1 / 11

Deformáció meghatározása epitaxiálisan növesztett La 1-x Sr x CoO 3 rétegekben

Deformáció meghatározása epitaxiálisan növesztett La 1-x Sr x CoO 3 rétegekben. E. Szilágyi 1 , E. Kótai 1 , D. Rata 2 , G. Vankó 1 1 MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont Részecske- és Magfizikai Intézet, Budapest 2 Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe, Dresden. Vázlat.

kacia
Download Presentation

Deformáció meghatározása epitaxiálisan növesztett La 1-x Sr x CoO 3 rétegekben

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. Deformáció meghatározása epitaxiálisan növesztett La1-xSrxCoO3 rétegekben E. Szilágyi1, E. Kótai1, D. Rata2, G. Vankó1 1MTA Wigner Fizikai Kutatóközpont Részecske- és Magfizikai Intézet, Budapest 2Max-Planck-Institut für Chemische Physik fester Stoffe, Dresden Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  2. Vázlat • Miért érdekes a deformáció La1-xSrxCoO3 rétegekben? • Mire jó az Rutherford-visszaszórásos spektrometria csatornahatással kombinált (RBS/C) mérések? • Deformáció meghatározása RBS/C-vel. • Eredmények. • Összefoglalás. Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  3. réteg hordozó Deformáció nyomásnál: ah < ar illetve húzásnál: ah> ar Miért érdekes a deformáció La1-xSrxCoO3 rétegekben? • La1-xSrxCoO3 : különleges vezetési tulajdonságok (CMR, GMR) • 30–100 nm La1-xSrxCoO3 epitaxiális rétegeknél az illeszkedési hibából származó feszültség (IHF), illetve ennek hatására kialakuló deformáció során: • az összenyomott rétegek fémesek, • a meghúzott rétegek pedig szigetelők. • Az IHF néhány százaléknyi különbsége több nagyságrendnyi változást okoz! • Az elektromos tulajdonságok így egy külső paraméterrel hangolhatók, ami különösen érdekessé teszi ezeket a rétegeket az oxid alapú elektronika egyre fejlődő területén . Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  4. Egykristályos minta:csatornahatás 0=0 d Rutherford-visszaszórásos spektrometria csatornahatással kombinálva • Az RBS egy szóráskísérlet, ahol egy adott térszögbe visszaszórt ionok energiaeloszlását határozzuk meg. • a szóró atom tömegétől, • a mintában elfoglalt helyzetétől. kristályhibák kimutatása, idegen atomok rácslokalizációja, epitaxiális rétegek vizsgálata, …. Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  5. Deformáció meghatározása RBS/C-vel. Deformált epitaxiális rétegeknél a kristályirányok megváltozása mérhető, és ebből a redukált deformációs tenzor meghatározható. dhkl=Q’hkl-Qhkl Kristályirányok {100} köbös rácsnál Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  6. Kísérletek Minta készítés: Impulzuslézeres vékonyréteg-leválasztás (PLD) • La0.7Sr0.3CoO3 réteg sztöchiometrikus céltárgy, • hordozó: 5x5 mm2-es LaAlO3 (001); a=3.789 Å, illetve SrTiO3 (001); a=3.901 Å, • Leválasztás hőmérséklete 650 oC, 3.5 x 10-1 mbar O2, • 600 mbar O2-ban hűtik szobahőmérsékletre. • Utólag 1 mm-es csíkban 1 keV-es Ar-nal leporlasztottuk a rétegeket. mérések: • Elemösszetétel, rétegvastagság: RBS. • Hibaszerkezet: RBS/C – 1500, 2000 és 2500 keV-en. • Redukált deformációs tenzor: RBS/C – szögszken. Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  7. Rétegvastagság, hibaszerkezet Hordozó: SrTiO3 Hordozó: LaAlO3 Kiértékelés: RBX program [E. Kótai] • 40 nm La0.7Sr0.3Co0.9O3 film, • 2.5 nm „amorf” réteg a felületen, • 9%, illetve 1 %-nyi ponthiba, valamint deformáció. Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  8. nyomó húzó deformálatlan hordozók Deformáció irányban a nagyon pontos mérés! relatív hiba: 0.01o síkon keresztül Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  9. Deformáció mélységfüggése Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  10. Összefoglalás Az RBS/C mérésekből a rétegvastagság, elemösszetétel mellett meghatározható a • hibaszerkezet és a • redukált deformációs tenzor a mélység függvényében. A deformációs tenzor ismeretében a rácsparaméterek, cellatérfogatok számolhatók. Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

  11. Köszönet • Sulyok Attilának, a minta porlasztásáért, • Zwickl Zoltánnak, a gyorsító üzemeltetéséért, • Majthényi Rózsának, a mérésekben nyújtott segítségéért, • ERC-StG-259709 és OTKA K 72597 projekteknek, a hallgatóságnak a figyelméért! Fizikus Vándorgyűlés, Debrecen

More Related