110 likes | 217 Views
Sistemes de rèplica superficial per inspecció no - destructiva de components industrials. Sistemes de rèplica superficial.
E N D
Sistemes de rèplica superficial per inspecció no - destructiva de components industrials
Sistemes de rèplica superficial • Amb el sistema de rèplica superficial es pot copiar la topografia d’una superfície sòlida amb elevada precisió (resolució de 0.1 µm). El resultat és una còpia exacta en 3D de la superfície que es pot examinar i mesurar mitjançant microscòpia òptica i electrònica . • Les rèpliques es poden extreure d’eines i components industrials que són difícils d’inspeccionar directament per les seves dimensions o perquè no es poden transportar al laboratori per necessitats productives. • Exemples de estudis que es poden fer amb la tècnica de rèplica mitjançant inspecciósuperficial : • Determinació de rugositat: determinació de perfils 2D i 3D i càlcul de paràmetres. • Mesures 3D: profunditat / alçada de defectes o gotes en Superficies i recobriments. • Desgast: quantificació de desgast abrasiu i adhesiu, alçada / profunditat de ratlles de desgast, quantificació de perfils i radis. • Corrosió: profunditat de picadures i evolució del dany per corrosió. • Identificació microestructural: després de polir i atacar químicament.
Identificació de característiques superficial 2 µm - 2 µm 3 µm - 3 µm
Identificació de característiques superficial 5 µm - 5 µm 5 µm - 30 µm
Mesures d’alçada RÈPLICA 120 µm MOSTRA - 120µm Mesurad’alçada 84,9 µm 87,3 µm
Quantificació de desgast abrasiu MOSTRA Anàlisi per microscòpia confocal Mostra desgastada Mesura de desgast RÈPLICA
Quantificació de desgast adhesiu en eines de conformat MOSTRA RÈPLICA
Quantificació de desgast en eines de conformat mesures de contorns i radis Secció de la mostra Secció de la rèplica EINA Radius mean: 5,04 mm Radius mean: 5,04 mm Evolució del contorn desgastat mesurat per rèpliques analitzades a diferents intervals productius
Evolució del dany de corrosió en un reactor químic Inspecció 1 Inspecció 2 (1 mes després)
Identificació microestructural Després de polir i atacar químicament