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雷射三角量測探頭應用於工業檢測以及控制系統上之量測. 指導老師 : 朱志良 班級 : 奈米三乙 姓名 : 顏廷逸 學號 :49914036. 摘要 與前言. 原理 將 光束投射至待測物的表面且作為兩軸位移的變化量量測,用光學位置感測器( PSD )量測 X 與 Y 軸的受光量進而計算反射返回光點的位移量,進而計算出 X 與 Y 軸的偏移量。達成精密雷射三角量測探頭量測系統之研製 。. 參考文獻.
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雷射三角量測探頭應用於工業檢測以及控制系統上之量測雷射三角量測探頭應用於工業檢測以及控制系統上之量測 指導老師:朱志良 班級:奈米三乙 姓名:顏廷逸 學號:49914036
摘要與前言 原理 • 將光束投射至待測物的表面且作為兩軸位移的變化量量測,用光學位置感測器(PSD)量測X與Y軸的受光量進而計算反射返回光點的位移量,進而計算出 X 與 Y 軸的偏移量。達成精密雷射三角量測探頭量測系統之研製。
參考文獻 • http://140.112.14.7/~measlab/course/101%E4%B8%8A/%E7%B2%BE%E5%AF%86%E9%87%8F%E6%B8%AC/%E5%85%89%E5%AD%B8%E9%87%8F%E6%B8%AC%202012%20(NTU%20Measuring%20systems%20&%20principles).pdf • 光學量測技術 陳亮嘉 教授 • http://www.me.cycu.edu.tw/csme2007/pdf/D12-0026.pdf • 修芳仲 劉旻欣 國立台灣科技大學機 • http://ntur.lib.ntu.edu.tw/bitstream/246246/15632/1/882212E002032.pdf • 超精密量測探頭與量測軟體的研製 • 范光照 台灣大學 機械工程學研究所