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Soutenance d’habilitation à diriger des recherches. Sources optiques cohérentes pour la spectroscopie. Développements de la microscopie de photodétachement. Cyril Drag. Laboratoire Aimé-Cotton. Présentation générale de mon activité de recherche.
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Soutenance d’habilitation à diriger des recherches Sources optiques cohérentes pour la spectroscopie. Développements de la microscopie de photodétachement. Cyril Drag Laboratoire Aimé-Cotton
Présentation générale de mon activité de recherche Thèse 1997-2000 : La photoassociation d’atomes de césium froids. La formation et la caractérisation d’un nuage froid de molécules diatomiques de césium. Développements de la microscopie de photodétachement Chargé de recherche en 2002 au LAC Sources optiques cohérentes pour la spectroscopie (Oscillateurs Paramétriques Optiques OPO ou lasers) Post-doc à l’ONERA
wc ws wp PPLN Sources cohérentes pour la spectroscopie 1/2 (coll. ONERA) A. Berrou et al, Appl. Phys. B98, 217 (2010) OPO impulsionnels (ns) à cavités duales Projet en cours (RTRA) : OPO continu à cavités duales C. Drag et al, Opt. Lett. 27, 1238 (2002) 2000 2002 2004 2006 2008 2010 M. Lefèbvre, E. Rosencher A. Godard M. Raybaut J.M. Melkonian ONERA I. Ribet A. Desormeaux A. Berrou B. Hardy ONERA / LAC C. Laporte N. Forget J.M. Melkonian F. Bretenaker LAC S. Bahbah Blocage de modes actifs dans les OPO Thèse en cours : OPO picosecondes agiles par tour de cavité N. Forget et al, Opt. Lett. 31, 972 (2006) J.M. Melkonian et al, Opt. Lett. 32, 1701 (2007)
S. Bahbah D. Paboeuf Sources cohérentes pour la spectroscopie 2/2 OPO continu visible à grande longueur de cohérence (manipulation cohérente d’ions) Pompe SHG 585-678 nm sn ~ 400 kHz BBO SHG-OPO sn ~ 4 kHz Pompe 532 nm MgO:PPSLT Signal 876 - 975 nm T.H. My et al, Opt. Lett. 33, 1455 (2008) O. Mhibik et al, Opt. Lett. 35, 2364 (2010) S. Bahbah et al, Opt. Lett. 31, 1283 (2006) 2000 2002 2004 2006 2008 2010 F. Bretenaker J.M. Melkonian T.H. My O. Mhibik L. Cabaret Chaîne lasers impulsionnelle monomode accordable (salle blanche)
Développements de la microscopie de photodétachement Qu’est ce que c’est ? Comment ça fonctionne ? Réaliser des développements expérimentaux Source d’ions négatifs Laser continu Excitation impulsionnelle (ns) monomode Détection en position des électrons (arrivées « simultanées ») Effectuer des mesures Affinités électroniques (la plus grande précision au monde) Influence du champ électrique sur les mesures Répondre à des problématiques Construction du déphasage Influence du champ magnétique sur les interférogrammes Expériences en cours : que voir avec le microscope ? Mise en évidence d’effets de rediffusion par le cœur ? Microscopie de photodétachement impulsionnelle
Equipe microscopie de photodétachement 2000 2002 2004 2006 2008 2010 Christophe Blondel (DR2) Cyril Drag (CR1) Christian Delsart (PU émérite) Fabienne Goldfarb Walid Chaibi Simon Canlet Mickael Vandevraye Sophie Kröger Ramon Pelaez + soutien des services techniques et administratifs du LAC
Microscopie de photodétachement : principe & intérêt Principe : I.I. Fabrikant, JETP52,1045 (1980) Y.N. Demkov et al., JETP Lett.34, 403 (1981) Microscopie de photodétachement : C. Blondel et al., Phys. Rev . Lett.77, 3755 (1996) Microscopie de photoïonisation C. Nicole et al., Phys. Rev . Lett.88, 133001 (2002) Microscopie de photodétachement en champ magnétique : W. Chaïbi et al., Eur. Phys . Lett.82, 20005 (2008) a e z0 • Intérêt fondamental : interférences électroniques sans division matérielle du front d’onde. On observe un des plus grands interfranges obtenu avec des ondes de matière. - Application : mesure de l’énergie d’éjection de l’électron en comptant le nombre d’anneaux
photon ion négatif électron Le photodétachement : source cohérente d’électrons libres Règles de sélection : A-(l’) +hn A + e- (e,l) - Moment cinétique : Dl = +/- 1 - epetit : Loi de seuil de Wigner atome neutre A e Électron lié sur orbitale p onde électronique s hn ion négatif A-
z a F h = const x = 2a grandissement Le photodétachement en champ électrique photon ion négatif Recouvrement des demi-ondes haute et basse
Interprétation semi-classique T+,W+ M.L. Du and J.B. Delos, Phys. Rev. A38, 1913 (1988) C. Blondel, S. Berge et C. Delsart, Am. J. Phys.69, 810 (2001) C. Bracher et al., Phys. Lett. A 347,62 (2005) e T-,W- Formulation Feynman (source stationnaire d’énergie e) : Trajectoires physiques où T = tf-ti Approximation semi-classique = condition phase stationnaire Quelles trajectoires classiques ont cette propriété ? Celles dont l’énergie totale est E, égale à e Phase associée :
y x Filtre de Wien détecteur : largeur à mi-hauteur 65 µm 1 électron toutes les 0,1 ms à 1 ms (amplification + codage) Jet d’ions, colonne de champ électrique et détection hauteur de “chute” : z0 = 0,514 m F entre 150 et 450 V/m Source d’ions Laser Jet d’ions d’environ 1 mm, quelques 100 pA énergie cinétique du jet : 300 eV 60 à 80 km.s-1
l = 596885.3 pm F=258.6 V/m de 2 à 2000 s miroir de renvoi détecteur F photoélectrons jet d’ions Laser à colorant • Rmax = 0,5 - 2,2 mm • = 0,3 - 1,8 cm-1 (1 cm-1 ~ 120 µeV) • i = 25 - 134 µm N = 1 – 9 Acquisition en double passage (effet Doppler) l= 535 à 710 nm P = 100 à 400 mW Stabilité < 10 MHz sur 30 min l mesurée ~ 2.10-8 • Remarque : • vitesse d’entraînement • trajectoire parabolique • de l’enveloppe
Développements de la microscopie de photodétachement Qu’est ce que c’est ? Comment ça fonctionne ? Réaliser des développements expérimentaux Source d’ions négatifs Laser continu Excitation impulsionnelle (ns) monomode Détection en position des électrons (arrivées « simultanées ») Effectuer des mesures Affinités électroniques (la plus grande précision au monde) Influence du champ électrique sur les mesures Répondre à des problématiques Construction du déphasage Influence du champ magnétique sur les interférogrammes Expériences en cours : que voir avec le microscope ? Mise en évidence d’effets de rediffusion par le cœur ? Microscopie de photodétachementimpulsionnelle
Source d’ions négatifs (maison) Décharge à cathode chaude U ~ -1200 V I ~ 10 A U ~ 60 V Attachement dissociatif e- + AB -> A- + B « Gaz ou sels » Mélange gazeux
Source d’ions négatifs (commerciale NEC) Source à spallation par ions de césium R. Middleton, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Reas. 214, 139 (1983) G.D. Alton, Rev. Sci. Instr. 65, 1141 (1994) Nombreux développements technologiques pour les spectromètres de masse (~Mvolts) : Laboratoire de Mesure de Carbone 14 (CEA Saclay) « Negative Ion Cookbook» de Middleton (~ 80 espèces atomiques) Extracteur (10 kV) Lentille (-5 kV) Jet d’ions sous 1,2 kV Cathode (5 kV) Ralentisseur (+13,8 kV) Développement d’une baie d’alimentation spécifique (SEFELEC) Adaptations de mécanique et d’optique électrostatique Jets de S-, Au-, P- et K- d’intensité comprise entre 10 pA et 1 nA
He-Ne stabilisé 2 polarisations Sigmamètre Q-CW Ti:Sa QCW, 150 µs Pompe QCW 20 Hz, 515 nm Lambdamètre WSU précision +/- 0.74 mK L. Cabaret, Appl. Phys.B 94, 71 (2009) Ti:Sa pulsé ~ 10 mJ @ 810 nm Pompe Nd:YAG doublé 25 mJ @ 532 nm BBO ~ 1 mJ @ 405 nm 15 ns L. Cabaret and C. Drag, Eur. Phys. J. Appl. Phys.37, 65 (2006) Chaîne pulsée monomode du LAC (Louis Cabaret) A. Fix and R. Wallenstein, JOSA B13, 2484 (1996)
Laser impulsionnel Ti:Sa Monture piézo-électrique 4 prismes à angle de Brewster Faisceau d’injection cristal Ti :sapphire Sortie Miroir coupleur Faisceau pompage (532 nm) Questions pour la spectroscopie : La source est monomode. On mesure, avec peu de résolution temporelle, la fréquence centrale de l’impulsion. Qu’en est-il de la largeur spectrale de l’impulsion ? Est-elle limitée par transformée de Fourier ? La fréquence évolue-t-elle durant l’impulsion? L. Cabaret and C. Drag, Eur. Phys. J. App. Phys.51, 20702 (2010)
Caractérisation de l’impulsion par hétérodynage M.S. Fee, K. Danzmann and S. Chu, Phys. Rev. A45, 4911 (1992) Acousto-optique Signal de battement + moyennage détecteur +1 nRF ~ 200 MHz
Hétérodynage : résultats l = 810 nm Tirage en fréquence durant l’impulsion : Le pompage change la densité de population (gain) Variation de l’indice (car c’ et c’’ de la susceptibilité sont liés) Décalage de la fréquence Glissement + décalage < 1 mk Pureté spectrale compatible avec le photodétachement Rôle de la cavité + laser d’injection M.S. Bowers et al., J. Opt. Soc. Am. B11, 2266 (1994) N. Melikechi et al., J. Opt. Soc. Am. B11, 2402 (1994)
barycentrage F accumulation directe accumulation + barycentrage Détection des électrons en régime en impulsionnel 100 ms temps exposition Paquets d’e- : 10 - 100 CCD Zoom optique Exemple en CW (1 e- / ms) écran phosphore MCP pulsée électrons I Laser UV 15 ns 405 nm, 500 µJ 40 Hz, ~ 30 kW 10-100 e-
Développements de la microscopie de photodétachement Qu’est ce que c’est ? Comment ça fonctionne ? Réaliser des développements expérimentaux Source d’ions négatifs Laser continu Excitation impulsionnelle (ns) monomode Détection en position des électrons (arrivées « simultanées ») Effectuer des mesures Affinités électroniques (la plus grande précision au monde) Influence du champ électrique sur les mesures Répondre à des problématiques Construction du déphasage Influence du champ magnétique sur les interférogrammes Expériences en cours : que voir avec le microscope ? Mise en évidence d’effets de rediffusion par le cœur ? Microscopie de photodétachementimpulsionnelle
Analyse quantitative et spectrométrie électronique C. Bracher et al., Am. J. Phys.66, 38 (1998) F = 423 Vm-1 e= 1.2 cm-1 Modèle de l’électron libre Nombre d’anneaux • Convolutions : • énergétique (50 mk) • spatiale (100 µm) j Si- F = 427 Vm-1 e = 0,926 ± 0,002 cm-1 R
onde s onde p Mesure d’affinités électroniques : précision interférométrique e Espèce neutre hn est mesurée • 3/2/F est donné par l’ajustement (l’effet Doppler est pris en compte) hn eA Ion négatif http://en.wikipedia.org/wiki/Electron_affinity_data_page
R3(0) Q3(5) Q3(4) Q3(3) Q3(2) Q3(1) Q3 (6) Q3(7) Un exemple de spectroscopie multi-seuils : les molécules Intensité relative C. Delsart, F. Goldfarb and C. Blondel, Phys. Rev. Lett.89, 183002 (2002) OHA(OH) = 14740,982(7) cm-1J. Chem. Phys.122, 014308 (2005) SH A(SH) = 18669,543(12) cm-1J. Mol. Spec. 239,11 (2006) P.A. Schulz et al., J. Chem. Phys.77, 1153 (1982)
La solution actuelle Blondel et al., Eur. Phys. J.D33, 335 (2005) Exemple du Si Une autre solution : Drag et al., Opt. Comm.275,190 (2007) • Microscopie de photodétachement à 2 couleurs (vernier) • permet de déterminer à la fois e et F, mais avec une moins bonne précision sur e • temps de calculs beaucoup plus longs (facteur 10) Une limitation des mesures : la connaissance du champ électrique Nombre d’anneaux Imprécision sur la distance entre les plaques Epaisseur des plaques : inhomogénéités de l’ordre du % entre les plaques Environnement : “carcasse” à un potentiel différent Zone d’interaction
Développements de la microscopie de photodétachement Qu’est ce que c’est ? Comment ça fonctionne ? Réaliser des développements expérimentaux Source d’ions négatifs Laser continu Excitation impulsionnelle (ns) monomode Détection en position des électrons (arrivées « simultanées ») Effectuer des mesures Affinités électroniques (la plus grande précision au monde) Influence du champ électrique sur les mesures Répondre à des problématiques Construction du déphasage Influence du champ magnétique sur les interférogrammes Expériences en cours : que voir avec le microscope ? Mise en évidence d’effets de rediffusion par le cœur ? Microscopie de photodétachementimpulsionnelle
Construction du déphasage a Que devient l’interférogramme dans un champ électrique non uniforme ? Champ non uniforme z0 La différence de phase est robuste car elle se construit dans une zone de l’espace très réduite. Extremum de différence de phase = phase accumulée le long de l’ orbite fermée (J. Delos) Il s’agit de la trajectoire qui ramène l’électron à l’origine L’orbite fermée de l’électron se propageant en champ électrique uniforme, a une longueur égale à 2 fois la hauteur de remontée (paramètre a) L’extremum de différence de phase se déduit du temps de parcours de l’orbite fermée : Tant que le champ reste à peu près uniforme dans la zone de l’orbite fermée, l’extrémum de la différence de phase reste sensiblement le même.
Microscopie de photodétachement en champ magnétique : position du problème Mouvement des électrons modifiés : blindage de l’expérience avec du µ-métal Problème des directions : F parallèle à B; F perpendiculaire à B; F et B quelconque DT (diff. de temps de chute) ~ 500 ps Tmoyen ~ 150 ns Problème du module : où Temps caractéristique : DT<T<Tk : trajectoires peu perturbées par la force de Lorentz DT<Tk~ T : refocalisation
z a F z0 Détecteur Champ magnétique transverse (champ faible) Pas de calcul exact dans le cas général Phase géométrique Phase magnétique La variation de la phase d’interférence à l’ordre 1 est (la courbure des trajectoires variant aussi à l’ordre 1 en B) : AN : Le déplacement des franges est extrêmement sensible
Champ magnétique transverse : expériences Bobines en configuration de Helmholtz e = 83.5(2) meV, F=291 V/m B ~ 0 µT 17,7(1) rad détecteur B = 1,1 µT ~ 2 m 18,1(1) rad jet d’ion négatifs B = 1,3 µT 17,9(1) rad laser Le nombre d’anneaux est le même L’enveloppe de la figure d’interférence se déplace sous l’effet de la force de Lorentz 23 cm donc les franges se déplacent aussi !! 42 cm W. Chaibi et al., Eur. Lett.82, 20005 (2008)
Champ magnétique transverse : était-ce évident ? Erreur signalée sans démonstration Point de vue théorique : était-ce démontré ? T.H. Boyer, Am. J. Phys. 40, 56 (1972) R.G. Chambers, Phys. Rev. Lett. 5, 3 (1960) Quelques calculs dans des cas particuliers (bande de champ) T.H. Boyer, Phys. Rev. D 8, 1679 (1973) D.H. Kobe, Ann. Phys. 123, 381 (1979) Feynman, Lectures on Physics, Tome 2 Point de vue expérimental : déphasage et déplacement par un gradiant de champ électrique F. Shimizu, K. Shimizu and H. Takuma, Jpn. J. Appl. Phys. 31, L436 (1992)
détecteur 13 cm solénoïde 2 m jet d’ion négatifs laser 23 cm W. Chaibi et al., Eur. Phys. J. D58, 2973(2010) B = 1.9 µT B = 27.8 µT B = 56.1 µT B = 82 µT B = 110.4 µT B = 137.5 µT 42 cm F ~ 291 V/m = 596.89122 nm l l Microscopie de photodétachement en champ magnétique : B//F Résolution exacte quantique (fonction de Green) Kramer, Bracher, Kleber, Europhys. Lett.56, 471 (2001) La phase est invariante par rapport au cas d’un champ magnétique nul
Champ magnétique : conclusion Robustesse des interférogrammes vis à vis du champ magnétique Les mesures d’affinités électroniques sont indépendantes du champ magnétique
Développements de la microscopie de photodétachement Qu’est ce que c’est ? Comment ça fonctionne ? Réaliser des développements expérimentaux Source d’ions négatifs Laser continu Excitation impulsionnelle (ns) monomode Détection en position des électrons (arrivées « simultanées ») Effectuer des mesures Affinités électroniques (la plus grande précision au monde) Influence du champ électrique sur les mesures Répondre à des problématiques Construction du déphasage Influence du champ magnétique sur les interférogrammes Expériences en cours : que voir avec le microscope ? Mise en évidence d’effets de rediffusion par le cœur ? Microscopie de photodétachement impulsionnelle
a hn Modèle électron libre? Rediffusion par le cœur ? Collisions à basse énergie : e- / Rydberg (n ~ 30) Que voir avec le microscope ? Peut-on observer un déphasage qui dépend d’une propriété de l’atome ? Atome excité e Atome hn Ion négatif K- + hn (Ti:Sa,triplé) K(n~30) + e- Photodétachement d’état excité ? Phosphore : changement de terme spectral Photodétachement avec un laser impulsionnel, qui permet d’atteindre plus facilement les courtes longueurs d’onde?
Microscopie de photodétachement en régime impulsionnel : Expériences avec l’iode Pourquoi l’iode ? Décharge à cathode chaude : jet d’ion d’iode très efficace (1 nA) Section efficace de détachement importante Seuil de détachement accessible au système laser (Ti:Sa doublé : 405 nm) 2P3/2 F2 = 4 F2 = 3 DE ~ 0,14 cm-1 F2 = 2 F2 = 1 eA(127I) = 24 672,87 (3) cm-1 = 3,059045 (4) eV • Interpolation peu précise + • Incertitudes liées à • l’excitation impulsionnelle : • décalage de l entre les deux lasers • glissement en fréquence • durée finie de l’impulsion R.J. Pelaez, J. Phys. B 42, 125001 (2009)
Conclusion La microscopie de photodétachement permet une mesure interférométrique de l’énergie du photo-électron. Cette méthode est la plus précise pour la détermination d’affinité électronique. La meilleure précision obtenue, pour le soufre, est de 0,6 µeV soit 5 mk. A l’ordre 1, la présence d’un champ magnétique longitudinal, même de l’ordre du champ terrestre, ne change pas le déphasage; le déphasage produit par le champ magnétique transverse est compensé par la force de Lorentz : l’interférogramme est inchangé. Les mesures d’affinités électroniques sont robustes vis-à-vis de la perturbation par le champ magnétique. Les photo-électrons peuvent être produits par une excitation pulsée (régime nanoseconde). Cette technique a permis une nouvelle détermination de l’affinité électronique de l’iode. Elle ouvre la voie au photodétachement d’états excités.
onde s onde p Perspectives Microscopie de photodétachement en onde p C. Bracher et al., Phys. Rev. A 67,43601 (2003) Photodétachement complet de H- Injection de neutres pour ITER (CEA + Artemis) Photodétachement en champ B Niveau de Landau En = (n+1/2) hnL (divergence de s) C. Greene, Phys. Rev. A36, 4236 (1987)