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薄层扫描原理. (一) Kubelka-Munk 理论原理. 散射性薄层截面示意图 I 0 照射光强 i(x)x 处的透射光强 j(x)x 处的反射光强 X 固定相层厚. Kubelka-Munk 理论原理. 透过光 i 及反射光 j :. Kubelka-Munk 理论原理. SX :薄层板的 散射参数 ,它与固定相的种类、粒度、薄层厚度 (X) 及涂布均匀程度有关;其数值大小直接影响薄层色谱斑点的吸光度 - 浓度曲线偏离 Beer 定律的情况. Kubelka-Munk 理论原理. 理想的空白薄层板 ( 简称空白板 ) :单位薄层厚度的吸光系数 K=0 。
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薄层扫描原理 (一)Kubelka-Munk理论原理 散射性薄层截面示意图 I0照射光强i(x)x处的透射光强j(x)x处的反射光强X 固定相层厚
Kubelka-Munk理论原理 透过光i及反射光j:
Kubelka-Munk理论原理 SX:薄层板的散射参数,它与固定相的种类、粒度、薄层厚度(X)及涂布均匀程度有关;其数值大小直接影响薄层色谱斑点的吸光度-浓度曲线偏离Beer定律的情况
Kubelka-Munk理论原理 • 理想的空白薄层板(简称空白板):单位薄层厚度的吸光系数K=0。 • 一般空白板:K≠0 为了消除此影响,通常在薄层扫描中都是以空白板为基准,测定相对透光率及相对反射率来计算薄层色谱斑点的吸光度。
(1) 在透射法中薄层色谱斑点的吸光度A: (2) 在反射法中薄层色谱斑点的吸收度A:
Kubelka-Munk理论原理 • Kubelka-Munk曲线是以薄层固定相不吸收照射光,即空白板的K=0为前提,按照空白板的散射参数,用Kubelka-Munk理论有关方程式算出斑点的A-KX 理论曲线