1 / 53

Московский физико-технический институт НОЦ «Нанотехнологии»

Аналитический обзор значимых раработок в области обеспечения единства измерений стандартизации и оценки соответствия. Московский физико-технический институт НОЦ «Нанотехнологии». Директор НОЦ, декан ФФКЭ МФТИ П.А. Тодуа Зам. директора А.С. Батурин. План доклада. Несколько слов про МФТИ

india
Download Presentation

Московский физико-технический институт НОЦ «Нанотехнологии»

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Аналитический обзор значимых раработок в области обеспечения единства измерений стандартизации и оценки соответствия Московский физико-технический институт НОЦ «Нанотехнологии» Директор НОЦ, декан ФФКЭ МФТИ П.А. Тодуа Зам. директора А.С. Батурин

  2. План доклада • Несколько слов про МФТИ • НОЦ «Нанотехнологии» • Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии • Наши планы

  3. Образовательная технология подготовки специалистов в МФТИ«Система Физтеха» • Проведение • научных исследований Аспирантура Магистратура • Работа в научно-исследовательских центрах Бакалавриат 700 студентов 1– го курса (по итогам олимпиад, вступительных экзаменов) из них 60 % выпускники ЗФТШ • Фундаментальное образование • Отбор талантливых школьников по всей России • Одновременно в ЗФТШ обучается около 15000 школьников 8-11 классов ЗФТШ

  4. Что такое МФТИ? Неразрывная связь с Российской Академией Наук МФТИ был факультетом МГУ 1946-1951 гг За 60–летнюю историю МФТИ окончили около 30 000 выпускников, среди которых свыше 100 членов РАН свыше 4500 докторов наук около 10 000 кандидатов наук Число студентов - 3600 Выпуск – 30% дипломы с отличием Число аспирантов - 600 Ежегодно защищают диссертации в срок более 25% аспирантов МФТИ

  5. Потребители кадров • Федеральное агентство по промышленности • Федеральное космическое агентство • Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии • Федеральное агентство по атомной энергии • Федеральная служба по техническому и экспертному контролю • Федеральное агентство по здравоохранению и социальному развитию • Министерство Российской Федерации по делам гражданской обороны, чрезвычайным ситуациям и ликвидации последствий стихийных бедствий • Министерство здравоохранения и социального развития Российской Федерации • Министерство информационных технологий и связи Российской Федерации • Российская Академия Наук • ГНЦ РФ «Курчатовский институт» - головная организация ННС • Высокотехнологичные коммерческие компании (ООО «ЮникАйСиз», ЗАО «НТ-МДТ», НТО «ИРЭ-Полюс», IBS и другие) Более 100 выпускающих кафедр

  6. Участие в Приоритетном национальном проекте «Образование» Один из приоритетов ИОП – развитие приборно-аналитической базы для исследований в области нанотехнологий

  7. Деятельность НОЦ «Нанотехнологии» • Обучение студентов по нанодиагностике и нанометрологии, элементам микро- и наноэлектронной технологии • Переподготовка и повышение квалификации сотрудников сторонних организаций • Осуществление научно-исследовательских проектов на имеющемся аналитическом оборудовании • Изготовления экспериментальных (пилотных) образцов и отработка отдельных технологических этапов на имеющемся технологическом оборудовании

  8. Подготовка научных кадров • Для нанодиагностики требуются современные аналитические и измерительные инструменты. • Основа успешного использования передового оборудования – квалифицированные кадры.

  9. Учебный класс СЗМ «Nanoeducator» • Дружественный интерфейс • Пошаговая настройка СЗМ методик  • Наглядность, анимационное обучение • Отсутствие сложных настроек • Недорогие расходные материалы • Простая смена образца • Возможность восстановления зонда

  10. Международная магистерская образовательная программа МИСиС - МФТИ «Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции нанотехнологий и наноиндустрии»Грант Российской корпорации нанотехнологий

  11. Идея проекта • Фундаментальные знания по физике и химии наночастиц и наносистем • Приборы и устройства на основе нанотехнологий • Физико-химические основы нанотехнологий • Приборы и методы исследования микро и наноструктур • Метрология, стандартизация и сертификация

  12. Мероприятия • Привлечение квалифицированных российских ученых • Интенсивные (краткие) обзорные курсы иностранных ученых • Интенсивный лабораторный практикум по приборам и методам исследования, технологиям • Краткосрочная зарубежная стажировка • Индивидуальная научно-исследовательская работа

  13. Лабораторные работы МФТИ МИСиС

  14. Структура приглашенных лекций

  15. Научно-исследовательская деятельностьНОЦ «Нанотехнологии» МФТИ

  16. Научно-исследовательская деятельность • Проведение собственных НИР (в интересах госзаказчиков и коммерческих организаций) • Предоставление услуг сторонним организациям в режиме Центра коллективного пользования

  17. Современный парк средств измерения • Сканирующая зондовая микроскопия • Растровая электронная микроскопия

  18. Сканирующий электронный микроскоп с приставкой электронной литографии ифокусированным ионным пучком Quanta 3D

  19. Критерии выбора технологического оборудования • Современное оборудование – возможность разработки и тиражирования технологий • Унифицированность и мультифункциональность – гарантирует долговременную востребованность оборудования

  20. Технологическое оборудование OPTI COATST20+ OPTI НОТ SHT20+ OPTI WET ST30

  21. Технологическое оборудование BOC EDWARDS AUTO 500 Oxford Plasma LAB100 PECVD И другое оборудование … Размещается в «чистой» комнате ISO 6 (80 м2)

  22. План доклада • Несколько слов про МФТИ • НОЦ «Нанотехнологии» • Нанодиагностика, метрология, стандартизация и сертификация продукции наноиндустрии • Наши планы

  23. НЕЛЬЗЯ ИЗМЕРИТЬ – НЕВОЗМОЖНО СОЗДАТЬ 1. Метрология в нанотехнологиях нанометрология Все теоретические и практические аспекты, связанные с измерениями в нанотехнологии: - эталоны единиц физических величин, стандартные образцы состава и свойств для нанотехнологии; - методы и средства калибровки средств измерений; - метрологическое сопровождение технологических процессов. 2. Стандартизация в нанотехнологиях: - стандартизация методов калибровки и измерений, технологических процессов, параметров материалов и объектов нанотехнологии; - терминология и определения; - здоровье, безопасность и окружающая среда.

  24. Национальный технический комитет по стандартизации ТК 441 “Нанотехнологии и наноматериалы” МЭК ТК 113 (г.р. 2006) ИСО ТК 229 (г.р. 2005) НИЦПВ ТК 441 Промышленность НИИ (Институт кристаллографии РАН, Центр синхротронного излучения и нанотехнологий РНЦ КИ,…) ВУЗы (МФТИ, МИСиС,…)

  25. Область деятельности Технического комитета по стандартизацииТК 441 “Нанотехнологии и наноматериалы” “Какое влияние это может иметь на здоровье, безопасность и окружающую среду?” ТК 441 “Как это называть?” Терминология и определения Измерения. Методы и средства Методы испытаний объектов нанотехнологий Здоровье, безопасность и окружающая среда “Как это измерять или испытывать?”

  26. Метрологическая и нормативно-методическая база обеспечения единства измерений в нанотехнологиях Структура Состав Свойства Геометрическиеразмеры Хими-ческий Фазо-вый Механи-ческие Термо-динами-ческие Электри-ческие Магнит-ные Опти-ческие 2D 1D 3D отрасли наноиндустрии Функцио-нальные нанома-териалы для косми-ческой техники Конструк-ционные нанома-териалы Композитные наноматериалы Нано-био-техно-логии Нано-фото-ника Нано- технологии для систем безопас-ности Нано-элек-троника Функцио-нальные нанома-териалы для энер- гетики Функцио-нальные нанома-териалы и высоко-чистые вещества Наноинженерия

  27. Почему эталон единицы длины в нанотехнологии – базисный? Первоочередная задача метрологии в нанотехнологии – определение геометрических параметров объекта, метрология линейных измерений. Измерения механических, электрических, магнитных и многих других свойств объекта требуют прецизионного пространственного позиционирования зонда измерительного устройства в требуемое место с эталонной точностью по координатам.

  28. Ближайшая перспектива широкомасштабной схемы метрологического и стандартизационного обеспечения нанотехнологий Стандартные образцы состава, структуры и свойств Базисный эталон единицы длины в диапазоне 1 нм – 100 мкм на основе растровой, просвечивающей электронной и зондовой микроскопии, рентгеновской дифрактометрии и лазерной интерферометрии Базисная ветвь Меры малой длины – эталоны сравнения калибровка Средства измерений Средства измерений Объекты измерений

  29. Базисный эталон единицы длины в диапазоне1 нм – 100 мкм на основе растровой, просвечивающей электронной и зондовой микроскопии и лазерной интерферометрии Точность измерения по X и Y: 0,5 нм по Z : 0,5  3 нм Z-ЛИН z x y X-ЛИН Y-ЛИН Диапазон перемещений • по X и Y: 1  3000 нм • по Z: 1  1000 нм ЛИН - лазерный измеритель наноперемещений

  30. Измерение геометрических параметров объектов нанотехнологий Эталон сравнения Сканирующий зондовый микроскоп Растровый электронный микроскоп 3-х мерная шаговая линейная мера, обеспечивающая калибровку и поверку измерительных систем по 3-м координатам в диапазоне линейных размеров от1 нм до 100 мкм и более.

  31. Эталон сравнения –линейная мера Носитель размера – длина волны стабилизированного He-Ne лазера Метод Аттестации - Интерферометрический Общий вид меры в РЭМ при разных увеличениях Номинальные размерыПогрешность аттестации • Шаг 2000 нм1 нм • Ширина линии 10 - 1500 нм1 нм • Высота (глубина) 100 - 1500 нм1 %

  32. Профиль эталона сравнения АСМ изображения 80 нм 30 нм Ширина верхнего основания выступа РЭМ изображения сколов

  33. Эталон сравнения Калибровка РЭМ по 1 изображению Определение увеличения Определение диаметра зонда Время калибровки: менее 5 минут

  34. Эталон сравненияКалибровка АСМ по 1 изображению Цена деления шкал АСМ Неортогональность Z-сканера Радиус острия кантилевера

  35. Прослеживаемость передачи размера единицы физической величины Реализация пути иерархической передачи размера единицы, основанная на использовании эталонов сравнения, методов и средств измерений, обеспечивающая абсолютную привязку результатов конкретного измерения к национальному эталону данной физической величины Использование эталонов сравнения – мер малой длины, обеспечивает привязку линейных измерений, выполняемых в нанометровом диапазоне, к национальному эталону метра

  36. Международная стандартизация в области нанотехнологий и наноматериалов

  37. Международные стандарты (общие вопросы, в стадии разработки) • ISO/NP TS 12144Nanotechnologies -- Core terms -- Terminology and definitions • ISO/NP TS 12921Nanotechnologies - Terminology and definitions for nanostructured materials • ISO/NP 13013Nanotechnologies -- Terminology for nanoscale measurement and instrumentation • ISO/NP TS 12808Nanotechnology - Terminology for the bio-nano interface • ISO/NP TS 12843Nanotechnologies - Terminology for medical, health and personal care applications • ISO/AWI TS 11751Terminology and definitions for carbon nanomaterials

  38. Международные стандарты (в стадии разработки) • ISO/AWI TS 11803 Nanotechnologies -- Format for reporting the engineered nanomaterials content of products • ISO/AWI TR 11808 Nanotechnologies -- Guidance on nanoparticle measurement methods and their limitations • ISO/NP TS 12805 Nanomaterials - Guidance on specifying nanomaterials • ISO/AWI TR 11811 Nanotechnologies -- Guidance on methods for nanotribology measurements • ISO/NP 12025 Nanomaterials -- General framework for determining nanoparticle content in nanomaterials by generation of aerosols

  39. Международные стандарты (Углеродные нанотрубки) • ISO/AWI TS 10797 Nanotubes -- Use of transmission electron microscopy (TEM) in walled carbon nanotubes (SWCNTs) • ISO/AWI TS 10798 Nanotubes -- Scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-ray analysis (EDXA) in the charaterization of single walled carbon nanotubes (SWCNTs) • ISO/NP TS 10812 Nanotechnologies -- Use of Raman spectroscopy in the characterization of single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) • ISO/NP TS 10867 Nanotubes -- Use of NIR-Photoluminescence (NIR-PL) Spectroscopy in the characterization of single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) • ISO/NP TS 10868 Nanotubes - Use of UV-Vis-NIR absorption spectroscopy in the characterization of single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) • ISO/AWI TS 10929 Measurement methods for the characterization of multi-walled carbon nanotubes (MWCNTs) • ISO/AWI TS 11251 Nanotechnologies -- Use of evolved gas analysis-gas chromatograph mass spectrometry (EGA-GCMS) in the characterization of single-walled carbon nanotubes (SWCNTs) • ISO/AWI TS 11308 Nanotechnologies -- Use of thermo gravimetric analysis (TGA) in the purity evaluation of single-walled carbon nanotubes (SWCNT) • ISO/NP TS 11888 Determination of mesoscopic shape factors of multiwalled carbon nanotubes (MWCNTs)

  40. Международные стандарты (неорганические наноматериалы) • ISO/NP 11931-1Nanotechnologies -- Nano-calcium carbonate -- Part 1: Characteristics and measurement methods • ISO/NP 11937-1Nanotechnologies -- Nano-titanium dioxide -- Part 1: Characteristics and measurement

  41. Международные стандарты(безопасность, токсичность) • ISO/NP TS 12901Nanotechnologies -- Guidance on safe handling and disposal of manufactured nanomaterials • ISO/CD 29701Nanotechnologies -- Endotoxin test on nanomaterial samples for in vitro systems • ISO/CD 10801Nanotechnologies -- Generation of nanoparticles for inhalation toxicity testing • ISO/CD 10808Nanotechnologies -- Monitoring nanoparticles in inhalation exposure chambers for inhalation toxicity testing

  42. Опубликованные стандарты ISO • ISO/TS 27687:2008Nanotechnologies -- Terminology and definitions for nano-objects -- Nanoparticle, nanofibre and nanoplate • ISO/TR 12885:2008Nanotechnologies -- Health and safety practices in occupational settings relevant to nanotechnologies

  43. Пилотные российские стандарты в области нанотехнологий Введены в действие в 2008 г. 1. ГОСТ Р 8.628-2007.Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления. 2. ГОСТ Р 8.629-2007.Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки. 3. ГОСТ Р 8.630-2007.Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки. 4. ГОСТ Р 8.631-2007.Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки. 5. ГОСТ Р 8.635-2007.Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика калибровки. 6. ГОСТ Р 8.636-2007.Микроскопы электронные растровые. Методика калибровки.

  44. «Наносертифика» Объекты подтверждения соответствия (сертификации): • Продукция наноиндустрии, создаваемая при реализации проектов, относящихся к ведению Корпорации и/или финансируемых Корпорацией и иная продукция наноиндустрии, созданная в Российской Федерации или поставляемая в Российскую Федерацию и соответствие которой требованиям техническихрегламентов, стандартов, сводов правил или иных документов может быть подтверждено при сертификации • Технологии наноиндустрии • Системы менеджмента качества предприятий, создающих продукцию наноиндустрии (стандарты серии ISO 9000) • Системы экологического менеджмента предприятий, работающих в наноиндустрии или применяющих продукцию наноиндустрии(стандарты серии ISO 14000) • Системы охраны труда и предупреждения профессиональных заболеваний (стандарты серии OHSAS 18000) http://www.nanocertifica.ru/ http://www.rusnano.com/Admin/Files/FileDownload.aspx?id=1789

  45. http://www.rusnano.com/Admin/Files/FileDownload.aspx?id=1789

  46. «Виртуальный микроскоп»

  47. Общая проблема измерений в нанометровом диапазоне Профиль реальной структуры Профиль АСМ Профиль РЭМ Размер зонда сравним с размерами объекта Изображение отличается от реального рельефа

  48. Концепция проведения измерений на наномасштабе

  49. Общая структура «виртуального РЭМ»

  50. Кооперация • Московский физико-технический институт • ООО «СИАМС» (г. Екатеринбург) • ОАО «НИЦПВ» (г. Москва) • УГТУ-УПИ (г. Екатеринбург) • ИПМех РАН (г. Москва)

More Related