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ANALISI DI MATERIALI CON FASCI IONICI ALL’ACCELERATORE DI FIRENZE Massimo Chiari. Fisica Sperimentale (I.N.F.N.). Dipartimento di Fisica. PIXE-induced XRF. multi-angle scattering chamber. multipurpose IBA vacuum chamber. FACILITY AMS/IBA DI FIRENZE. da costruire. da montare.
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ANALISI DI MATERIALI CON FASCI IONICI ALL’ACCELERATORE DI FIRENZE Massimo Chiari
Fisica Sperimentale(I.N.F.N.) Dipartimento di Fisica
PIXE-induced XRF multi-angle scattering chamber multipurpose IBA vacuum chamber FACILITY AMS/IBA DI FIRENZE da costruire da montare external beam for aerosol analysis già operativi external m-beam Tandetron Accelerator 3 MV terminal voltage electrostatic chopper IBA Dual source injector external beam for archaeometry Multi-sample AMS injector High-energy AMS spectrometer
TECNICHE DI ANALISICON FASCI IONICI camera di scattering bersaglio beamline acceleratore protoni radiazione caratteristica rivelatore segnale spettro di energia
PRINCIPALI TECNICHE IBA PIXE (Particle Induced X-ray Emission) PIGE(Particle Induced g -ray Emission) PESA(Particle Elastic Scattering Analysis)
E(keV) VANTAGGI E LIMITI DELLE TECNICHE IBA multielementali alta sensibilità analisi quantitative non sono necessari pretrattamenti dei campioni non distruttive capacità di scanning capacità di microanalisi analisi superficiali nessuna informazione sui legami chimici
Si (Li) “BIG” Collimatore FC Target Si (Li) “SMALL” Finestra Upilex (7.5mm) He 1 cm
TEST DI RISOLUZIONE SPAZIALE in esterno(0.1 mm Si3N4 + 2 mm He) in vuoto 125 mm scansione su griglia di rame, di passo 125 mm FWHM ~5 mm FWHM ~10 mm
APPLICAZIONI IN GEOLOGIA Immagine ottica Inclusioni Mg Al 830 mm Si Ti Ca Fe Fe 830 mm Max Min
Area selezionata SMALL X BIG 370mm
APPLICAZIONI IN GEOLOGIA Th Y Si Ce Sr Al 750 mm
C N He O Cr MICRO-PESA IN ESTERNO 3 MeV pq = 135° Cr 46 mg cm-2/ Mylar 6 mm
m M Ei M m Ef m = 1 O rivelatore N C H PARTICLE ELASTIC SCATTERING ANALYSIS DE maggiori per piccoli m (nuclei leggeri) DE maggiori per grandi (backscattering) M m solo scattering in avanti