（仪器内部已预置“ GATE=1s”“SMPL=1S” ） …

4. （仪器内部已预置“GATE=1s”“SMPL=1S”）… • 将被测信号送入A输入口（0.1Hz~100MHz），若被测信号大于10MHz，按输入频段键100M/10M，灯“亮”为测量大于100MHz的信号。（E312B00无此功能）；若被测信号大于100MHz，按频率选择键“FERQ”选择输入通道CHC，将输入信号送入C输入通道口，进行测量。（E312B05、E312B10有此功能） • 2、周期测量：“PER”被按下后，VFD显示屏显示“PER”和CHA，将小于10MHz的被测信号送入A输入口，测量同频率测量。 • 3、时间间隔测量（建议使用“DC”耦合方式，并根据测量需要设定触发电平）。 • 选择“T1”键，根据测量的方式可选择“COM”，若显示屏显示CHA表明单通道输入被测信号，选择触发沿的状态，将信号送入“CHA”输入通道。CHA的测量一般用于测量脉冲宽度，若显示屏显示CHA B，表明双通道输入被测信号；同样选择触发沿的状态，将信号分别送入“CHA”和“CHB”输入通道，CHA B的测量一般用于测量两脉冲时间间隔。 • 时间间隔测量时应进行触发电平设置。触发电平设置详见（6）。 • 4、B/A测量 • 应大于的频率信号，其余设置同频率测量设置。

5. 5、TOT累计测量 • TOT测量同频率测量。 • 输入信号送入”CHA”,揿“TOT”键，计数开始。在计数过程中，再揿“TOT”键，计数结束。计数结束时，再揿“TOT”键，新的计数开始……在计数过程中，揿“STOP”键，计数暂停，再揿一下，计数在原来的基础上累计。 • 6、触发电平的设置 • 仪器进行测量的过程中，揿“CH”键，显示CHA或CHB。CHA表示输入A通道的触发电平设置，CHB 表示输入B通道的触发电平设置。揿“”键，表示触发电平步进递增30mV；“”键表示触发电平步进递减30mV。揿“#”键，进行触发电平的选择，若设置电平指示灯“亮”，表示预置电平状态；若指示灯“灭”，则表示设置“0”电平状态。

6. （四）操作维护注意事项 • 1、本仪器采用COMS集成电路和贴片器件为防止意外损坏，修理时严禁使用两芯电源线的电烙铁，测试仪器或其它设备的外壳应接地良好。 • 2、修理焊接时，严禁带电操作，修理时，一般先排除外部故障和直观故障，如开路、短路或参数设置不合适等，其次测量机内各组电压是否正常。在各组电压正常的情况下，检查有故障部分电路的静态工作点是否正常，有无虚焊点。集成电路各故障应在慎重判断后，予以排除，检修时示波器的探头或万用表的表笔应在测试点上，不能碰及邻近各点，以免故障扩大化。 • 3、本仪器为较精密的设备，用户自己修理有困难时应及时返回工厂修理。

7. 半导体管特性图示仪（XJ4810型） • 半导体管特性图示仪可以用来测量三极管的特性曲线，β参数值，二极管的特性曲线，稳压二极管特性曲线等参数。 • 现将仪器面板功能及实用方法介绍如下。 • 示波管及其控制电路 • 1W8：辅助聚焦 急W7：聚焦 • 相互配合调节，使图像清晰 • 1W6：辉度 • 它是改变示波管栅阴极之间电压，改变发射电子的多烽来控制辉度，使用时辉度应适中。

9. 20K1：电流/开关 • 它是一种具有22档四种偏转作用的开关。 • 集电极电流、10μA/div～0.5A/div共15档的作用是通过20R1～20R15集电极电流取样电阻的作用，将电流转化为电压后，经Y轴作用的放大而取得读测电流的偏转值。 • 二极管漏电流 0.2μA/div～0.5A/div共5档的作用通过20R16～20R20二极管漏电流取样电阻的作用，将电流转化为电压后，经Y轴作用的放大而取得读测电流的偏转值。 • 基极电流或基极源电压，由阶梯取样电阻41R50～41R51分压，经放大器而取得其基极电流偏转值。 • 20:电流/度×0.1倍率开关。 • 它是配合20中电流/度而用的辅助作用开关，通过放大增益扩展10倍，以达到改变电流偏转的倍率作用。 • 20：移位。 • 它是通过分差平衡直流放大器的前级放大管中射极电阻的改变，以达到被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动。

12. 50AJ1：峰值电压范围 • 它是通过集电极变压器50B2的不同输出电压的选择而分出0～10V（5A）、0～50V（1A）、0～100V（0.5A）与0～500V（0.1A）四档、当由低档改换到高档，观察半导体管的特性时，必须先将峰值电压50B1调到0值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则易击穿被测晶体管。 • AC档的设置是专为二极管或其他测试，提供双向扫描，它能方便地同时显示器件正反向的特性曲线。 • 当集电极电源短路或过载时，50B×1将起保护电路作用。 • 51AJ1：极性 • 极性选择开关可以转换正负集电极电压极性，在NPN型与PNP型半导体管的测试时，极性可按面板上指示的极性选择。

13. 50B1：峰值电压% • 峰值控制旋钮可以在1～10V、0～50V、0～100V或0～500V之间连续可变，面板上的标称值是作近似值使用，精确的读数应由X轴偏转灵敏度读测。 • 50K1：功耗限制电阻 • 它是串联在被测管的集电极电路上限制超过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。 • 通过图示仪的特性曲线簇的斜率，可选择合适的负载电阻阻值。 • 50W2：电容平衡 • 由于集电极电流输出端对地的各种杂散电容的存在（包括各种开关，功耗限制电阻，被测管的输出电容等），都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量上的误差，为了尽量减小电容性电流，测试前应调节50W2电容平衡，使电容电流减至最小状态。 • 50W1：辅助电容平衡 • 辅助电容平衡是针对集电极变压器50B2次级绕组对地电容的不对称，后再次进行电容平衡调节。

15. 42AJB：极性 • 极性取决于被测半导体器件需要。 • 40W2：级/簇 • 级/簇控制用来调节阶梯信号的级数在0～10的范围内，连续可调。 • 40W1：凋零 • 未测试前，应首先调整阶梯信号起始级，零电位的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号后将70AJ1置于“零电压”，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节“阶梯调零”控制器使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的“零电位”即倍准确校正。 • 40K1：阶梯信号选择开关 • 阶梯选择开关是一个具有22档二种作用的开关。 • 基极电流0.2μA级～50mA/级共17档，其作用是通过改变开关的不同档级的电阻值（由40R8～40R20组成），使基极电流按0.2μA级～50mA/级，所在档级内的电流通过被测半导体。 • 基极电压源0.05V/级～1V/级具5级，其作用通过40R1-40R7与40R27的不同反馈分压相应输出0.05V/级～1V/级的电压。 • 42AJ1A：重复；关、开关 • 重复：使阶梯信号重复出现，作正常测试。 • 关：关的位置是阶梯信号处于待触发状态。

17. 70AJ1：测试选择开关 • 测试选择开关可以在测试时在任选左右两从此被测管的特性，当置“二簇”时，即通过电子开关自动地交替显示左右二簇特性曲线。（使用时“级/簇”应置适当位置，以达到较佳观察。二簇特性曲线比较时，请勿用单簇按）。 • 零电压、零电流： • 被测管未测之前，应首先调整阶梯信号的起始级在零电位的位置。当荧光屏上已观察到基极阶梯信号，再按下“零电压”观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节“阶梯调零”控制器使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的零电压即被准确地校准。 • 按下“零电流”时，使被测半导体管的基极处于开路状态，即能测量特性。

19. 阶梯信号　　　　　　　　重复 • 极性　　　　　　　　　　正（＋） • 阶梯选择　　　　　　　　２０μＡ／级 • （二） ＮＰＮ型３DＫ２半导体的ｈＧＥ测试　　　　（） • 峰值电压范围　　　　　０～１０Ｖ • 极性　　　　　　　　　正（＋） • 功耗电阻　　　　　　　２５０Ω • Ｘ轴　　基极电流　　 • Ｙ轴　　集电极电流　　１ｍＡ／度 • 阶梯信号　　　　　　　重复 • 极性　　　　　　　　　正（＋） • 阶梯选择　　　　　　　２０μＡ／级

21. 三）Ｎ沟耗尽型管３Ｄ１７的特性曲线 • 　峰值电压范围　　　　　０～１０Ｖ • 极性　　　　　　　　　正（＋） • 功耗电阻　　　　　　　１ＫΩ • Ｘ轴　　集电极电压　　１Ｖ／度　　 • Ｙ轴　　集电极电流　　０.５ｍＡ／度 • 阶梯信号　　　　　　　重复 • 极性　　　　　　　　　负（＋） • 阶梯选择　　　　　　　０.２Ｖ／度 • （四）硅整流二极管２ＣＺ８２Ｃ的特性曲线 • 峰值电压范围　　　　　０～１０Ｖ • 极性　　　　　　　　　正（＋） • 功耗电阻　　　　　　　２５０Ω • Ｘ轴　　集电极电压　　０.１Ｖ／度 • Ｙ轴　　集电极电流　　１０ｍＡ／度

24. （六）整流二极管2DP5C反向漏电流测试 • 峰值电压范围　　　　　０～１０Ｖ • 功耗电阻　　　　　　　1KΩ • Ｘ轴　　集电极电压　　0.2μA／度 • Ｙ轴　　反向漏电流 拉出×0.1 • （七）NPN型3DG8二簇特性曲线比较 • 　峰值电压范围　　　　　０～１０Ｖ • 极性　　　　　　　　　正（＋） • 功耗电阻　　　　　　　250Ω • Ｘ轴　　集电极电压　　1V／度　　 • Ｙ轴　　集电极电流　　1ｍＡ／度 • 阶梯信号　　　　　　　重复 • 极性　　　　　　　　　正（＋） • 阶梯选择　　　　　　　10μA/级

26. 测试配对管要求甚高时，可改变二簇移位，使右簇曲线向左，视其曲线重合程度。测试配对管要求甚高时，可改变二簇移位，使右簇曲线向左，视其曲线重合程度。