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Photovoltaik. Vorlesung in den Studiengängen EVS/TGA SS 2006 Dr. Karl Molter FH Trier. Technologie - Anlagentechnik - Anwendung. Inhalt. Kurze Physik der Solarzelle Photovoltaik-Technologien Photovoltaik Anlagentechnik Photovoltaik: Gebäudeintegration. 1. Kurze Physik der Solarzelle.
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Photovoltaik Vorlesung in den Studiengängen EVS/TGA SS 2006 Dr. Karl Molter FH Trier Technologie - Anlagentechnik - Anwendung
Inhalt • Kurze Physik der Solarzelle • Photovoltaik-Technologien • Photovoltaik Anlagentechnik • Photovoltaik: Gebäudeintegration REND Dr. Karl Molter
1. Kurze Physik der Solarzelle • Der photovoltaische Effekt und die Solarzelle • Ladungstrennung: Der p/n-Übergang • Solarzellen-Kennlinien REND Dr. Karl Molter
Historie • 1839: Entdeckung des lichtelektrischen Effekts durch Bequerel • 1873: Entdeckung des fotoelektrischen Effekts bei Selen • 1954: Erste Silizium Solarzelle im Zuge der Entwicklung der Halbleitertechnologie ( = 5 %) REND Dr. Karl Molter
h • Absorption von Licht im Festkörper • Erzeugung freier Ladungsträger + • Wirksame Trennung der Ladungsträger - Der photovoltaische Effektund die Solarzelle Ergebnis: verschleißlose Erzeugung elektrischer Energie unter Verwendung von Solarstrahlung REND Dr. Karl Molter
• • • • • • • • Energiezustände in Festkörpern:Bänderschema Atom Molekül Energieniveaus REND Dr. Karl Molter
Energiezustände in Festkörpern:Isolator Elektronenenergie Leitungsband Bandlücke EG (> 5 eV) Fermi- niveau EF Valenzband REND Dr. Karl Molter
Begriffe: Ferminiveau EF: Grenze zwischen besetzten und unbesetzten Niveaus bei T = 0 K; Valenzband: höchstes Energieband unterhalb des Ferminiveaus, bei T = 0 K voll besetzt, die Elektronen sind örtlich fest gebunden Leitungsband: nächsthöheres Energieband, die Elektronen sind delokalisiert; Bandlücke EG:Abstand zwischen Valenzband und Leitungsband REND Dr. Karl Molter
Energiezustände in Festkörpern:Metall/Leiter Elektronenenergie Fermi- niveau EF Leitungsband REND Dr. Karl Molter
Energiezustände in Festkörpern:Halbleiter Elektronenenergie Leitungsband Bandlücke EG ( 0,5 – 2 eV) Fermi- niveau EF Valenzband REND Dr. Karl Molter
Elektronenenergie Beim absoluten Nullpunkt nehmen alle Elektronen den niedrigst möglichen Energiezustand an. Sie können nun zwei Arten von Energie aufnehmen: • Thermische Energie kT (k = Boltzmannkonstante, 1.381x10-23 J/K, T = absolute Temperatur in Kelvin) • Lichtquanten h (h = Plancksches Wirkungsquantum, 6.626x10-34 Js, = Frequenz des Lichtquants in s-1. Wenn der aufgenommene Energiebetrag reicht, können die Elektronen die Bandlücke überwinden und vom Valenzband in das Leitungsband gelangen: REND Dr. Karl Molter
x h h x Generation Rekombination + + - - Energiezustände in Festkörpern:Energieaufnahme / -abgabe Elektronenenergie Leitungsband EF Valenzband REND Dr. Karl Molter
Energiezustände in Festkörpernphysikalische Eigenschaften: Thermisch: Je größer die Bandlücke, desto geringer die Leitfähigkeit. Mit steigender Temperatur sinkt der elektrische Widerstand (Heißleiter) Optisch: Je größer die Bandlücke, desto geringer ist die Absorption von Lichtquanten (farbiges oder transparentes Material). Mit steigender Beleuchtung sinkt der elektrische Widerstand (Photowiderstand) REND Dr. Karl Molter
IIIB IVB VB Si B P 14 5 15 Halbleiter Zur Schaffung einer internen Barriere, die eine Trennung positiver und negativer Ladungsträger ermöglicht und die Rekombination verhindert, greift man auf das Prinzip der Dotierung von Halbleitern zurück: Unter Dotierung versteht man die Substitution von Gitteratomen des Kristalls durch Fremdatome mit anderer Wertigkeit. Das Halbleitermaterial ist i.A. vierwertig (z.B. Silizium). Dotiert wird beispielsweise mit Bor oder Phosphor: REND Dr. Karl Molter
Bandschema Leitungsband Freie Elektronen P+ P+ P+ P+ P+ P+ EF Si Si Si Si Si Si Si Si Si Donator Niveau Valenzband - - - - - - - N - Dotierung Kristall n-leitendes Silizium REND Dr. Karl Molter
Bandschema Leitungsband B- Si Si Si Si Si Si Si Si Si EF Akzeptor Niveau B- B- B- B- B- „Freie“ Löcher + + + + + + + Valenzband P - Dotierung Kristall p-leitendes Silizium REND Dr. Karl Molter
Raumladungs- oder Feldzone Diffusion Ud EF P+ P+ P+ P+ P+ B- B- B- B- B- + + + + + + Diffusion p - Gebiet Ed - + n - Gebiet Diffusionsspannung - - - - - - Der unbeleuchtete p/n-Übergang Bandschema REND Dr. Karl Molter
E = h Photostrom + + + + + + - Der beleuchtete p/n-Übergang Bandschema (Absorption im p-Gebiet) Raumladungs- oder Feldzone - - - - - Ud EF P+ P+ P+ P+ P+ B- B- B- B- B- Ed p - Gebiet - + n - Gebiet Diffusionsspannung REND Dr. Karl Molter
h + + + + + + + + + + + + + p-Silizium + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + + - - - - - - - - - - - - Diffusion E elektrisches Feld + + + + + + + + + + + + - - - - - - - - - - - - n-Silizium - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - - Raumladungszone - - - - - - - - - - - - - Der beleuchtete p/n – ÜbergangKristall REND Dr. Karl Molter
Vorderseitenkontakt - hn Antireflex- Beschichtung n-Gebiet p-Gebiet ~0,2µm + + + + + + + + + + + - - - - - - - - - - ~300µm Raumladungszone metallisierte Rückseite Aufbau einer Si Solarzelle REND Dr. Karl Molter
ISG IL IPH RS ID Strom- quelle RP RL USG UL UD Ersatzschaltbild einer Solarzelle IPH: Photostrom der Solarzelle ID /UD: Strom und Spannung an der internen p-n Diode RP: paralleler Verlustwiderstand aufgrund Oberflächenin- homogenitäten und Verlustströmen an den Kanten der Solarzelle RS: serieller Verlustwiderstand aufgrund des Bahnwiderstands der Siliziumscheibe, der Kontakte und Anschlüsse ISG/USG: Solargeneratorstrom und -spannung RL/IL/UL: Lastwiderstand, Spannung und Strom Es gilt: ISG = IL, USG = UL REND Dr. Karl Molter
ID Diodenkennlinie ID ISG UD=USG UD RL RL= RL=0 MPP ISG / PSG Lastwiderstand ISG = I0 = IK Solargenerator- kennlinie ID IMPP Leistung MPP = Maximum Power Point USG UMPP U0 Idealisierte Kennlinie einer Solarzelle vereinfachtes Schaltbild REND Dr. Karl Molter
charakteristische Eigenschaften einer Solarzelle • Kurzschlußstrom ISC, I0 oder IK: • In weiten Grenzen proportional zur Einstrahlung • Steigt um ca. 0,07% pro Kelvin Temperaturanstieg. • Leerlaufspannung U0, UOC oder VOC: • Entspricht Spannung über interner Diode • Steigt rasch mit zunehmender Einstrahlung • typische Werte für Si: 0,5...0,9V • Sinkt um ca. 0,4% pro Kelvin Temperaturanstieg. REND Dr. Karl Molter
charakteristische Eigenschaften einer Solarzelle • Leistung (MPP, Maximum Power Point) • UMPP» (0,75 ... 0,9) UOC • IMPP» (0,85 ... 0,95) ISC • Die Leistung sinkt um ca. 0,4% pro Kelvin Temperaturanstieg • Die Nennleistung einer Solarzelle wird bei international festgelegten Testbedingungen(G0 = 1000 W/m2, TZelle = 25°C, AM 1,5) gemessen und in WP (Watt peak) angegeben. REND Dr. Karl Molter
charakteristische Eigenschaften einer Solarzelle • Der Füllfaktor (FF) einer Solarzelle ist definiert aus dem Quotienten von PMPP und dem Produkt aus Kurzschlussstrom IK und Leerlaufspannung U0 • FF = PMPP / U0 IK • Der Wirkungsgradeiner Solarzelle ist das Verhältnis der auf die Vorderseite auftreffenden Strahlungsleistung AGG,g zur von der Zelle abgegebenen elektrischen Leistung PMPP: = PMPP / AGG,g REND Dr. Karl Molter
P = 0,88W, (0,18) P = 1,05W, (0,26) P = 1,00W, (0,18) Solarzellen Kennlinien (cSi) REND Dr. Karl Molter
Kennlinienfeld einer Solarzelle REND Dr. Karl Molter
2. Photovoltaik-Technologien • Ausgangsmaterialien • Technologien • Marktanteile und Marktentwicklung REND Dr. Karl Molter
Silizium (Si) IB IIB IIIB IVB VB VIB Germanium (Ge) Gallium-Arsenid (GaAs) Al Si P 13 14 15 Ga 31 Ga Ge As 31 32 33 Cadmium-Tellurid (CdTe) Indium-Phosphor (InP) In Cd Te Sb 49 52 48 51 Se Cu 29 34 In 49 Aluminium-Antimon (AlSb) Kupfer, Indium, Gallium, Selen (CIS) Ausgangsmaterialien Definition eines Halbleiters:Ausschlaggebend ist die Elektronenkonfiguration im Festkörper Ausschnitt aus der Periodentafel REND Dr. Karl Molter
Wirkungsgrade verschiedener Solarzellentypen(Theorie / Labor) REND Dr. Karl Molter
Technologische Bewertungskriterien • Ein gutes Potenzial für einen hohen Wirkungsgrad • Verfügbarkeit der benötigten Materialien • Akzeptable Preise für die Materialien • Potential für kostengünstige Herstellungsverfahren • Stabilität der Eigenschaften über Jahrzehnte • Umweltverträglichkeit der Materialien und Herstellungsverfahren REND Dr. Karl Molter
Bewertung Monokristallines Silizium: • Produktionswirkungsgrad 15 - 18% (>23% im Labor) • großer Materialeinsatz nötig • Preis für Rohsilizium schwankend • ausgereifte Herstellungsverfahren,aber energieintensiv, Verbilligung durch EFG und Bänder-Technologie • Hohe Langzeitstabilität • Material umweltverträglich • z.Zt. zweitgrößter Marktanteil REND Dr. Karl Molter
Bewertung Multikristallines Silizium: • Produktionswirkungsgrad 12 - 14% • großer Materialeinsatz nötig • Preis für Rohsilizium schwankend • ausgereifte Herstellungsverfahren,weniger energieintensiv als mono-Si • Hohe Langzeitstabilität • Material umweltverträglich • z.Zt. größter Marktanteil REND Dr. Karl Molter
Bewertung amorphes Silizium (a-Si): • Produktionswirkungsgrad 6 – 8% • Dünnschichttechnologie (<1µm), geringer Materialbedarf • Preis für Rohsilizium schwankend • Ausgereiftes, kostengünstiges Herstellungsverfahren • garantierte Langzeitstabilität nur für Wirkungsgrade von 4 – 6% • Material umweltverträglich REND Dr. Karl Molter
Bewertung Kupfer, Indium, Diselenid (CIS) • Produktionswirkungsgrade 11 – 14% • Dünnschichttechnologie (<1µm), geringer Materialbedarf • Herstellung grossflächiger Module in einem Schritt • gute Langzeitstabilität • Materialien nicht unbedenklich (Se, geringe Mengen Cd) REND Dr. Karl Molter
Bewertung GaAs, CdTe und andere • Produktionswirkungsgrade teils bis 18% • Relativ exotische Ausgangsmaterialien • Teils sehr hohe Materialpreise • Herstellungsverfahren in vielen Fällen noch nicht grosserientauglich • Langzeitstabilität noch nicht umfassend getestet • Materialien nicht unbedenklich (insbesondere As, Cd) REND Dr. Karl Molter
SiO2 + 2C = Si + 2CO Herstellungsverfahren 1. Silizium Wafertechnologie (mono- oder multikristallin) Reinstsilicium99.999999999% Schmelzen / Kritallisieren Vorkommen: Siliziumoxid (SiO2) = Quarzsand Säulenherstellung Mechanisches Schneiden Dicke ca. 300µm Minimale Dicke: ca. 100µm Scheibenherstellung Typische Wafergrösse: 10 x 10 cm2 Link zu Herstellerfirmen Silizium Wafer Scheibenreinigung Qualitätskontrolle Wafer REND Dr. Karl Molter
Herstellungsverfahrenmono- oder multikristallines Si REND Dr. Karl Molter
Herstellungsverfahren Silizium Band-Ziehverfahren EFG: Edge-definded Film-fed Growth Weniger energieintensiv als Kristallziehverfahren Dicke: ca. 100µm Weniger Si Abfall, da kein Sägen notwendig REND Dr. Karl Molter
Herstellungsverfahren Dünnschichtverfahren (CIS, CdTe, a:Si, ... ) Halbleitermaterialien werden grossflächig aufgedampt Dicke: ca. 1µm Flexible Unterlage möglich Weniger energieintensiv als Si Verfahren Geringer Materialverbrauch Typische Produktionsgrösse:1 x 1 m2 CIS Module REND Dr. Karl Molter
Entwicklungstrends • Dünnschichttechnologie • Geringer Materialverbrauch • Flexible Zellen • Fertigung großflächiger Module in einem Schritt • Wirkungsgradverbesserung • Tandemzellen zur besseren Ausnutzung des Sonnenspektrums • Light Trapping, Verbesserung der Absorptionseigenschaften • Transparente Kontaktierung • Beidseitig nutzbare Zellen (bifacial cells) REND Dr. Karl Molter
Tandem-zelle Schema einer Multispektralzelle auf der Basis der Chalkopyrite Cu(In,Ga)(S,Se)2 REND Dr. Karl Molter
Dünner Si-Wafer REND Dr. Karl Molter
Energierückzahlzeit(energy payback time (EPBT) REND Dr. Karl Molter
Marktanteile REND Dr. Karl Molter
Solarzellen-Hersteller REND Dr. Karl Molter
Weltweit installiert PV-Leistung REND Dr. Karl Molter
In Deutschland installierte PV-Leistung REND Dr. Karl Molter
Stand Ende 2003 Kosten PV-ModuleLernkurve: Kosten pro Wp über kumulierter produzierter Leistung REND Dr. Karl Molter
3. PV Anlagentechnik • PV Systemtechnik • Strahlungsangebot • Erträge • Baurechtliche Aspekte REND Dr. Karl Molter