320 likes | 559 Views
Mælingar og stýring ferla. Statistical Process Control (SPC) Páll Jensson. Verkfræðideild Háskóla Íslands. Yfirlit. 1. Um mælingar, markmið SPC 2. Skilgreiningar og atriði úr gæðastjórnun 3. Undirstöðuatriði úr tölfræði 4. “Færni” ferla (Capability) 5. Stýririt, X-R rit (Control Charts)
E N D
Mælingar og stýring ferla Statistical Process Control (SPC) Páll Jensson Verkfræðideild Háskóla Íslands
Yfirlit • 1. Um mælingar, markmið SPC • 2. Skilgreiningar og atriði úr gæðastjórnun • 3. Undirstöðuatriði úr tölfræði • 4. “Færni” ferla (Capability) • 5. Stýririt, X-R rit (Control Charts) • 6. Önnur stýririt, p rit, np rit, c rit, u rit • 7. Vöruskoðun (Acceptance Sampling)
Mælingar, hvers vegna • Mælingar segja meira en skoðanir • Gæta sín á skynvillum og bábiljum • Hlutlægar mælingar betri en huglægar • Huglægar mælingar betri en engar • Nákvæmar mælingar betri en ónákvæmar • Ónákvæmar mælingar betri en engar
Mælingar, hvað á að mæla • Verkfæri á borð við bókhald • Mælingar gefa viðvaranir • Allir mikilvægi þættir mældir • Frammistaða gagnvart viðskiptavinum • Dæmi: Afgr.tími, mistök, ánægja,... • Afköst, nýting, kostnaður, ...
Gæði • Hve vel fellur afurðin (varan, þjónustan) og eiginleikar hennar að væntingum viðskiptavina • Afköst, virkni, “hæfi”, áreiðanleiki, ending, fagurfræði
Markmið tölfræðilegrar stýringar ferla 1 • Minnka breytileika í vörugæðum, ná betri stjórn á ferlunum. • Uppgötva galla eða breytingar í vinnsluferlum strax á staðnum, á öllum stigum vinnsluferlisins og ætti það að skila sér í bættum árangri á aftari stigum.
Markmið tölfræðilegrar stýringar ferla 2 • Veita starfsmönnum, með rauntíma svörun á myndrænu formi, stöðugt og afar sýnilegt aðhald, en sjá þeim jafnframt fyrir þeim upplýsingum sem þeir þurfa til að geta skilað jöfnum og miklum gæðum. • Undirstrika áþreifanlega áhuga stjórnenda á gæðamálum, sem liður í að byggja upp betri gæðavitund (- kúltúr).
Markmið tölfræðilegrar stýringar ferla 3 • Meiri rekjanleiki og sannanlegri gæðatrygging (niðurstöður stýririta geymdar með öðrum gæðagögnum). • Skapa betri grundvöll fyrir öflugri umbótavinnu en ella væri völ á.
Umbótaferli • Við hliðina á framleiðsluferlum fyrirtækja er (vonandi) að finna annað ferli, þ.e. umbótaferli. Það ferli þarf gögn sem inntak. Í hvert sinn sem stýririt í framleiðsluferlinu sýnir mælingu utan marka, þá ber ekki að líta á það sem vandamál, heldur sem ábendingu og tækifæri til að greina orsakir galla eða breytileika og koma á umbótum
Gæðakostnaður • Kostn. v/ fyrirbyggjandi aðgerða • Þjálfun, skipulagn., hönnun, þróun • Kostn. v/ skoðunar • Skoðanir, prófanir, eftirlit • Kostn. v/ galla
Kostnaður vegna galla • Innri kostnaður • Endurvinnsla • Vinnslustöðvanir • Úrkast, nýting • Ytri kostnaður • Skilað, leiðréttingar • Afslættir, ábyrgð • Töpuð viðsk. vild/ sala
Saga SPC • Walter Shewhart, Bell Lab 1924, 1931 • Síðari heimsstyrjöld, kröfur hersins • Military Standard 105 • W. Edwards Deming, lærisveinn Shewharts • Japanska gæðabyltingin 1950 - • Almenn notkun erlendis s.l. 40 ár • Ísland: Notkun mjög lítil ennþá.
Tölfræðileg gæðastjórnun • Stýring vinnsluferla, SPC • Vöruskoðun, lotur samþ./hafnað • Móttökuskoðun hráefna • Lokaskoðun afurða
Helstu verkfæri SPC • Stýririt, til að stýra ferli • Gagnasöfnun • Skoðunarblöð, stöplarit/tíðnirit, önnur rit • Greining gagna • Fiskibeinarit (Ishikawa) • Pareto rit • Fylgnirit, dreifnirit
Notkun verkfæranna, umbótaferli • 1. Framkalla vandamál • 2. Safna gögnum (skoðunarblöð) • 3. Greina gögnin (t.d. Pareto rit) • 4. Finna rætur vandans (fiskibeinarit) • 5. Þróa lausn (gæðahópur) • 6. Stýra ferlinu (stýririt) -> 1
Undirstöðuatriði úr tölfræði 1: • Hendingar, slembur, tíðnirit, meðalgildi • Breytileiki, orsakir breytileika: • 1: Hendingar eða • 2: Kerfisbundnar orsakir • Mælikvarðar á breytileika: • Spönn = hæsta gildi - lægsta gildi í safni • Staðalfrávik • Markgildissetning tölfræðinnar
Undirstöðuatriði úr tölfræði 2: • Líkindadreifingar: • Normal-dreifing: T.d. vigt eða lengd • Tvíkosta-dreifing: T.d. fjöldi gallaðra stykkja • Poisson-dreifing: T.d. fjöldi galla í sýni • Mörk: • +/- 1 staðalfrávik: 68,3% mælinga milli marka • +/- 2 staðalfrávik: 95,5% mælinga milli marka • +/- 3 staðalfrávik: 99,7% mælinga milli marka
“Færni” ferla • Sett vikmörk, kröfur (specifications) • Mörk ferlisins sjálfs, +/- 3 staðalfrávik • Miðlægt ferli: • Cp = (UTL - LTL)/(6*S) > 1,33 • Annars: • CpK=MIN((UTL-X)/(3*S);(X-LTL)/(3*S))
Stýririt • sýna myndrænt rauntíma mælingar á vinnsluferli • sýna einnig stýrimörk, oftast +/- 3 staðalfrávik • aðskilja kerfisbundnar orsakir frá hendingum • sýna oft einnig sett viðmið (specifications)
Hvað er mælt og hve mikið • Mælistærðir • Breytur (betra, meira upplýsingagildi) • Eiginleikar, hlutfall gallaðra eða fjöldi galla • Mælihópar (subgroups) • Markgildissetningin: Lágmark n=4 í hópi • Viljum sjá mun milli hópa, ekki innan • Stjórnmörk metin • A.m.k. 100 mælingar, t.d. 20 hópa með 5
Yfirlit yfir mest notuðu stýriritin: • X-R rit: Fyrir mæligildi t.d. vigt, lengd, ... • X mælir meðalgildi en R spönn (range), • oft mæld n=5 gildi (sýni) í hverri lotu. • p rit: Fyrir hlutfall gallaðra af n sýnum, • np rit ef sýnafjöldi er breytilegur • c rit: Fyrir fjölda galla í sýni, • u rit ef sýnið/einingin er breytileg
Uppsetning stýririta • Fyrir hvern mælihóp (n sýni) er reiknað • meðalgildi X og spönn R • Fyrir alla mælihópa er reiknað • heildarmeðalgildi Xmeðal • meðalspönn Rmeðal • Nota á gögn frá ferli sem er í jafnvægi
Töflur fyrir stýririt • Töflugildi eru háð n (fj. sýna í mælihópi) • A2 notað til að reikna stjórnmörk X rita • D3 og D4 notað fyrir stjórnmörk R rita • Ath. einnig töflur fyrir Normal-dreifingu: • Z = (gildi - Xmeðal)/Staðalfráviki • Normal-töflur => líkur á stærð undir Z
Staðalfrávik • S = Staðalfrávik ferlis (stakra mælinga) • S = A2 * Rmeðal * sqrt(n) / 3 • Sx = Staðalfrávik meðalgildis X • Sx = S / sqrt(n) eða Sx = A2 * Rmeðal / 3 • n = fjöldi mælinga • Rmeðal = meðalspönn • A2 sjá töflur fyrir stýririt • Ath. vel muninn á S og Sx
X-R rit, stjórnmörk • Stýririt fyrir meðalgildi X • ESM-X = Xmeðal + A2 * Rmeðal • NSM-X = Xmeðal - A2 * Rmeðal • Stýririt fyrir spönn R • ESM-R = D4 * Rmeðal • NSM-R = D3 * Rmeðal
Kerfisbundnar orsakir • Púnktur utan stjórnmarka • 2 púnktar í röð mjög nálægt mörkum • 7 púnktar í röð yfir (eða undir) meðalgildi • Stöðugur halli (upp eða niður) • Sífellt til skiptis undir/yfir meðalgildi
Hlutfall gallaðra, p rit • Sýni í lagi eða ekki, tekin eru n sýni • Tvíkosta (Binomial)-dreifing • Meðal gallahlutfall (gallatíðni) p • Staðalfrávik Sp = sqrt(p*(1-p)/n) • ESM-p = p + 3 * Sp • NSM-p = p - 3 * Sp
Fjöldi gallaðra, np rit • Kostur: Fjöldi þægilegri en hlutfall • Galli: Sýnastærð n verður að vera föst • Staðalfrávik Snp = sqrt(n*p*(1-p)) • ESM-np = n * p + 3 * Snp • NSM-np = n * p - 3 * Snp
Fjöldi galla í sýni, c rit • Poisson-dreifing • Meðalfjöldi galla c • Staðalfrávik Sc = sqrt(c) • Sýnastærð verður að vera föst • ESM-c = c + 3 * Sc • NSM-c = c - 3 * Sc
Vöruskoðun, lotur samþ./hafnað • Móttökuskoðun hráefna • Lokaskoðun afurða • Skoðuð n sýni úr lotu af stærð N • Ályktað útfrá því um ástand lotunnar • Áhætta I (framleiðanda): Hafna góðri lotu • Áhætta II (neytanda): Samþ. slæma lotu
Samþykktarlíkur (OC curve) • AQL = viðunandi gallatíðni (gæðastig) • Alfa = Áhætta I, t.d. 5% líkur á höfnun • LTPD = óviðunandi gallatíðni • Beta = Áhætta II, t.d. 10% líkur á samþykkt • Samþykktartala Ac • Hafna ef gallafj. > Ac, samþykkja annars • Staðlar, MIL-STD-105D
Útgæði, sýnataka sem sía • p = raunveruleg gallatíðni í lotunni • AOQ = Meðal gallafj. sem sleppur í gegn • OC(p) = samþykktarlíkur sem fall af p • AOQ = OC(p) * p