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第 16 章 质谱法 (Mass Spectrometry, MS). 16.1 质谱分析原理及质谱仪 一、基本原理概述 二、质谱仪性能指标 三、仪器组成 16.2 质谱图及其应用 一、质谱图 二、质谱峰类型 三、质谱定性分析 四、质谱定量分析. 发展历史: 1813 年: Thomson 使用 MS 报道了 Ne 是由 22 Ne 和 24 N e 两种 同位素组成;随后,同位素分析开始发展
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第16章 质谱法 (Mass Spectrometry, MS)
16.1 质谱分析原理及质谱仪 一、基本原理概述 二、质谱仪性能指标 三、仪器组成 16.2 质谱图及其应用 一、质谱图 二、质谱峰类型 三、质谱定性分析 四、质谱定量分析
发展历史: 1813年:Thomson使用MS报道了Ne是由22Ne和24Ne两种 同位素组成;随后,同位素分析开始发展 20世纪40年代初:开始将MS用于石油工业中烃的分析, 并大大缩短了分析时间 20世纪50年代初:质谱仪器开始商品化,广泛用于各 类有机物的结构分析。同时质谱方法与NMR、 IR等方法结合成为分子结构分析最有效的手段
20世纪80年代:非挥发性或热不稳定分子的分析进20世纪80年代:非挥发性或热不稳定分子的分析进 一步促进了MS的发展; 20世纪90年代:由于生物分析的需要,一些新的离 子化方法得到快速发展; 目前一些仪器联用技术如GC-MS,HPLC-MS,GC-MS-MS,ICP-MS等正发挥重要作用。
应用 质谱是应用最为广泛的化合物结构分析方法之一,它可以为我们提供以下信息: a) 样品元素组成; b) 无机、有机及生物分子的结构---结构不同,分子或原 子碎片不同(质荷比不同) c) 复杂混合物的定性定量分析---与色谱方法联用(GC- MS,LC-MS); d) 固体表面结构和组成分析---激光烧蚀等离子体---质谱 联用;样品中原子的同位素比。
磁场分离 (m/z) 离子源 轰击样品 带电荷的 碎片离子 电场加速(zeU) 获得动能(1/2mV2) 检测器记录 16.1 质谱分析原理及质谱仪 一、基本原理概述 质谱分析是将样品转化为运动的带电气态离子,于磁场中按质荷比(m/z)大小分离并记录的分析方法。 其过程为可简单描述为: 其中,z为电荷数,e为电子电荷,U为加速电压,m为碎片质量,V为电子运动速度。
二、质谱仪的分辨率 指质谱仪分辨相邻质量数离子的能力。定义为:两个相等强度的相邻峰(质量分别为m1和m2),当两峰间的峰谷不大于峰高的10%时,则可认为两峰已分开,其分辨率R为: 可见在质量数小时,分辨率亦较小。
实际工作中很难找到上述两相等的峰,常以 下式表示: 其中W0.05表示峰高5%处的峰宽。 R与离子通道半径r、加速器和收集器狭缝宽度、离子源的性质和质量等因素有关。
三、仪器组成 按质量分析器(或者磁场种类)可分为静态仪器和动态仪器,即稳定磁场(单聚焦及双聚焦质谱仪)和变化磁场(飞行时间和四极杆质谱仪)。 MS仪器: 进样系统 电离源 质量分析器 真空系统 检测系统
1. 真空系统 如图所示,质谱仪中所有部分均要处高度真空的条件下(10-4-10-6Torr), 其作用是减少离子碰撞损失。真空度过低,将会引起: a)大量氧会烧坏离子源灯丝; b)引起其它分子离子反应,使质谱图复杂化; c)用作加速离子的几千伏高压会引起放电; d)干扰离子源正常调节。
1.3-0.13Pa 2. 进样系统 对进样系统的要求:重复性、不引起真空度降低。 进样方式: a) 间歇式进样:适于气体、沸点低易挥发的液体、中等蒸汽压固体。注入样品(10-100g)—贮样器(0.5L-3L)—抽真空(10-2 Torr)并加热—样品蒸汽(压力梯度)—漏隙—高真空离子源
b) 直接探针进样:高沸点液体及固体 探针杆通常是一根规格为25cm6mm i.d.,末端有一装样品的黄金杯(坩埚),将探针杆通过真空闭锁系统引入样品,如图所示。 优点: 1)引入样品量小,样品蒸 汽压可以很低; 2)可以分析复杂有机物; 3)应用更广泛。 c) 色谱进样:利用气相和液相色谱的分离能力,进行多组份复杂混合物分析。
3. 电离源(室) 根据样品离子化方式通常可将电离源分为: 气相源:先蒸发再激发,适于沸点低于500oC、对热稳定的样品的离子化,包 括电子轰击源、化学电离源、场电离源、火花源; 解吸源:固态或液态样品不需要挥发而直接被转化为气相,适用于分子量高达105的非挥发性或热不稳定性样品的离子化。包括场解吸源、快原子轰 击源、激光解吸源、离子喷雾源和热喷雾离子源等。 根据电离源能量高低,通常可将电离源分为 硬源:离子化能量高,伴有化学键的断裂,谱图复杂,可得到分子官能团的信 息; 软源:离子化能量低,产生的碎片少,谱图简单,可得到分子量信息。 因此,可据分子电离所需能量不同可选择不同电离源。 将引入的样品转化成为碎片离子的装置。
a) 电子轰击源(Electron Bomb Ionization,EI) 作用过程: 采用高速(高能)电子束冲击样品,从而产生电子和分子离子M+,M+继续受到电子轰击而引起化学键的断裂或分子重排,瞬间产生多种离子。 水平方向:灯丝与阳极间(70V电压)—高能电子 —冲击样品—正离子 垂直方向:G3-G4加速电极(低电压)---较小动能---狭缝准直G4-G5加速电极(高电压)---较高动能---狭缝进一步准直--离子进入质量分析器。 特点:使用最广泛,谱库最完整;电离效率高;结构简单,操作方便;但分子离子峰强度较弱或不出现(因电离能量最高)。
b) 化学电离源(Chemical Ionization, CI) 作用过程: 样品分子在承受电子轰击前,被一种反应气(通常是甲烷)稀释,稀释比例约为103:1,因此样品分子与电子的碰撞几率极小,所生成的样品分子离子主要由反应气分子组成。 进入电离源的分子R-CH3大部分与CH5+碰撞产生(M+1)+离子;小部分与C2H5+反应,生成(M-1)+离子: 特点:电离能小,质谱峰数少,图谱简单;准分子 离子(M+1)+峰大,可提供分子量这一种要信息
样品 ↓ c) 场电离源(Field ionization, FI) 应用强电场(电压梯度107-108V/cm)诱导样品电离。 过 程:强电场(电极间距约10-4cm)—较大偶极矩和高极化率分子与阳极碰撞—带正电荷的碎片离子—进入聚焦单元。 阳极要求:电极尖锐,其上长满微针(W丝上的苯基腈裂解生成)构成多尖陈列电 极,既所谓“金属胡须”发射器,可提高电离效率。 特点:电离温和,碎片少,主要产生分子离子M+和 (M+1)+峰。
类似于场电离源,它也有一个表面长满“胡须” (长0.01mm)的阳极发射器(Emitter)。 过 程:样品溶液涂于发射器表面---蒸发除溶剂——强电场——分子电 离——奔向阴极——引入磁场 EI FI FD d) 场解吸源(Field desorption, FD) 特 点:特别适于非挥发性且分子量高达100000的分子。样品只产生分子离子峰和准分子离子峰,谱图最 为简单。
e) 火花源(Spark): 针对金属合金或离子残渣样品等非挥发性无机物 的分析,类似于AES中的激发光源。 过程:30kV 脉冲电压---火花---样品局部高热 ---元素蒸发---原子或离子--- 经加速进入磁场进行分离 特点:元素分析灵敏度高, 可分析复杂样品(60种元素), 谱图简单, 线性范围宽。
原子束 狭缝 样品层 探针 二次离子 FAB: 质量分析器 铜针探头 f) 快原子轰击(Fast atom bombardment, FAB) 过 程:高速电子——惰性气体电离——电场加速——高速原子离子束——撞击涂有样品的金属板——能量转移给样品分子——电离——引入磁场分离。 特点:1)分子离子和准分子离子峰强; 2)碎片离子峰也很丰富; 3)适合于热不稳定、难挥发的样品。
4. 质量分析器 作用是将不同碎片按质荷比m/z分开。 质量分析器类型:磁分析器、飞行时间、四极杆、 离子捕获、离子回旋等。 1)磁分析器 单聚焦型:用一个扇形磁场进行质量分析的质谱仪
电场加速,U为加速电压 因此亦可得到 带电离子进入质量分析器,在磁场(场强为B)作用下, 飞行轨道弯曲(曲率半径为Rm)。当向心力 Bzev 与 离心力 mv2/Rm相等时,离子才能飞出磁场区 当B、Rm、U三个参数中任两个保持不变而改变其中一个参数时,可得质谱图。现代质谱仪通常是保持U、Rm不变,通过扫描磁场来得到质谱图的。
下图是单聚焦型质量分析器更直观地的工作过程。下图是单聚焦型质量分析器更直观地的工作过程。 单聚焦质量分析器只是将m/z 相同而入射方向不同的离子聚焦到一点(或称实现了方向聚焦)。 但对于m/z 相同而动能(或速度)不同的离子不能聚焦,故其分辨率较低,一般为5000。
双聚焦型(Double focusing spectrometer) 为克服动能或速度“分散”的问题,即实现所谓的“速度(能量)聚焦”,在离子源和磁分析器之间加一静电分析器(ESA),如下图所示,于两个半径固定的扇形电极板上加一直流电压V,只有动能与其曲率半径相应的离子才能通过狭缝B----实现能量聚焦了! 然后,改变V值可使不同能量的离子从其“出射狭缝”引出,并进入磁分析器再实现方向聚焦。 双聚焦质量分析器分辨率可高达150,000! 思考:为什么双聚焦仪比单聚焦仪有更高的分辨率?
到达无场漂移管末端的时间为: 不同离子通过同一长度为L的无场漂移管所需时间相差: 2)飞行时间分析器(Time of flight, TOF) 过 程:不同荷电碎片在飞出离子源的速度(动 能)基本一致。某离子在到达无场漂移 管前端时,其速度大小为:
由于不同m/z的离子,其飞出漂移管的时间不同,因而实现了离子的分离。因为连续电离和加速使检测器产生连续输出而不能得到有效信息,因此实际工作中常采用相同频率的电子脉冲电离和脉冲电场加速,被加速的粒子经不同的时间到收集极上,并反馈到示波器上记录,从而得到质谱图。由于不同m/z的离子,其飞出漂移管的时间不同,因而实现了离子的分离。因为连续电离和加速使检测器产生连续输出而不能得到有效信息,因此实际工作中常采用相同频率的电子脉冲电离和脉冲电场加速,被加速的粒子经不同的时间到收集极上,并反馈到示波器上记录,从而得到质谱图。 特 点:扫描速度快(1000幅/s),可用于研究快速反应 或与GC联用;可用于高质量离子分析;体 积小,操作容易;分辨率比磁分析器稍差。
3)四极滤质器(Quadrupole mass filter) 过程:在两个相对的极杆之间加电压(U+Vcost),在另两个相对的极杆上加-(U+Vcost)。与前述双聚焦仪的静电分析器类似,离子进入可变电场后,只有具合适的曲率半径的离子可以通过中心小孔到达检测器。 特点:分辨率比磁分析器略低(max.2000); m/z范围与磁分析器相当;传输效率较高;扫描速度快,可用于GC-MS 联用仪。
离子阱的横截面图 4)离子阱(Ion trap analyzer) 过程:上下端罩(End cap)与左右环电极(Ring electrode)构成可变电场(前者接地,后者施以射频电压)——带电离子在一定轨道上旋转——改变电压——可使相同m/z离子依次离开进入电子倍增器而分离。 特点:结构简单、易于操作、GC-MS联用可用于m/z 200-2000的分子分析。
包括Faraday杯、电子倍增器、闪烁计数器、照相底片等包括Faraday杯、电子倍增器、闪烁计数器、照相底片等 4、检测器 1) Faraday 杯:下图是Faraday杯结构原理图 特点:可检测10-15A的离子流,但不适于高加速电压下的离子检测。 2)电子倍增器:类似于光电倍增管,可测10-18A电流。但有质量歧视效应。 3)闪烁计数器:记录离子的数目。
16.2 质谱图及其应用 一、质谱图 以质荷比m/z为横座标,以对基峰(最强离子峰,规定相对强度为100%)相对强度为纵座标所构成的谱图,称之为质谱图。
二、质谱峰类型 • 分子在离子源中可产生各种电离,即同一分子可产生多种离子峰: • 分子离子峰、 • 同位素离子峰、 • 碎片离子峰、 • 重排离子峰、 • 亚稳离子峰等。
分子离子 碎片离子 重排裂解 碰撞裂解 设有机化合物由A,B,C和D组成,当蒸汽分子进入离子源,受到电子轰击可能发生下列过程而形成各种类型的离子:
1)分子离子峰 ABCD+为分子离子峰,m/z即为分子的分子量。对于有机物,杂原子S,O,P,N等上的未共用电子对最易失去,其次是电子,再其次是 电子。 2)碎片离子峰 因分子发生键的断裂只需要十几电子伏特的能量,而电子轰击的能量为70eV,因而会产生更小的碎片离子峰。
烷烃化合物断裂多在C-C之间发生,且易发生在支链上:烷烃化合物断裂多在C-C之间发生,且易发生在支链上: ~ ~ 烯烃多在双键旁的第二个键上开裂: 苯的最强峰为M+,芳香族化合物将先失去取代基,再形成苯甲离子 ~ ~
含C=O键化合物的开裂多在与其相邻的键上: ~ ~ 对含杂原子的分子,断裂的键位顺序为 位、 位和 位: R—X R++X• ~ 共振稳定化离子 ~
化学电离源 麻黄碱 电子轰击源 分子离子峰 化学电离与电子轰击源质谱图比较 分子离子峰和碎片离子峰的识别和解析,对有机分子的定性分析十分重要。可以通过选择不同离子源来获得不同的信息。 下图是不同离子源下麻黄碱的质谱图。
3) 同位素峰 由于天然同位素的存在,因此在质谱图上出现M+1,M+2等峰,由这些同位素所形成的峰称之为同位素峰。
m/e=58,是具有γ-H甲基酮的特征峰。 4)重排离子峰 原子或基团经重排后再开裂而形成一种特殊的碎片离子,称重排离子。如醇分子离子经脱水后重排可产生新的重排离子峰。 1. 麦氏重排
γ位上有氢原子的烷基取代芳烃: 2. 逆狄尔斯—阿尔德反应(环烯断裂反应)
3. 饱和分子的氢重排(消除反应) X为卤素原子时,消去HX X为—OH时,消去H2O X为—SH…,…H2S等。
4)亚稳离子峰 过程:质量数为m1的带电离子,由于碰撞等原因,在进入质量分析器之前,失去中性碎片m而变成m2的离子(此时m1能量变小,在磁场中有更大的偏转)从而形成亚稳离子峰m*,此时可将此峰看成m1和m2的“混合峰”,即形成“宽峰”,极易识别。且满足下式: 此式可用于寻找裂解途径(通过母离子m1与子离子m2的关系)。
分子量测定、化学式及结构式鉴定 三、质谱定性分析 1、分子量确定 根据分子离子峰质荷比可确定分子量,通常分子离子峰位于质谱图最右边,但由于分子离子的稳定性及重排等,质谱图上质荷比最大的峰并不一定是分子 离子峰。那么,如何辩认分子离子峰呢? 1)原则上除同位素峰外,分子离子峰是最高质量的峰。 但要注意“醚、胺、脂的(M+H)+峰”及“芳醛、醇等的(M-H)+峰”。
2)分子离子峰应符合“氮律”。 • 在C、H、O组成的化合物中,分子离子峰的质量数 一定是偶数; • 在含C、H、O、N化合物中,含偶数个N的分子量 为偶数,含奇数个N的分子量为奇数。
3)分子离子峰与邻近峰的质量差是否合理。 有机分子失去碎片大小是有规律的: 如失去H、CH3、H2O、C2H5…….,因而质谱图中可看到M-1,M-15,M-18,M-28等峰, 不可能出现M-3,M-14,M-24等峰,如出现这样的峰,则该峰一 定不是分子离子峰。
4)利用同位素帮助识别分子离子峰。如含有Cl和Br时,由于其含有丰度较高的重同位素,Cl中含35Cl为75.77%, 37Cl为24.23%,Br中79Br为50.54%, 81Br 为49.46%。因此,若分子中含有一个氯原子,则M和M+2峰强度比为3:1;若分子中含有一个溴原子,则M与M+2之比为1:1。 5)EI 源中,当电子轰击电压降低,强度不增加的峰不是分子离子峰。
2、化学式的确定 • 高分辨质谱:可分辨质荷比相差很小的分子离子 • 或碎片离子。如CO和N2分子离子的 • m/z均为28,但其准确质荷比分别为 • 28.0040和27.9949,高分辨质谱可以 • 识别它们。
b) 低分辨质谱: 不能分辨m/z相差很小的碎片离子,如CO和N2。通常通过同位素相对丰度法来确定分子的化学式。 对于化合物CwHxNyOz,其同位素离子峰(M+1)+和(M+2)+与分子离子峰的强度比分别为: 忽略2H和17O的影响,上二式简化为
对于含有Cl, Br, S 等同位素天然丰度较高的化合物 其同位素离子峰相对强度可由(a+b)n 展开式计算,其中a、b分别为该元素轻重同位素的相对丰度,n为分子中该元素的原子个数。 CH3Cl;因为,a=3, b=1, n=1, 因此(3+1)1=3+1, 即m/z50(M):m/z52(M+2)=3:1 CH2Cl2因为,a=3, b=1, n=2, 因此(3+1)2=9+6+1, 即m/z84(M):m/z86(M+2):m/z88(M+4)=9:6:1 CHCl3:因为a=3, b=1, n=3, 因此,(3+1)3=27+27+9+1 即 m/z118(M):m/z120(M+2):m/z122(M+4):m/z124(M+6) =27:27:9:1