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Electronique 3D. Ecole de Microélectronique IN2P3 La Londe les Maures, octobre 2009 Jean-Claude Clémens clemens@cppm.in2p3.fr. Sommaire. Le 3D c’est quoi ? Motivations industrielles Technologies : Bases : Trous métallisés, amincissement, connexions multi-niveaux
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Electronique 3D Ecole de Microélectronique IN2P3 La Londe les Maures, octobre 2009 Jean-Claude Clémens clemens@cppm.in2p3.fr
Sommaire Le 3D c’est quoi ? Motivations industrielles Technologies : • Bases : • Trous métallisés, amincissement, connexions multi-niveaux • Technologies disponibles Applications à l'IN2P3 Le projet 3D- Chartered - Tezzaron Conclusions Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Motivations industrielles La diminution de la technologie commence a trouver ses limites (ou du moins on ne gagne plus un facteur 2 chaque fois) La finesse de la technologie ne suffit pas a elle seule à garantir de bonnes performances : Souvent, c'est la relation entre les différentes fonctions du système qui fait la différence Problèmes dus à la diminution de la gravure -> talk de Andrea Bashirotto (TWEPP 2009) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Motivations industrielles Le packaging est un des paramètres clé de l’augmentation des performances Dimensions : • Réduction taille , volume, empreinte Performances : • Vitesse de transmission • Longueur d’interconnexion • Puissance Technologies mixtes Nouveauté 2007 2Mpixels ++ 135 grammes Nouveauté 1994 640*480 pixels 16 photos 500 grammes 750 $ Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Techniques standards .. System in Package (SiP) • Circuit intégré comprenant plusieurs puces + composants passifs • On fait dans un chip ce que l’on faisait sur une carte System on Chip (SoC) • Une seule puce , plusieurs fonctions • Réutilisation de blocs (IP) • Performances moyennes Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Et moins standard .. 3D_IC Chip on chip Source : Amkor 560 µm Source : Samsung electronics Coût : A terme moins cher que la diminution de la gravure ? Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Motivation : Plus vite !! Temps de propagation : Source : Tezzaron Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Operation Energy 32-bit ALU operation 5 pJ 32-bit register read 10 pJ Move 32 bits across 10mm chip 100 pJ Move 32 bits off chip 1300 to 1900 pJ Calculations using a 130nm process operating at a core voltage of 1.2V (Source: Bill Dally, Stanford) Motivation : Réduire la consommation Pmoyen= Imoyen*VDD= C*VDD2*Fclk • C est principalement causé par le wire-bond Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Prévisions Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Bases techniques Pour faire du 3D (TSV) il faut savoir faire : • Des connexions verticales entre les circuits • Bump- bonding • SLID • Direct Copper bonding, SiO2 bonding , ….. • Des trous métallisés dans les chips (ThroughSiliconVias) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Les bases techniques : Connexions entre circuits Bump-bonding : • Méthode bien au point , pas de l’ordre de 30 µm (10 µm?) • Plusieurs fournisseurs (AMS, VTT, IZM, LETI, IMEC) • 2 couches uniquement • Utilisé pour tous les détecteurs de type pixels hybrides (ATLAS,CMS,..) (Source Imec ) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Les bases techniques : Connexions entre circuits SLID : ( solid/liquidinterdiffusion) • Pas de l’ordre de 10 µm ( limité par la précision de l’aligneur) (Source IZM ) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Les bases techniques : Trous métallisés Formation des trous à travers le wafer • Laser ou DRIE (deepreactive ion etching) • Trous les plus réguliers possibles , facteur de forme, coût (Source IZM ) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Les bases techniques : Amincissement des wafers Nécessité due au facteur de forme des trous • Amincissement mécanique puis chimique • Jusqu’à une dizaine de µm (et moins) • Nécessité de « wafers » de transport • Techniques de bonding-debonding Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Les bases techniques : Métallisation des trous • Après isolation des parois pour le CMOS • Cu ou W (Source IZM ) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Face to face : • Ne nécessite pas de « support intermédiaire • Back to face : • Nécessite un support intermédiaire pour le wafer aminci • Wafer sur wafer : • Placement aisé mais • Circuits de taille identique • Rendement = R1* R2 • Chip sur wafer : • Rendement bien meilleur mais • Positionnement beaucoup plus long et compliqué Coté électronique 2 Coté électronique 1 Définir la succession des opérations Vias last : Les wafers sont terminésavant la formation des vias Vias first : les vias sont formés soit au tout début, soit après le FEOL 3 grands choix à définir : • « Back to face » ou « Face to face » • « Chip to wafer » ou « wafer to wafer » • « Vias first » ou « vias last » Possibilité de mélanger plusieurs technos, réalisable quelque soit le fondeur mais les vias doivent être « loin » des différents métaux préexistants donc prennent de la place Les vias peuvent être très petits mais nécessite une collaboration fondeur- fabricant de vias. Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Un exemple de process : Tezzaron Face to face Wafer to wafer Vias first Accord avec fondeur : Chartered ( techno 0.13 µm similaire à IBM ) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Journées VLSI, 3 juin 2008 Jean-Claude Clémens, CPPM From Ray Yaremapresentation : V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008
Journées VLSI, 3 juin 2008 Jean-Claude Clémens, CPPM From Ray Yaremapresentation : V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008
Journées VLSI, 3 juin 2008 Jean-Claude Clémens, CPPM From Ray Yaremapresentation : V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008
Journées VLSI, 3 juin 2008 Jean-Claude Clémens, CPPM From Ray Yaremapresentation : V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008
Journées VLSI, 3 juin 2008 Jean-Claude Clémens, CPPM From Ray Yaremapresentation : V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008
Journées VLSI, 3 juin 2008 Jean-Claude Clémens, CPPM From Ray Yaremapresentation : V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008
Journées VLSI, 3 juin 2008 Jean-Claude Clémens, CPPM From Ray Yaremapresentation : V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008
Combien ça coûte ? Si l’on prend une approche « classique » on prend assez vite peur : 2 couches = 2 runs électronique + 1 assemblage 3D En prototype et en 2 couches on peut ne faire qu’un run électronique (en sacrifiant souvent 1 chip sur 2) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
dessous dessous Un seul run pour un 3D avec 2 couches dessus Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Motivations pour la physique des hautes énergies Tour d’horizon effectué lors de 2 workshops : • http://indico.in2p3.fr/contributionListDisplay.py?confId=400 • http://indico.mppmu.mpg.de/indico/contributionListDisplay.py?confId=184 Consensus sur le fait que ce type de technologie intéresse surtout les détecteurs de vertex ( pixels notamment) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Pixels hybrides pour SLHC Fait : ATLAS Design en cours Prochainesgénérations ? FE-I3 CMOS 250 nm 50 μm 400 μm 50 μm FE-I4 CMOS 130 nm 250 μm 50 μm 125 μm Réduire la taille des pixels en conservant (augmentant) leurs performances 50 μm 100 μm Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Pixels CMOS : Plus intelligents D’après Marc Winter: V. integration Tech. For HEP , Ringberg 2008 Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Projet 3D-France Projet fédératif (dans l’IN2P3) entre les communautés pixels CMOS, hybrides, imagerie • “Définir et faire réaliser des structures de test 3D sur des galettes de semi-conducteurs” • 4 labos intéressés: CPPM, LAL, LPNHE , IPHC (et aussi IRFU & CMP) • CPPM : Upgrade pixels Atlas pour SLHC • LAL : Idem • IPHC : Capteurs CMOS pour ILC • LPNHE : Adaptation du circuit Si-TR130 Dans ces projets un point commun : au moins un point de contact par pixel Surface occupée par le via la plus petite possible Cela condamne -t-il le via last ? Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Une des possibilités du via last Réduction importante des zônes mortes en périphérie des détecteurs Très important pour les imageurs • Nouvelles approches de la mécanique des grands détecteurs Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Projet 3D-France Démarrage début 2008 • Tour d’horizon des industriels européens : IMEC, IZM, LETI • Chacun possède ses propres techniques • Procédés vias last ( vias assez « gros ») • Prix élevés pour des essais assez « simples » L'expérience de Fermilab Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Fermilab Un précurseur MIT LL 3D chip (VIP) for ILC vertex (0.18 µm SOI tech) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Fermilab Un précurseur Une électronique 3 étages Soumis fin 2007 Résultats très décevants Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
RunTezzaron Soumission d'un multiprojet en techno Tezzaron regroupant 15 instituts (Août 2009) • 2 couches d’électronique seulement (Chartered 0.13µm) • Bonding face to face • Taille réticule 32*24 mm • 12 wafers 3 D attendus à partir de 25 wafers de départ • 12 semaines de délai • Coût total = 250 k$ = 160 k€ ( moins cher qu’un run IBM 0.25 µm !!!!) • L'IN2P3+IRFU+CMP a occupé 2/5 de la surface disponible On attend les circuits !! Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Quel circuits dans ce réticule? Structures de test génériques (CMP) Pixels CMOS (IPHC+IRFU) Etude de nouvelles cellules pixels hybrides (LAL) Transfert du FEI4_prototype prévu pour l’upgrade d’ATLAS (CPPM+ Bonn) Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille
Conclusions LE 3D c’est : • Potentialités énormes • Beaucoup de variantes mais très peu de réalisations • Peu d’outils de simulation / vérification • Technologie clairement NON STANDARD • Testabilité ? Bientôt des réponses sur le futur proche de ces technologies à l'IN2P3 Jean-Claude Clémens Centre de Physique des Particules de Marseille