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Transmission Electron Microscope EM 902 ( Zeiss ). Spezifikationen: Beschleunigungsspannung: 80 kV Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,344 nm - garantierte Punktauflösung: 0,5 nm. Transmission Electron Microscope JEM-1011 ( JEOL). Spezifikationen:
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Transmission Electron Microscope EM 902 ( Zeiss ) • Spezifikationen: • Beschleunigungsspannung: 80 kV • Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,344 nm • - garantierte Punktauflösung: 0,5 nm
Transmission Electron Microscope JEM-1011 ( JEOL) • Spezifikationen: • Beschleunigungsspannung: 40 - 100 kV • Auflösung - garantierte Linienauflösung: 0,2 nm • - garantierte Punktauflösung: 0,4 nm
UltraHigh-Resolution Transmission Electron Microscope JEM-2200FS ( JEOL) • Spezifikationen: • Beschleunigungsspannung: 80 - 200 kV • TEM Auflösung • - garantierte Linienauflösung: 0,10 nm • - garantierte Punktauflösung: 0,19 nm • STEM Auflösung • - garantierte Punktauflösung: 0, 2 nm • Energiedispersive Röntgenanalys (EDX) • Elektronen-Eneergieverlustspektroskopie (EELS) • Tomographie
REM deutsch Ultrahochauflösendes Rasterelektronenmikroskop S- 4800 (Hitachi) Spezifikationen: • Hochauflösung1.0 nm / 15 kV 1.4 nm / 1 kV • EDX- System: Thermo - NORAN system SIX (Energiedispersive Röntgenstrahl Mikroanalyse) • Kryopräparationssystem: Gatan – Alto 2500-S • EBSD- System: HKL - Channel 5 (Elektronenrückstreubeugung) • STEM Imaging