330 likes | 610 Views
W przestrzeni mogą się znajdować różne elementy siatki dyfrakcyjne układy optyczne. przysłony filtry i inne. Analizy dyfrakcyjne należą do najważniejszych i najtrudniejszych problemów. optyki, a więc i fotoniki. Zjawiska dyfrakcji. Propagacja dowolnych fal w przestrzeni.
E N D
W przestrzeni mogą się znajdować różne elementy siatki dyfrakcyjne układy optyczne przysłony filtry i inne Analizy dyfrakcyjne należą do najważniejszych i najtrudniejszych problemów optyki, a więc i fotoniki Zjawiska dyfrakcji Propagacja dowolnych fal w przestrzeni
’ D granica cienia Q1 granica cienia PC Q2 Q3 światło cień ’ P Zjawiska dyfrakcji Zasada Huygensa-Fresnela D– diafragma półpłaszczyzna Fala płaska z czołami fali’ Z punktów Q czoła ’ wychodzą wtórne fale sferyczne interferujące w różnych punktach P płaszczyzny ’ W obszarze światła mamy oscylacje intensywności w obszarze cienia - asymptotyczny spadek jej wartości
Obraz punktu poglądowe wyjaśnienie D Układ o ogniskowej f’ z diafragmą D - czoło fali generowanej przez ’ Q1 nieskończenie odległy punkt P0 Q2 ’ – sferyczne czoło fali dla układu bezaberracyjnego P1 ’ f’ Z punktówQdo punktuP0docierają wtórne fale w fazie maksimum intensywności Dla punktów P różnych od P0 powstają różnice faz – spadek intensywności Obraz punktu w postaci plamki dyfrakcyjnej
x x propagacja Czoło fali Czoło fali’ Rozkład pola na czole Rozkład pola na czole const Przesunięcie fazowe fali w przestrzeni rozważania jednowymiarowe Def.: czoło fali - powierzchnia stałej fazy
Obraz punktu wynik analityczny dla jednego wymiaru ax Na czoledany rozkład amplitud VQ(x) W P0 środku krzywizny czoła wynik sumowania po punktachQ ’ ux P0 W punkciePsumujemy rozkładyz powierzchnip f’ P Q x Ale x więc p Całkowanie w miejsce sumy
x ax rozkład pola w obrazie punktu ’ a0x 20x u0x P0 Formalnie można całkować w obszarze nieograniczonym f’ Rozkład pola w obrazie punktu jest transformatą Fouriera rozkładu pola za układem Rozkład intensywności Pierwsze zero intensywności w płaszczyźnie obrazu a0x Przysłona prostokątna
1 1 zerowe miejsca x - -2 2 0 x 2 -2 - 0 Funkcje sinc i sinc2
y ay ax x u0y u0x P0 20x IP0 IP(ax,0) 20y f’ ax 0 f’ Obraz punktu diafragma prostokątna cd
1 Bs(x) P 3.83.. x 0 7.02.. Rozkład intensywności w obrazie punktu Pierwsze zero rozkładu intensywności w obrazie punktu a u0 20 gdzie f’ Obraz punktu diafragma kołowa
IP(a) IP0 a0 a 0 f’ Obraz punktu w przekroju Obraz punktudiafragma kołowa
Obraz punktu diafragma kołowa ’ Ob ’0 Wpływ przeogniskowania Układ zogniskowany Układ przeogniskowany
J.W. Strutt Lord Rayleigh (1842-1919) 26.5% Kryterium Rayleigha a Obrazy 2 oddalonych punktów graniczny przypadek rozdzielane nierozdzielane Zdolność rozdzielcza
ag– graniczna odległość dwóch rozróżnianych punktów Ob Ok n = 1 P1 P2’ u0 a n P1’ P2 Jeżeli kąt u0jest duży i współczynnik załamania przestrzeni przedmiotowej wynosi n (dotyczy to przykładowo mikroskopu), wówczas , gdzie apertura obiektywu mikroskopowego Im krótsza długość fali i im większa apertura A = n sinu0 tym wyższa zdolność rozdzielcza mikroskopu Uwaga: tym mniejsza wartość ag Dla = 0.55 m i Amax = 1.4 granica możliwości poznania Zdolność rozdzielcza - granice poznania Około połowy długości fali
Poprawna interpretacja obrazu przez obserwatora gdzie w’ jest kątem pod jaki widzimy przez mikroskop Ale gdzie w jest kątem pod jaki widzimy ag z odległości dobrego widzenia - 250mm,a G – powiększenie wizualne mikroskopu Po podstawieniu Dla = 0.5510-3 mm K !! powiększenie użyteczne Ponieważ Amax = 1.4, maksymalne powiększenie mikroskopu Zdolność rozdzielcza - granice poznania cd
Przyjmując średnio powiększenie obiektywu powiększenie okulara W mikroskopach Niech Gok = 10x Gu = 500x A = 0.666.. Obiektyw 40x bez immersji n = 1 2u0 = 840 Mała odległość od oprawy obiektywu do przedmiotu rzędu 0.2 mm Dla Gu max = 1400x nim = 1.52 odległość rzędu 0.1 mm Konsekwencje obserwacji przez mikroskop przedmiotów pod dużymi powiększeniami
wg luneta Przedmiot nieskończenie odległy Z – źrenica wejściowa wg Klisza fotograficzna obiektyw Kątowa zdolność rozdzielcza lunety, teleskopu i obiektywu zdjęciowego Im większa średnica Dźrenicy wejściowej i krótsza długość fali ,tym mniejszy kąt graniczny wg tym wyższa zdolność rozdzielcza układu Zdolność rozdzielcza - granice poznania cd Konsekwencje dla układów z przedmiotem nieskończenie odległym
wg – graniczny kąt rozróżniania 2 punktów w przestrzeni przedmiotowej lunety Dla = 0.5510-3 mm chcemy rozróżnić 2 punkty odległe od siebie o 20 cm na ziemi z satelity na wysokości 50 km wg = 0.2/50000 = 410-6 wówczas Dmin 170 mm Zdolność rozdzielcza- Konsekwencje dla lunety Przykład
Kolokwium I • 3 tematy • Wyprowadzenie z komentarzami !!! (10 punktów). Brak komentarza (tylko rysunek i wzory) = zero punktów • bieg promienia przez pryzmat, bieg promienia przez układ elementarny i przejście do przestrzeni przyosiowej, promień w ośrodku gradientowym, prawo załamania na bazie hipotezy Huygensa, widmo promieniowania atomu (K!!), obraz punktu dla przysłony prostokątnej, powiększenie użyteczne mikroskopu (K!!) • 2. Tematy opisowe po 5 punktów • Razem z jednego kolokwium można uzyskać maksymalnie 20 punktów Punktacja zaliczenia wykładu na podstawie wyniku dwóch kolokwiów PunktyStopień 0 - 22.5 nie zaliczone 23.0 - 26.5 3.0 27.0 - 29.5 3.5 30.0 - 32.5 4.0 33.0 - 36.0 4.5 36.5 - 40.0 5.0
Dotychczas granice poznania były definiowane przez obserwację dwupunktowego przedmiotu Przypadek obserwacji gwiazd przez teleskop lub lunetę Jak można przedstawić problem granic poznania dla przedmiotów o złożonej (rozciągłej) strukturze ? Dla prostoty problem przedstawiony zostanie w sposób poglądowy na podstawie analizy obrazu siatki dyfrakcyjnej Zjawiska dyfrakcji cd
x m = -2 Kierunki propagacji fal płaskich przez siatkę dyfrakcyjną Mówi się o rzędach dyfrakcyjnych z m = -1 m = 0 m = 1 m = 2 Szczególny przypadek siatki dyfrakcyjnej jako zbiór szczelin Element siatki d– okres (stała) siatki Siatka dyfrakcyjna Periodyczny zbiór jednakowych elementów
Propagacja rzędu m = 0 płaszczyzna obrazu Ob Ok m = 0 f’ Propagacja rzędu m = 1 płaszczyzna obrazu Ob Ok m = 1 Pole jednorodne jak bez siatki f’ Odwzorowanie siatki przez układ optyczny Pole jednorodne jak bez siatki
propagacja rzędów m = -2 ÷ 2 Płaszczyzna widma siatki płaszczyzna obrazu płaszczyzna obrazu Ob Ok Ok m = -2 ÷ 2 f’ Ob diafragma f’ transmisja tylko rzędu m = 0 obraz siatki niewidoczny
płaszczyzna obrazu Ok W wyniku interferencji promieniowania generowanego przez 3 źródła punktowe powstaje obraz prążkowy Ob diafragma f’ Wynik transmisji rzędów m = 1, 0, -1 Obraz jest periodyczny, ale czy widzimy szczegóły siatki ?
siatka dyfrakcyjna widmo siatki m -3 -2 -1 0 1 2 3 m -3 -2 -1 0 1 2 3 obrazy siatki dla różnego obcięcia widma m = - 5 5 Przesłonięcie rzędów –1 i 1 powoduje zwiększenie częstości obrazu. Słynne doświadczenie Abbego Granicepoznania szczególne przypadki
Przeniesione rzędy m = -1, 0 i 1 x Obraz siatki dyfrakcyjnej Siatka szczelinowa Przybliżenia
Przeniesione rzędy m = -3 3 x Obraz siatki dyfrakcyjnej Test prostokątny cd Przybliżenia
Przeniesione rzędy m = -15 15 x Obraz siatki dyfrakcyjnej Test prostokątny cd Przybliżenia
Granicepoznania Obiektyw nie przenosi całego widma siatki (przedmiotu) Obraz jest periodyczny o częstości odpowiadającej obrazowi siatki, ale nie jest podobny do przedmiotu Obraz dany przez układ optyczny nigdy nie jest podobny do przedmiotu
x m = -1 z m = 0 m = 1 x z Sama siatka dyfrakcyjna nie przenosi informacji o swojej strukturze m = 0 Siatka dyfrakcyjna ze stałą d rzędu długości fali Czy to prawda ?
Rozważania dotyczące interferencji, dyfrakcji, i dalej polaryzacji, były, i będą, prowadzone z dokładnością optyki falowej Problemy optyki podfalowej muszą być rozwiązywane narzędziami elektrodynamiki optycznej Rozwiązywanie równań Maxwella metodą elementów skończonych Zagadnienia wykraczają poza obszar wiedzy tu prezentowany Czy to prawda ?
Literatura uzupełniająca W.T. Cathey, Optyczne przetwarzanie informacji i holografia, PWN, Warszawa, 1978 K. Gniadek, Optyka fourierowska, WPW, Warszawa, 1987 R.Jóźwicki: Podstawy inżynierii fotonicznej. Ofic,Wyd. PW, Warszawa 2006 R. Jóźwicki, Teoria odwzorowania optycznego, PWN, Warszawa, 1988 B.E.A. Saleh, M.C. Teich, Fundamentals of Photonics, John Wiley & Sons, New York, 1991, paragraf 4.3 i 4.4 Literatura podstawowapoziom wyższy naukowa