130 likes | 347 Views
Математическая модель диффузии в слоистой структуре высокотемпературных сверхпроводников. Большаков Александр. слои. подложка. Введение. ВТСП кабели болометр на ВТСП. Проникновение примеси в пленку. Диффузия цинка в ВТСП пленку YBa 2 Cu 3 O 7-x.
E N D
Математическая модель диффузии в слоистой структуре высокотемпературных сверхпроводников Большаков Александр
слои подложка Введение ВТСП кабели болометр на ВТСП
Диффузия цинка в ВТСП пленку YBa2Cu3O7-x
Концентрационные профили.Сравнение расчета с литературными данными 1. Для t=3 ч 40 мин, коэффициент корреляции R=0,91 2. Для t=20 ч, коэффициент корреляции R=0,9
Уравнение диффузии с участием двух гетерогенных твердых тел: в области –l<x<0: в области x>0: где
Диффузия магния в ВТСП подложка –MgO буферный слой – YSZ, толщина l=2 мкм ВТСП пленка – YBa2Cu3O7-x , толщина 3 мкм t=550 C D0(Mg в YSZ)=8 см^2/с Eа(Mg в YSZ)=1,1 эВ D(Mg в YBCO)=10^-5 см2/с m=0,1
Концентрационный профиль.Сравнение расчета с литературными данными Коэффициент корреляции R=0,83
Варианты использования предложенной модели • сделать прогноз распределения примеси в слое ВТСП; • оценить эффективность применения буферного слоя для оптимального выбора материала буферного слоя; • найти необходимую толщину буферного слоя;
Варианты использования предложенной модели • Изменения температуры • Различные механизмы диффузии • Диффузия сразу нескольких примесей D≠ const
Вывод Разработанная модель будет применена в дальнейших теоретических и практических исследованиях в области технологии получения слоистых ВТСП структур с целью экономии времени и средств.