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ポスター W27b. 較正実験方式 @大阪大学. XIS-EU (FM 品と同チップ ). XIS-FM (FI 4台 & BI 2 台 ). 比例計数管 ( PC ). Astro-E2 XIS の軟 X 線領域 における量子効率( QE ) Ⅱ. X 線発生装置. チェンバー内部. 松浦大介、勝田哲、林田清、鳥居研一、並木雅章、東海林雅幸、 宮内智文、常深博(阪大理)、 中嶋大、山口弘悦(京大) 幸村孝由(工学院大)、片山晴善( JAXA )、他 Astro-E2 XIS チーム. ~ 3m. 分光 X 線. ポスター W27b.
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ポスター W27b 較正実験方式@大阪大学 XIS-EU (FM品と同チップ) XIS-FM (FI 4台 & BI 2台) 比例計数管 (PC) Astro-E2 XISの軟X線領域における量子効率(QE)Ⅱ X線発生装置 チェンバー内部 松浦大介、勝田哲、林田清、鳥居研一、並木雅章、東海林雅幸、 宮内智文、常深博(阪大理)、中嶋大、山口弘悦(京大) 幸村孝由(工学院大)、片山晴善(JAXA)、他Astro-E2 XISチーム ~3m 分光X線
ポスター W27b モデルによる同時フィット 分散X線スペクトルの強度(1ヶ月ごと) X線強度とX線ジェネレータ稼動時間 2004.4 (EU) 2004.4 (EU) K(E)倍 2004.2 (FM) 2004.2 (FM) X線強度 [counts/8sec/column] X線強度[counts/8sec] X線強度[counts/8sec] 同時フィットモデル IEU = at + b IFM= K(E)×(at + b) このエネルギーバンドの強度を稼働時間でプロット 黒:EUのデータ 赤:FMのデータ 2003.12(EU) 2003.12(EU) 200 300 400 100 200 300 400 100 稼働時間 [h] 稼働時間 [h] 2004.4.5 (EU) 2004.2.4 (FM) 2003.12.30(EU) 発生X線の強度補正 補正方法 1、同条件で繰り返し測定(データ点を増やす) 2、エネルギーバンドごとX線強度を発生装置 の稼動時間でプロット(右図) 3、同時フィットを行う(他のバンドでも同様に) 強度補正した各エネルギーの相対検出効率 同時フィットモデル I : X線強度 t : X線ジェネレータ稼動時間 K(E) : 相対検出効率
XIS-FM : EUに対する相対検出効率 FI1(表面照射型) BI1(裏面照射型) K(E) ~10倍@0.6 keV ~80倍@0.28 keV K(E) ~1.1倍@0.6 keV
ポスター W27b XIS-FM 絶対検出効率 XIS-FM : BI1(裏面照射型) XIS-FM : FI1(表面照射型) 赤: 阪大データ点 青: 京大データ点 阪大と京大で得られたデータが繋がらない 1を超えるデータ点がある →比例計数管のQEを再検討中