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FAP5844 - Técnicas de Raios-X e de feixe iônico aplicados à análise de materiais

Universidade de São Paulo Instituto de Física. FAP5844 - Técnicas de Raios-X e de feixe iônico aplicados à análise de materiais. Manfredo H. Tabacniks FI.3 - outubro 2006. OUTUBRO. NOVEMBRO. PIXE Particle Induced X-ray Emission ED-XRF Energy Dispersive X-Ray Fluorescence. WD-XRF

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FAP5844 - Técnicas de Raios-X e de feixe iônico aplicados à análise de materiais

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Presentation Transcript

  1. Universidade de São Paulo Instituto de Física FAP5844 - Técnicas de Raios-X e de feixe iônico aplicados à análise de materiais Manfredo H. Tabacniks FI.3 - outubro 2006

  2. OUTUBRO NOVEMBRO

  3. PIXEParticle Induced X-ray EmissionED-XRFEnergy Dispersive X-Ray Fluorescence WD-XRF Wavelength Dispersive... • Tabacniks, Manfredo Harri. Análise de Filmes Finos por PIXE e RBS. São Paulo: Instituto de Física da USP, 2000. • Jim Heiji Aburaya, Padronização de Análises PIXE de Amostras Sólidas em Alvos Espessos, Dissertação de Mestrado, IFUSP 2005 • Virgílio F. Nascimento Filho, Técnicas Analíticas Nucleares De Fluorescência de Raios X por Dispersão de Energia (ED-XRF) e por Reflexão Total (TXRF), Julho/99 • International Atomic Energy Agency - IAEA, Instrumentation for PIXE and RBS. IAEA-TECDOC-1190, Vienna, Austria, December 2000

  4. Geometria experimental: PIXE ou ED-XRF ou raio-X

  5. Detector de Raios-X, Si(Li) p n i E = 2500 V/cm (Jenkins et al, 1981)

  6. Detector de Raios-X, Si(Li) Região útil Absorvedores e Janela do Si(Li) Espessura do cristal Curvas de eficiência relativa de um detector de Si(Li) com opção para 3 janelas de berílio e duas espessuras do cristal. Adaptado de Jenkins (1981) r = razão de furo no Funny Filter Construção de um detector de Si(Li). Adapatdo de Jenkins (1981)

  7. Detector de Raios-X, Si(Li) Lei de Moseley 20 keV ~1 keV K Na(11) Mo (42) L As (33) U (92) espessura da janela de Be define limite inferior

  8. Novos detectores de RX Detector de raios-X tipo Si PIN últimocatodo anodo Detector de raios-X câmara CCD polarização crescente Detector “Flash” Silicon Drift Peltier cooled até 100 kcps Espectrômetro XRF portátil www.metorex.com

  9. Um XRF-XRD portátil com CCD (NASA) Bomba Turbo Fonte de elétrons 10 kV CCD-RX Amostra Tubo de RX XRF XRD

  10. Espectro de raios-X do solo de Marte O “carro laboratório” da Mars Pathfinder (1997) detector de prótons e alfas 242Cm detector de raios X JPL, 2005

  11. Espectro PIXE Espectro típico de uma análise PIXE com feixe de prótons com 2 MeV. Note a escala logarítmica para as contagens na vertical. Fundo contínuo de elétrons secundários calibração em energia resolução

  12. Limite de detecção NP NB Jenkins et al, 1981

  13. Programas para análise de espectros e cálculos auxiliares • Ajuste de espectros • AXIL • QXAS • GUPIX exige ajustes na instalação remover brancos no .spe WinQXAS.psl -> c:/windows • Alvo espesso (ou semi-espesso) • GUPIX • CLARA • Absorção de Raios-X • XCOM • Auxiliares • Fator de Resposta do PIXE: Planilha Excel • Conversor de espectros

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