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Fehlermodelle für Speicher. Seminar aus Informatik 18.01.2001 Thomas Handl e8725709@student.tuwien.ac.at. Speichermodelle. Verhaltensmodell Funktionales Modell reduziertes funktionales Modell Logisches Modell Elektrisches Modell Geometrisches Modell. Speichermodelle. . Modelle.
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Fehlermodelle für Speicher Seminar aus Informatik 18.01.2001 Thomas Handl e8725709@student.tuwien.ac.at
Speichermodelle • Verhaltensmodell • Funktionales Modell reduziertes funktionales Modell • Logisches Modell • Elektrisches Modell • Geometrisches Modell
Modelle • Stuck-At Fault (SAF) • Transition Fault (TF) • Coupling Faults (CF) • Neighbourhood Pattern Sensitive Faults (NPSF)
Modelle: SAF • Zelle kann Zustand nicht wechseln • 2 Arten: SA0 / SA1
Modelle: TF • Spezialfall von SAF • ein Übergang kann nicht vollzogen werden • Up / Down – TF
Modelle: CF • Annahmen: • Leseoperationen verursachen keine Fehler • übergangsfreie Schreiboperationen verursachen keine Fehler • übergangsbehaftete Schreiboperationen können Fehler verursachen
Modelle: CF • Inversions-CF (CFin): Übergang invertiert Zelle • Idempotenter CF (CFid): Übergang erzwingt Wert in Zelle • Bridging Fault BF: Kurzschluß • ABF / OBF • State Coupling Fault SCF • r/w-Disturb Fault (CFdist): auch Leseoperationen
Modelle: CF Funktionierende Zellen CFid CFin
Modelle: NPSF • Aktive (dynamische) NPSF: Übergang wird erzwungen • Passive NPSF: Zelle kann nicht verändert werden • Statische NPSF: Wert wird in Zelle erzwungen
Zusammenhänge zwischen Fehlern • SAF, TF, NPSF Spezialfälle von k-CF • k = 1 SAF / TF • 1 < k < n NPSF • k = n PSF
Modelle: SOF / DRF • SOF: • Kein Zugriff auf Zelle möglich • Ursache: offene Leitung(en) • DRF: • Zelle verliert Wert nach einiger Zeit • 2 Typen • Nur zeitabhängig, nicht durch r/w-Operationen verursacht
Kombinierte Fehler • 2 Zellen • gleichartig verbundene Fehler • unterschiedliche verbundene Fehler
Fehler im Adressdekoder (AF) • Fehler:
AFs • verbunden mit Speicherfehlern • AF – SAF • AF – TF • AF – CF • AF – NPSF • Abbildung AF Speicherfehler