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三、杂质扩散. 1. 恒定表面源扩散 扩散过程中,硅片表面杂质浓度始终不变这种类型的扩散称为 恒定表面源扩散 。 其扩散后杂质浓度分布为 余误差函数 分布. 3-8. 3-9. 2. 有限表面源扩散 扩散前在硅片表面先淀积一层杂质,在整个过程中,这层杂质作为扩散源,不再有新源补充,杂质总量不再变化。这种类型的扩散称为 有限表面源扩散。 其扩散后杂质浓度分布为 高斯函数 分 布. 3-10. 3-11. 3. 两步扩散. 3-12. 预淀积(或预扩散):温度低、时间短 主淀积(或推进):温度高、时间长 预淀积(或预扩散)现已普遍被离子注入代替. 3-13.
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三、杂质扩散 1. 恒定表面源扩散 扩散过程中,硅片表面杂质浓度始终不变这种类型的扩散称为恒定表面源扩散。 其扩散后杂质浓度分布为余误差函数分布 3-8
2. 有限表面源扩散 扩散前在硅片表面先淀积一层杂质,在整个过程中,这层杂质作为扩散源,不再有新源补充,杂质总量不再变化。这种类型的扩散称为有限表面源扩散。 其扩散后杂质浓度分布为高斯函数分布 3-10
3. 两步扩散 3-12
预淀积(或预扩散):温度低、时间短 • 主淀积(或推进):温度高、时间长 • 预淀积(或预扩散)现已普遍被离子注入代替 3-13
4.实际杂质分布(偏离理论值) 1)二维扩散 一般横向扩散(0.75~0.85)*Xj(Xj纵向结深) 3-14
Xj 0.75~0.85Xj 横向扩散 3-15
2)杂质浓度对扩散系数的影响 其中Di0 、 Di+、 Di-、Di2-分别表示中性、正一价、负一价、负二价的低浓度杂质--空穴对的本征扩散系数。 3-16
其中Di0 、 Di+(p/ni)、 Di-(n/ni)、Di2(n/ni) 2分别表示中性、正一价、负一价、负二价的高浓度杂质--空穴对的非本征条件下的有效扩散系数。 以上是考虑多重电荷空位的杂质扩散模型时,扩散衬底杂质浓度将严重影响扩散系数 3-17
3)电场效应 3-18
4)发射区推进效应 V2- :二价负 电荷空位 N+ P N- 3-19
5)热氧化过程中的杂质再分布(杂质分凝) 硼:m<1 磷:m>1 砷:m>1 3-20
6)氧化增强扩散 3-21
7)硅片晶向的影响 3-22
§2 典型扩散工艺方法 一.双温区锑扩散 • 制作双极型集成电路的隐埋区时,常用锑和砷作杂质。因为它们的扩散系数小,外延时自掺杂少,其中又因为锑毒性小,故生产上常用锑。 • 系统特点:用主辅两个炉子,产生两个恒温区。杂质源放在低温区,硅片放在高温区。 3-23
反应式:3Sb2O3+3Si=4Sb+SiO2 • 优点: • 1)可使用纯Sb2O3粉状源,避免了箱法扩散中烘源的麻烦; • 2)两步扩散,不象箱法扩散那样始终是高浓度恒定表面源扩散,扩散层缺陷密度小; • 3)表面质量好,有利于提高表面浓度。 3-24
二. 常见扩散方法 3-25
液态源扩散--常用POCl3 >600℃ • 5POCl3 ==P2O5 +3PCl5 • 2P2O5+ 5Si =5SiO2+4P 氧过量 • 4PCl5 + 5O2 = 2P2O5+10Cl2 3-28
影响扩散参量的因素 • 源POCl3的温度 • 扩散温度和时间 • 气体流量 3-29