Diseño de un módulo de test parametrizable controlado desde un ordenador personal

1. INPUTS TEST . MÓDULO DE TEST BLOQUE A TESTEAR OUTPUTS STROBE UNIDAD DE CONTROL ACK CE, WR 4 4 2 DSIN ARQUITECTURA COMUNICACIÓN ARQUITECTURA COMPARADOR DSOUT ARQUITECTURA MEMORIA n DATOS k m RAM INPUTS n - m n - m TEST BLOQUE A TESTEAR OUTPUTS Diseño de un módulo de test parametrizable controlado desde un ordenador personal • Uranga F.,Ustoa J.R., Amuchástegui C., Ibarra A. • Grupo de Diseño de Circuitos Integrados • Facultad de Informática (Universidad del Pais Vasco) • Paseo Manuel Lardizabal, 1 –20009 - San Sebastián . Aptdo. 649. • Amuchástegui C. T. 943-44-80-00 –Fax . 943-21-93-06 - E-mail : carlos@si.ehu.es Zirkuitu Integratuen Diseinurako Taldea Grupo de Diseño de Circuitos Integrados Facultad de Informática UPV/EHU Gipuzkoako Foru Aldundia Diputación Foral de Gipuzkoa El sistema mencionado en este artículo corresponde al proyecto “Diseño de un modulo de test de circuitos integrados “ subvencionado por la Excma. Diputación Foral de Gipuzkoa. Resumen: Módulo interno de test funcional para C.I. parametrizable controlado desde un ordenador personal. Introducción: Dentro del campo del diseño de C.I.'s uno de los principales problemas que se presentan es la comprobación del funcionamiento del C.I. una vez fabricado, esto es, la realización de test completos de funcionalidad. Una solución a dicho problema es la inclusión de estructuras "BIST" que permitan al C.I. la posibilidad de realizar un "auto-test". Objetivos: Diseño de un módulo de test que permita: - Realizar imposiciones de vectores de test a los C.I.'s, sin limitaciones ni de tamaño ni del número de los vectores de test. - Poder utilizar un componente parametrizable para el test de circuitos que, con pequeños cambios, permita testear cualquier circuito secuencial. Material y métodos: Hardware: Ordenadores personales, EPLD´S, y otros componentes electrónicos. Software: ALTERA, C, SYNOPSIS, DFII de CADENCE. Métodos: Descripción VHDL para Síntesis en C.I. Características - Velocidad de test no limitada por el PC. - Test en tiempo real . - Escalabilidad: Circuito parametrizable que puede adaptarse a las características del C.I. a testear . - Uso de los vectores de simulación para el test. - Longitud del test no limitada por la capacidad de la memoria. - Posibilidad de realizar diferentes tipos de test. Estructura interna y funcionamiento. El circuito CTM (Circuit Test Module), consta de una unidad de control que a través de una sencilla arquitectura mantiene la comunicación con el PC para almacenar los vectores de test en la memoria RAM, y realiza el test imponiendo los vectores a la vez que comprueba posibles errores. El almacenamiento de los vectores de test se realiza a través del puerto paralelo de un ordenador personal, usándose dos señales como control y dos para enviar en serie los datos según un sencillo protocolo. Una vez almacenado el primer paquete de vectores de test (cuyo tamaño será uno de los parámetros del circuito) se imponen dichos vectores, comparandose los datos de salida del C.I. con los almacenados en la RAM. En caso de error, el sistema puede pararse, seguir buscando más errores o comunicar al PC los datos necesarios para hacer un seguimiento de los errores encontrados (según que tipo de test se quiera realizar) . NOTA: A partir de los diseños en VHDL del módulo de test y de un prototipo de sistema de toma de datos portátil ( PI96/16), se va a realizar la síntesis e implementación conjunta en Estándar Cells mediante las herramientas SYNOPSYS y DFII de Cadence, de esta forma se dispondra de datos reales de la utilización del CTM en una aplicación cocreta.