1 / 24

Félvezető memóriák

Félvezető memóriák. Budapesti Műszaki Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 2004 március. Félvezető memóriák. csoportosítás - RAM {random access memory} -ROM {read only memory} - illékony {volatile} a t ápfeszültség lekapcsolásakor a beírt információ elvész (RAM)

quinta
Download Presentation

Félvezető memóriák

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Félvezető memóriák Budapesti Műszaki Egyetem Elektronikus Eszközök Tanszéke 2004 március

  2. Félvezető memóriák csoportosítás -RAM {random access memory} -ROM {read only memory} - illékony {volatile} a tápfeszültség lekapcsolásakor a beírt információ elvész (RAM) - nem illékony {nonvolatile} (NVRAM, az összes ROM) -destruktív : kiolvasáskor az éppen olvasott információ elvész, tehát vissza kell írni -nem destruktív: nem kell a visszaírást megszervezni -sztatikus -dinamikus (kapacitáson töltés: frissíteni kell)

  3. szóvezetékek cella A5 Dekóder A4 cím A3 cellamátrix multiplexer D0 adat Chip Bitvezetékek A2 A1 A0 cím A MEMÓRIÁK SZERVEZÉSE Teljesen dekódolt cellamátrix Minden cella 1 bit információt tárol. A "vízszintes" vezeték az ún. szóvezeték, a cellákon végigfutó függőleges vezeték az ún. bitvezeték. A szóvezetékek egyikével lehet a cellamátrix valamelyik sorát kijelölni, ezután a bitvezetékeken keresztül tudjuk a kijelölt sor celláit írni vagy olvasni. A címzőáramkörök közül a szóvezetékeket mindig egy dekóder hajtja meg, a bitvezetékekhez csatlakozó áramkör az író/olvasó erősítő, ami a kiolvasás során multiplexerként működik

  4. szóvezetékek cella A5 Dekóder A4 cím A3 cellamátrix multiplexer D0 adat Chip Bitvezetékek A2 A1 A0 cím N bites cellamátrix: -nem feltétlenül négyzetes -területe N-el arányos Dekóder, multiplexer: -területe N0.5 -el arányos Összterülete -el arányos.

  5. A MEMÓRIÁK ÖSSZEKAPCSOLÁSA Címek Udd, GND A: címbemenetek D: data, adat be/kimenetek CE: Chip Enable R/W: Read/Write üzemmód választó 1. memória A Adatok R/W CE Címek 2. memória A D R/W CE

  6. cím Vdd dekóder Maszk programozott ROM (az "igazi" ROM) gyártáskor kerül bele az információ (nagyon nagy sorozatú gyártásnál alkalmazzák, ill. egyéb chipeken, pl mikroprocesszorban look-up táblázatok készülnek így) Az információt az tárolja, hogy az adott helyen van-e tranzisztor, vagy sem. Egy oszlop tulajdonképpen egy arány típusú NOR kapu, mivel a p tranzisztor (a terhelés) gate-je földre van kötve, egy szóvezeték megcímzésekor ha van a szó és a bitvonal között tranzisztor, akkor a kimenet alacsony szintű, egyébként logikai 1.

  7. Félvezető memóriák MOS ROM memória Programozás: kontaktusablak maszkon Poli szóvezetékek Aktív terület Bitvezeték

  8. Felhasználó által programozható ROM kategóriák

  9. PROM Az információ beírás egy fémből készült biztosíték, "fuse" kiégetésével történik. A biztosíték anyaga NiCr, Ti, W, Pt szilicid, a kiégetéshez 5-20mA, 10..15V kell. (pl. telefonkártya…) Ezt a megoldást általában bipoláris áramkörökben alkalmazzák. ki0 ki1 a bitvezeték aktiválásakor áram folyik, ha a biztosíték nincs kiégetve

  10. Félvezető memóriák “Biztosítékos” PROM memória (bipoláris) A CrNi biztosíték

  11. 1.2μm ONO n+ poli Si SiO2 SiO2 n+ diffúzió PROM, CMOS technológiával CMOS PROM-okban az "antifuse" technológiát alkalmazzák. PLICE : {Programmable Low Impedance Circuit Element} kisméretű 1.2m  1.2m alkatrész. “Antifuse”-> ha kiégetjük, akkor vezet, egyébként szakadás Az n+ diffúzió és a n+ poli-Si között egy vékony, 10nm-es dielektrikum (oxid-oxinitrid) van. Kb. 16V, 5mA 1ns alatt megolvasztja és vezetni kezd. Élettartam: kb. 40 év, 125C

  12. G poli Si lebegő gate poli Si gate S D n+ n+ p szubsztrát EPROM Elektronikusan programozható, UV fénnyel törölhető. Az információtároló elem: egy ún. FAMOS tranzisztor {Floating gate Avalanche MOS} Keresztmetszete A cella felépítése VDD szóvonal bitvonal a MOS tranzisztorhoz képest egy "lebegő" (nincs sehova kötve) gate van kialakítva.

  13. +VDD +VDD 0V e- e- e- e- e- e- n+ n+ p szubsztrát EPROM / PROGRAMOZÁS A source-t földeljük, a gate-re és a drainre nagy pozitív feszültséget kapcsolunk. (kb. 25V) A nagy feszültség hatására lavinaletörés jön létre a csatornában, a nagy energiájú elektronok pedig keresztül jutnak az oxid potenciálgátján (3.2eV) és a lebegő elektródára kerülnek. Programozás után a lebegő elektródán lévő negatív töltés ott marad (10 évet garantálnak a gyártók általában), ezáltal a tranzisztor küszöbfeszültsége megnövekszik, és akkor sem nyit ki, a gate-re tápfeszültséget kapcsolunk. Programozás nélkül az eszköz úgy viselkedik, mint egy normális MOS tranzisztor.

  14. EPROM / TÖRLÉS Az EPROM tok tetején egy átlátszó kvarcablakot alakítanak ki. e- e- e- e- e- e- n+ n+ p szubsztrát Nagy energiájú UV fénnyel a lebegő elektródáról eltávolíthatjuk az elektronokat. Kb. 20 perc, elég erős UV fénnyel. OTP EPROM: annyi a különbség, hogy nem törölhető, mert nincs ablak, a tokozás egyszerűbb (olcsóbb)

  15. ROM/ EEPROM (E2PROM) elektromosan programozható és törölhető Egy cella 2 tranzisztorból áll, egy kiválasztó és egy speciális lebegő gate-es tranzisztorból. A FAMOS tranzisztorhoz képest az a külöbség, hogy a gate a drain fölé nyúlik, a lebegő gate-et a draintől egy vékony, 5nm oxid választja el. Az elektronok ezen az ultravékony oxidon keresztüljuthatnak bizonyos valószinűséggel. (alagútjelenség, tunnel hatás)

  16. MNOS tranzisztor MNOS tranzisztor {Metal, Nitride, Oxide, Semiconductor } A szilícium és a nitridréteg között egy vékony, kb. kb. 5nm oxid van. Az oxid és a nitrid határfelülete töltéscsapdákat tartalmaz. Programozás: a source és drain elektródákat földeljük, a gate-re nagy pozitív feszültséget kapcsolunk (15-25V). Elektronok tunneleznek át a vékonyoxidon, és csapdába esnek a 2 réteg határfelületén. A negatív töltés miatt a tranzisztor kikapcsolt állapotban marad. Törlés: nagy negatív feszültséggel, hasonlóan. Szintén szükség van egy kiolvasó tranzisztorra, így mivel egy cella két tranzisztort tartalmaz, a helyszükséglet nagyobb, mint az EPROMé.

  17. FLASH EEPROM A két tranzisztoros EEPROM cellát egy különleges tranzisztor helyettesíti, így a sűrűség összemérhető az EPROM sűrűséggel. Programozás: mint az EPROM cella esetében, lavinaletöréssel Törlés: mint az EEPROM cella esetében, tunnelezéssel.

  18. Statikus RAM (CMOS) Statikus RAM : a beírt információ a tápfeszültség eltünéséig megmarad. Minden egyes cella egy kétállapotú áramkör, ez tárolja az információt. 6 tranzisztorból áll. Az információt a 2 keresztbecsatolt CMOS inverter tárolja, aminek 2 stabil állapota van (flip-flop). A beírás, kiolvasás a 2 transzfer kapun keresztül történik. (NMOS változat is létezik)

  19. Félvezető memóriák: DRAM Az SRAM hoz képest a DRAM cella egy tranzisztorból és egy kapacitásból áll. Azonos felületen kb. 4x sűrűbb mint a statikus RAM Az információt a Cs kapacitás tárolja, amit az M1 tranzisztor kapcsol rá a bitvonalra. A Cs kapacitás kb. 30..60fF. Írás: a szóvonalat VDD –re kapcsolva a bitvonal szinttől függően vagy kisüti a kapacitást (LOW), vagy VDD-VT –re (HIGH) tölti fel. Kiolvasás: a szóvonal aktivizálásakor a bitvonalra kapcsoljuk a CS kapacitást.

  20. Félvezető memóriákDinamikus RAM részlete Bitvezeték A csiszolat vonala Aktív terület Bitvezeték C Poli szóvezeték Csatorna=Aktív AND Poli

  21. DRAM A) árokkapacitás (trench kapacitás). A szilíciumba árkot marnak, aminek a falát oxid fedi. Ebbe kerül a poli-Si. B )“stack” kapacitás: a fegyverzeteket vékonyoxid szigeteli el. A kapacitás növelése több réteggel lehetséges.

  22. DRAM működése, a töltésmegosztás A bitvonal saját kapacitása nagyobb, mint a tároló kapacitás, így töltésmegoszlás történik: PÉLDA Legyen CB = 20CS, VDD=3.3V, VT=0.7V Ekkor a CS kapacitás “1” szintje UDD-VT = 2.6V lesz. A bitvonal feszültségváltozása ennek 21-d része, azaz kb. 120mV Az érzékelő erősítőnek tehát ezt kell helyreállítani. A kiolvasás destruktív, tehát kiolvasás után mindenképpen (2..4ms –ként) frissíteni kell.

  23. DRAM : Alfa részecskék hatása Az alfa részecskék hatása: egy becsapodó alfa részecske 1-2 millió elektront képes kelteni, és ez megváltoztathatja a kapacitás töltését. Ezért védőfóliával (pl. poliimid) fedik a DRAM chipeket.

  24. ROM jellegzetes paraméterek Véletlen elérésre! RAM jellegzetes paraméterek

More Related