1 / 28

SPRZĘT NanoScope MultiMode SPM System

Przykładowe badania Mikroskopia S ond Skanuj ących AFM/STM Mgr Grzegorz Trykowski Wydział Chemii, UMK. SPRZĘT NanoScope MultiMode SPM System. Mikroskop MultiMode. SPRZĘT Tipy – igły skanujące. Wygląd uchwytu i tipów. ostrze. dźwignia. uchwyt. SPRZĘT NanoScope MultiMode SPM System. SPM

marc
Download Presentation

SPRZĘT NanoScope MultiMode SPM System

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. Przykładowe badania Mikroskopia SondSkanującychAFM/STMMgr Grzegorz Trykowski Wydział Chemii, UMK

  2. SPRZĘTNanoScope MultiModeSPM System Mikroskop MultiMode

  3. SPRZĘTTipy – igły skanujące Wygląd uchwytu i tipów ostrze dźwignia uchwyt

  4. SPRZĘTNanoScope MultiModeSPM System SPM Skanning Probe Microscopy Mikroskop Sond Skanujących AFMSTM Atomic Force Microscopy Scanning Tunneling Microscopy Mikroskop Sił AtomowychSkaningowy Mikroskop Tunelowy Tryby pracy AFM: CMContact Mode TMTapping Mode Phase Imaging TRTorsional Resonance Mode EFMElectric Force Microscopy LFMLateral Force Microscopy FMForce Modulation Imaging Nanoindentation, Nanoscratching

  5. SPRZĘTNanoScope MultiModeSPM System WYPOSAŻENIE DODATKOWE Tryby pracy AFM: Tryby pracy STM: • Praca w cieczach - Podstawowy - Praca w zadanej atmosferze • Wykonywanie nanozarysowań

  6. PRÓBKISPM = STM +AFM Obrazowanie z atomową rozdzielczością atomowo płaska, połysk (AFM, STM) max. śr. 15 mm, gr. 6 mm (AFM, STM) przewodząca (STM) Obrazowanie w skali nanometrycznej płaska gołym okiem, chropowatość < 0,05 mm (AFM, STM) Nieodpowiednia do SPM chropowatość widoczna gołym okiem (AFM, STM) ciecz (AFM, STM) gaz (AFM, STM)

  7. MOŻLIWOŚCI SPM = STM + AFM Możliwości pomiarowe mikroskopu SPM • Badanie topografii powierzchni z rozdzielczością >1nm • Badanie rozkładu ładunku elektrostatycznego • Badanie różnic tarcia na poziomie cząsteczkowym • Pomiar chropowatości powierzchni • Badanie różnic modułu Younga • Badanie różnic twardości

  8. PRZYKŁADOWE BADANIA Sprzęt PRACOWNIA ANALIZ MIKROSKOPOWYCH • Skaningowy Mikroskop Elektronowy (SEM), 2001 • Mikroskop Sond Skanujących (AFM/STM), 2005 • Mikroskop Optyczny, narzędzie pomocnicze

  9. PRZYKŁADOWE BADANIA ITO ITO Tlenek cynowo-indowy, cienka warstwa, przewodząca Metody badań mikroskopowych • Skaningowy Mikroskop Elektronowy • Mikroskop Sond Skanujących • Mikroanaliza Rentgenowska

  10. ITO SEM

  11. ITO AFM

  12. ITO AFM

  13. ITO AFM

  14. PRZYKŁADOWE BADANIA CVD Cienkie warstwy nanoszone techniką Chemical Vapour Deposition Metody badań mikroskopowych • Skaningowy Mikroskop Elektronowy • Mikroskop Sond Skanujących

  15. CVD SEM PRZYKŁADOWE BADANIA Ag/Cu 47 Ag 29 Cu SE BSE

  16. CVD AFM PRZYKŁADOWE BADANIA Cu Ag

  17. CVD AFM PRZYKŁADOWE BADANIA Cu Ag

  18. PRZYKŁADOWE BADANIA Polimery Degradacja polimerów Metody badań mikroskopowych • Skaningowy Mikroskop Elektronowy • Mikroskop Sond Skanujących • Mikroanaliza Rentgenowska

  19. POLIMERY SEM

  20. POLIMERY AFM PRZYKŁADOWE BADANIA

  21. POLIMERY AFM PRZYKŁADOWE BADANIA przed degradacją

  22. POLIMERY AFM PRZYKŁADOWE BADANIA po degradacji

  23. PRZYKŁADOWE BADANIA Węgle aktywne WĘGLE AKTYWNE GRANULKA Metody badań mikroskopowych • Skaningowy Mikroskop Elektronowy • Mikroskop Sond Skanujących • Mikroanaliza Rentgenowska

  24. WĘGLE AKTYWNE AFM

  25. WĘGLE AKTYWNE SEM C Ag

  26. WĘGLE AKTYWNE SEM C Ag

  27. Podsumowanie

  28. SEM i AFMmetody komplementarne

More Related