，改变参数的后处理参数的大小，实质上是改变了影像上的SNR的大小。改动后处理参数时，既要看到参数的正效应，也要看到其负效应，只有改动恰当，组合适宜，才能使影像信息量增加。

40. （二）影响CR影像信息量显示的因素的检测 • 1.ROC曲线制作方法 • (1)实验设备：①成像设备：如X线发生装置、CT、MRI、数字成像设备等；②探测器：屏-片组合、IP、FPD等；③低对信号：选择直径为2.0mm丙烯树脂球100个作为模拟体，制成间隔也为2.0mm的空间频率为0.25LP/mm的实验材料，或购买成品模拟体；④密度计等。 • (2)获得带有检测信号的照片影像 以制作屏-片组合的ROC曲线为例将有关实验材料和设备如图7-33所示进行安排，调节曝光条件使照片影像密度值在0.7左右。

42. (3)由观测者观测带有检测信号影像的照片获得制作ROC曲线的有关数据 ①阅片室的阅片灯亮度为6000cd/m2，阅片室的环境照度调节在50Lx100Lx之间；②插上带有检测信号的影像照片后，用黑纸遮幅，减少观测者疲劳；③观测距离以50cm为宜；④观测者观测信号进行判断时间以10s18s为宜；⑤训练观测者应答时应按5值判断法回答；⑥准确记录数据，计算出TP、FP、TN、FN数值，自编软件或用Metz已开发的ROCRIT软件进行ROC分析，获得5组TPF（P（S/s））和FPF（P（S/n））数值。

43. (4)制作ROC曲线图 用横坐标代表P（S/n），纵坐标代表P（S/s），将获得的5组P（S/s）和P（S/n）数据制作ROC曲线图（图7-34）

44. 2.变动后处理参数 获得不同的影像信息量，表7-6～9中的数字是变化GA、GS、RE、RN参数的后处理参数的组合；表7-6～9数字是由表1-4变化后处理参数而获得的影像信息量大小，即ROC曲线下的面积Az的大小。纵观表7-6～9和表7-10～13中的数据可知：随着GA、GS、RN、RE的变化，获得CR的输出照片影像的信息量（Az值）是变化的，有的变大，有的变小。从Az值变化情况可掌握GA、GS、RN、RE后处理参数的性能特点，也为获得较多的CR输出照片影像的信息量提供了实验基础依据。

49. 其检测方法是：①用70kV的管电压，0.5mmCu+1.0mmAl的附加滤过，焦点至IP的距离为150cm，用铅皮遮盖IP；②平行移动铅皮，使IP露出一部分，用0.5mAs曝光，然后用另一铅皮将曝光过的IP部分遮盖起来，在平行移动铅皮露出一部分IP，用1.0mAs曝光，用上述方法使IP其他未被曝光部分，分别用2.0mAs，4.0mAs和8.0mAs曝光；③固定可以改变影像对比度的协调处理参数；GA=1.0，GT为E，GC=1.6，GS=-0.2，RN=5，RT为P，RE=0.5，输出1张实验照片；④其他谐调处理参数不变，仅改变GA=2，RE=4，再输出1张实验照片。其检测方法是：①用70kV的管电压，0.5mmCu+1.0mmAl的附加滤过，焦点至IP的距离为150cm，用铅皮遮盖IP；②平行移动铅皮，使IP露出一部分，用0.5mAs曝光，然后用另一铅皮将曝光过的IP部分遮盖起来，在平行移动铅皮露出一部分IP，用1.0mAs曝光，用上述方法使IP其他未被曝光部分，分别用2.0mAs，4.0mAs和8.0mAs曝光；③固定可以改变影像对比度的协调处理参数；GA=1.0，GT为E，GC=1.6，GS=-0.2，RN=5，RT为P，RE=0.5，输出1张实验照片；④其他谐调处理参数不变，仅改变GA=2，RE=4，再输出1张实验照片。 • 观察获得的2张实验照片，就发现GA=2，RE=4时输出的那张实验照片的噪声严重。

50. 七、噪声等价量子数和量子检出效率的检测 • （一）影响评价X线成像系统的NEQ的因素 • 由NEQ的计算公式可以看出：r值无空间频率特性，但当它乘以具空间频率响应特性的MTF之后，就可以使NEQ(w)有了空间频率响应因素；MTF（w）是成像系统线扩散函数的傅立叶变换时空间频率响应，而且随着w值增大，MTF（w）变小，其平方值就更小了，但r和MTF(w)都是平方值，故二者乘机的结果总体上看是使输出影像的对比度增大了，影像上的信号易识别了；WS增大，则NEQ减小，反之，WS减小，NEQ就增大。