190 likes | 333 Views
MIKROELEKTRONIKA 3. Felületek, felületi állapotok. Térvezérlés. Kontakt effektusok a félvezetőkben. MES átmenet, eszközök. Emlékeztető Coulomb erő:. Elektromos térerősség:. Elektromos tér egy töltött felület felett:. Tér potenciálja: U=F.r. σ. Félvezető az elektromos térben:. M.
E N D
MIKROELEKTRONIKA 3. Felületek, felületi állapotok. Térvezérlés. Kontakt effektusok a félvezetőkben. MES átmenet, eszközök.
Emlékeztető Coulomb erő: Elektromos térerősség: Elektromos tér egy töltött felület felett: Tér potenciálja: U=F.r σ Félvezető az elektromos térben: M - - - n- félvezető +
A kristályrács megszakadása – szabad kötések – lokalizált állapotok (felületi vagy Tamm-nívók, 1015 cm-2) Shockley – állapotok: a felületen telítetlen vegyértékek. Reális kristály – atomi és mikroszkopikus hibák kimenetei, adsorbeált atomok. Megjelenésük és hatásuk - donorok, akceptorok, csapdák vagy rekombinációs centrumok. A félvezető egészében neutrális – a felületi töltés kompenzálódik. A fémekben (ne = 1022 cm-3 ) a felületi töltés semlegesítése 10-7 - 10-6 mm mélységben történik. A félvezető Ge-ban: ne = 1015 cm-3,a felületi töltés semlegesítése 10-3 mm mélységben történik, az intrinsic Ge- 0,1 mm !
Poisson-egyenlet: ρ x potenciál gradiense A térerősség : Megoldás: + - n-típusú félvezetőben szabad e koncentráció, tértöltés, térerősség, e potenciális energiája, tér potenciálja, és a sávok görbülete (+ vagy – a felületen) S-screening
Egy n-típusú félvezető példája: a felületen akceptorok (elektroncsapdák) vannak, tehát az negatív, a félvezető belső felületénél indukálódik egy pozitív töltésű, vagy akár inverz p-vezetésű réteg. Az elektromos tér felfele „görbíti” az energiasávokat, eϕ – energiaváltozás, ϕ –felületi potenciál. E Ec Ef Efi Ev Donor az n-típus felületén - fordított eset, p-típus esete – ismét fordított, azaz hasonló : eϕ Na E eϕ Ec Efi Efp Ev x A felületi potenciál változásával változik a hordozók koncentrációja a tértöltési tartományban ! Felületközeli elektron többlet:
σs Ys= eϕ/kT, σs=eµsΔn inverz.! Field effect: a félvezető vezetőképességének változása a felületére merőlegesen ható elektromos tér hatására Ys
-termodinamikai kilépési energia (munka) • -elektron affinitása Fém-félvezető kontaktus ek= M- sc Fém - n-típus: Az elektromos tér behatolási mélysége: M S M S + vagy –V –dióda!
n- és p-típusú félvezető-M kontaktus : • Termikus egyensúly • Nyitó feszültség • Záró feszültség
Egyenirányítás - Schottky dióda telítési áram, A-Richardson állandó Termoelektromos emisszió árama Nagy hordozókoncentráció - dióda elmélet Alacsony koncentráció –diffúziós elmélet telitiés áram
Planárisan adalékolt Schottky-dióda Mikrohullámú jelek detektálása. Határfrekvencia: f=1/2πRC, potenciálgát feszültség: alacsony (0.3eV), közepes (0.5 eV), magas (0.8 eV)
MES FET Fő paraméterek: L = 0.1 - 1.0 m, a-epilayer vastagság 1/3 – 1/5 L, Lg kb. 1L- 5 L , Anyag : n-AIII-BV, nagy ! A- csatorna metszete
Normálisan BE (kiürítéses) és normálisan KI(növekményes) MESFET I-V pinch off - teljesen elválasztódik a S és a D
Elvi metszet felülnézet Nagyfrekvenciás MES FET szerkezete
Cut-off frequency: az átrepülési sebesség/gate hossz ! Tehát kell: nagy , kis gát méret.
Nemegyensúlyi elektronok árnyékolási hossza (Debye-sugár) egy n0 egyensúlyi koncentrációval rendelkező anyagban: E