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Universidade Federal do Amazonas Faculdade de Tecnologia Bacharelado em Engenharia de Materiais. Controle de crescimento da estrutura dependente da síntese de nanofios via em película formação de nanofios (OFF-ON). Método de OFF-ON (Filme para formação do Nanofio).
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Universidade Federal do Amazonas Faculdade de Tecnologia Bacharelado em Engenharia de Materiais Controle de crescimento da estrutura dependente da síntese de nanofios via em película formação de nanofios (OFF-ON) Método de OFF-ON (Filme para formação do Nanofio) Acadêmico: Emerson Gama Professor: Dr. Lucas Berti Manaus- Am Março- 2013
Emerson Gama FT - EngMat Método de OFF-ON UFAM Universidade Federal do Amazonas Sistema de Pulverização Catódica (sputtering) Taxa de Deposição Colocando o filme de Bi sob tensão de compressão Recozimento (260 ~270 °C) Crescimento Espontâneo dos Nanofios Devido o Relaxamento da tensões compressivas Diferentes Coeficientes de expansão térmica Resfriamento
Emerson Gama FT - EngMat Método de OFF-ON UFAM Universidade Federal do Amazonas Vantagens Combinação da deposição de filmes finos e simples com formação nanofios altamente cristalinos. Não há necessidade de usar catalisadores, evitando assim a contaminação Ferramenta única e altamente desejável para o cultivo de nanofios livre de defeitos e composta de um material de interesse. Ampliação do método para uma grande variedade de materiais e estruturas Desvantagem Para obter bom rendimento do nanofioprecisa-se programar e combinar os parâmetros.
Emerson Gama FT - EngMat Parâmetro e Limitações UFAM Universidade Federal do Amazonas • Taxa de Deposição 2,7 Â / s 32,7 Â / s • Área do Filme e distribuição da tensão no momento Alivio Áreas dos filmes: (104µm)2, (103 µm)2, (102 µm)2, e (10 µm)2 • Incompatibilidade de expansão térmica Bi (13,4 × 10-6 / ° C) SiO2(0,5 × 10-6 / ° C) Si (2,4 × 10-6 / ° C)
Emerson Gama FT - EngMat Referências Bibliográficas UFAM Universidade Federal do Amazonas • Shim W, Ham J, Lee K, Jeung WY, Johnson M, Lee W: On-FilmFormationof Bi Nanowires with Extraordinary Electron Mobility. Nano Lett2009, 9(1):18. • Zhang ZB, Gekhtman D, Dresslhaus MS, Ying JY: Processingandcharacterization of single-crystalline ultrafine bismuth nanowires. ChemMater1999, 11:1659.