1k likes | 1.23k Views
Analitika II. Tömegspektrometria. Dr. Balla József 2010. Dr. Balla József: A tömegspektrometria analitikai és szerkezetvizsgálati alkalmazásai, 2009. oktatas/.ch.bme.hu/oktatas/konyvek/anal/…MS
E N D
Analitika II.Tömegspektrometria Dr. Balla József 2010.
Dr. Balla József: A tömegspektrometria analitikai és szerkezetvizsgálati alkalmazásai, 2009.oktatas/.ch.bme.hu/oktatas/konyvek/anal/…MS • Dr. Balla József: A gázkromatográfia analitikai alkalmazásai, 2. kiadás, Edison House Kft., Budapest, 2006. • Dr. Szöllősi Áron – Szerves szerkezetfelderítés előadási anyag.
A tömegspektrometria rövid története: • Wien ( 1896 ? ) • Thompson • Aston, Dempster • Nier • Johnson szervetlen MS 1900-1950 szerves MS 1950-től
A tömegspektrometria definíciója: 1. Dinamikus tömegmérési módszer 2. Csökkentett nyomású térben gerjesztés hatására a mintából keletkező ionokat gyorsító elektrosztatikus tér hatására olyan erőtérbe juttatjuk, ahol fajlagos tömegük (m/z) szerint elkülönülnek, és ezt követően egy detektorban mérjük az ionok intenzitását. Az ionintenzitás- fajlagos tömeg közötti függvénykapcsolat a tömegspektrum. A tömegspektrum egyedi. ( Ujjlenyomat.)
Mire jó az MS? • Minőségi azonosítás • Szerkezetvizsgálat (pontos tömeg = elemösszetétel) • Izotóparány • Kis mennyiségek mérése (pg, fg) • GC, LC, stb. kombinációk összetett mátrixok elemzésére • Proteomika • Molekulák energetikai tanulmányozása, stb.
Az MS elvi felépítése Vakuum rendszer Ion forrás Data System Analizátor Mintabevitel Detektor
1. Direkt mintabevitel (zsilipelés) gázok folyadékok szilárd minták bevitele 2. Indirekt mintabevitel GC-MS LC-MS CE-MS Mintabeviteli megoldások
Az ionforrások feladata: • Ionok előállítása • ionok gyorsítása • koherens ionnyaláb biztosítása Az ionizáció történhet gáz, folyadék és szilárd fázisban
Ionforrások: - szervetlen (Szikra, ICP-MS) - szerves „szerves” ionforrások: -EI -CI -FI -FD -FAB -MALDI -API: ESI, APCI, APPI
N M+ + 2e M + e gyorsító elektród izzó katód repeller elektron nyaláb (+) ionnyaláb Analizátor + + U + minta (M) - U = 1-100kV anód ionoptika S Az EI (electron impact: ütközéses ionforrás) elve
Térerő: 106V/cm (+) ionnyaláb Analizátor minta (M) M + elektromos energia [M + H]+ , M+, [M – H]+ FI, FD ionforrás
gyorsító elektród izzó katód repeller CH5+ + + + M + CH5+ [M+H]++CH4 anód minta (M) CI ionforrás Analizátor Reagens gáz: CH4, NH3, propán, PB
lezer [Mátrix + M] [Mátrix] + M [Mátrix] + M+ Nitrogén lézer Mátrix + M D ionizáció – deszorpció MALDI(Matrix Assisted Laser Desorption Ionization)
Ar+ + Ar Ar+ + Ar Ar+ + + + + + + ütközési cella Ar, He minta (M) Ar Arkin Arkin Arkin M++ Ar Arkin + M FAB M+ Analizátor
Partialvacuum Sample Inlet Nozzle (Lower Voltage) Pressure = 1 atmInner tube diam. = 100 um MH+ N2 + + + + + + + + + + + + MH22+ + + + + + + + + + + + + Sample in solution + + + + + + + + + + + + + + + + + N2 gas + + + + + MH33+ High voltage applied to metal sheath (~4 kV) Charged droplets ESI
Analizátorok • Mágneses analizátorok (180, 90, 60°-os eltérítésű) • kvadrupól analizátorok • ioncsapda • TOF • Orbitrap • FT-ICR • kettős fókuszálású • MS/MS, MSn
Ion C SCAN üzemmód Q1 tömeg kiválasztás Q2 ütközési cella Q3 Teljes Scan A C C+Ar m+1, m+2,…m+n m+1, m+2,…m+n Fragmensek elválasztása B D Csak aC ion AC fragmentációja pl. C=M+ Tömegspektrum m+3 % m+2 M+ m+1 m/z
100 95 90 85 80 75 70 65 60 55 Relative Abundance 50 45 40 35 30 25 20 15 10 5 0 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800 m/z Tripszinpeptidfrakciójának tömegspektruma 784.6 (M+2H)+2 785.4 (M+H)+ 1568.6 795.6 1567.5 1121.4 812.5 1122.5 830.4 1280.4 1234.4 1064.4 1570.6 852.5 691.5 1365.5 997.4 1180.3 391.0 428.9 1477.0 591.3 1706.0 1768.7
Detektorok • Fotolemezes detektor • ionsokszorozó • fotosokszorozó
Vákuumrendszerek: Analitikai készülékek: kétfokozatú Szerkezetvizsgálók: három fokozatú: 1. fokozat: elővákuum-rotációs szivattyú (102kPa-0.1-1kPa-ig) 2. fokozat: turbomolekuláris szivattyú diffúziós szivattyú (0.1-1 kPa-ról 10-6-10-7kPa-ig) 3. fokozat: iongatter (10-8-kPa-ig)
MS teljesítményjellemzők: • Felbontóképesség: R<104 kisfelbontású R>104 nagyfelbontású
MS teljesítményjellemzők II. • Érzékenység • Kimutatási határ mágneses 10-9 g kvadrupól 10-15 g MALDI-TOF 10-19-10-21 g • Tömegtartomány gázelemzők 1-100 dalton rutin analízisre 10-1000 dalton MALDI-TOF 10-106 dalton
MS teljesítményjellemzők III. • Tömegtartomány: gázelemzők 1-100 dalton rutin analízisre 10-1000 dalton MALDI-TOF 10-106 dalton • Tömegmérés pontossága: analitikai: 0.1-0.5 dalton nagyfelbontású: 10-4 dalton (1 ppm)
MS teljesítményjellemzők IV. • Tömegspektrum felvételi sebesség 0.1-1 s SCAN: pásztázó mérés- tömegspektrum SIM: szelektív ionkövetés- mennyiségi mérés
Adatkezelés (számítógépes) • Adatfeldolgozás ( nyers spektrum felvétele, feldolgozása, értékelése, tárolása, könyvtárazás…) • Szabályozás
Kisfelbontású MS • Pásztázó üzemmódú mérés (SCAN) • Szelektív ionkövetés (SIM)
Az MS mint analitikai információforrás: • Egyedi alkotók (GC, LC, CE stb. elválasztást követően) minőségi analízise • az alkotók mennyiségi elemzése a kromatográfiás csúcsok vagy a SIM mérés alapján
Az MS mint szerkezeti információforrás • Pontos tömegméréssel • és az egyedi alkotók spektrumának az értelmezésével
A tömegspektrumok értelmezése • EI • CI • FAB, MALDI • APCI, ESI spektrumok A legtöbb szerkezeti információ az EI spektrumokból!
Ionkémiai folyamatok az EI-ben 1. Primer ionizáció 2. Fragmentációs folyamatok 3. Kétszeres töltésű ionok 4. Pszeudo-molekulaionok 5. Elektronbefogásos ionizáció 6. Metastabil ionok