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低エネルギー核反応実験用 検出器 GEM-MSTPC の開発. KEK 石山博恒 , 田中雅彦 , 渡辺裕 , 宮武宇也 , 平山賀一 , 今井伸明 , 渕好秀 , 鄭淳讃 , 野村亨 JAEA 橋本尚志 大阪電気通信大学 溝井浩 , Suranjan Kumar DAS, 福田共和. 山口 香菜子 筑波大学 . 低エネルギー核反応実験用 検出器 GEM-MSTPC の開発. 発表の流れ. Introduction GEM-MSTPC 50 μm GEM test 400 μm GEM test
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低エネルギー核反応実験用検出器 GEM-MSTPCの開発低エネルギー核反応実験用検出器 GEM-MSTPCの開発 KEK 石山博恒, 田中雅彦, 渡辺裕, 宮武宇也, 平山賀一, 今井伸明, 渕好秀, 鄭淳讃, 野村亨 JAEA橋本尚志 大阪電気通信大学溝井浩,Suranjan Kumar DAS, 福田共和 山口 香菜子 筑波大学
低エネルギー核反応実験用検出器 GEM-MSTPCの開発低エネルギー核反応実験用検出器 GEM-MSTPCの開発 発表の流れ • Introduction • GEM-MSTPC • 50 μm GEM test • 400 μm GEM test • Ion feedback • まとめ
Y. Mizoi, el al., NIMA 431(1999)122 T. Hashimoto, el al., NIMA 556(2005)339 MSTPCMultiple-Sampling and Tracking Proportional Chamber 3次元の荷電粒子の飛跡 2. 飛跡に沿ったエネルギー損失 3.検出ガスが、ターゲットを兼ねる → 検出効率100% 4.一度に広いエネルギー領域を測定できる
MSTPC から GEM-MSTPC へMultiple-Sampling and Tracking Proportional Chamber ・He主体ガス (He+CO2(90:10) or He+CH4(90:10)) ・ 低圧力 (120torr) ・高強度ビーム入射 (106 pps) e- 8Li(α, n)11B 断面積の直接測定 Wire Ecm~0.5MeV σ<10mb e- MSTPC GEM 104pps GEM-MSTPC 106pps
GEM-MSTPC(GasElectron Multiplier – Multiple Sampling and Tracking Proportional Chamber) Field Top Top 100mm 100mm 100mm Bottom 100mm 100mm Bottom GEM GEM2 Pad GEM1 24 pad Backgammon Pad = 5mm pad
GEM-MSTPC test • セットアップ • α線 • ΔE / pad = 20 keV • He+CO2(90:10) 120torr • Test • 主に、ORTEC 142 pc プリアンプ • He主体ガス ・低圧力 • ( He + CO2 or He + CH4 ) (120torr) • Gain~103 130mm 150mm y x ( p , n ) ?
50μmGEM( CERN standard ) • 厚さ50μm • 短径50 μm • 長径70 μm • 間隔140 μm • カプトン膜(Cu蒸着)、エッチング 100mm 140μm 50μm 50μm 70μm 100mm 50μmGEMフォイル
50 μm GEM test 2μs 2μs 50mV 50mV S.Bachmann, el al., NIMA 438(1999)376 PPACモード GEM Induction Gap~PPAC Readout Pattern
50 μm GEM test GEM1 2μs After pulse *電場によらず、いつも出現 10mV GEM2 Induction Gap~PPAC Readout Pattern
50μmGEM test • ガスの種類による違い • ゲイン差は、2倍以下。 , p=120 torr
50μmGEM test • 圧力による違い • 圧力→大 ⇒Gain→大 ⇒でもガス圧は上げたくない。
50μm GEMtest • He主体ガス(He+CO2, He+CH4) • 低圧力 (p~120torr, 230torr) • Single GEM;増幅率は数十倍 • double GEM;増幅率は数百倍<103 • ⇒目標にはやや足りない。 • PPACモード • After pulseの出現 ⇒Thick GEM へ。
400 μmGEM (林栄精機 製 ) • 厚さ400μm • 径300 μm • 間隔700 μm • G10基盤(Cu蒸着)、ドリル穴開け 300μm 400μm 700μm 100mm 100mm 安い! 400μmGEM フォイル
400 μm GEM test 2μs 50mV Gain>103 陽イオンの影響なし
400 μm GEM test GEM Induction Gap~PPAC PPACモードにならない領域 で Gain~103 Readout Pattern
Ion feedback 高計数率のために Drift fieldの乱れ ← 陽イオンの蓄積 field (1cm) TOP (Gain ~10) (Gain ~103) GEM Induction Gap~PPAC Readout Pattern
まとめと今後 • 50μm GEMではゲインが足りない。 • 400μm GEMでは、103に達した。 • He+CO2(90:10, 120torr)において、 • GEM voltage = 600 [V] • Anode = 3 [kV/cm/atm] • テスト条件では、GEMによる イオン・フィードバックは2% • 入射ビーム ( 106 ) に耐えられるか? • 陽イオンの滞留→電場を強くする • ⇒イオンフィードバックの対策 • ゲーティンググリッド or シールド用にGEMを追加 • Thick GEMで • エネルギー分解能 • 位置分解能 • 時間安定性 を調べる。
放電の範囲 • 50μmGEMで、GEM電圧を上げていくと・・・ • 400μmGEMでは、800V程度までかけられそう