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Abdelyllah Elboudali ; Fouad Bana Professeur : A. Khouas Département de génie électrique

ELE6306 : Test de systèmes électroniques Standard IEEE 1149.6 pour le test Boundary-Scan Des réseaux numériques avancés. Abdelyllah Elboudali ; Fouad Bana Professeur : A. Khouas Département de génie électrique École Polytechnique de Montréal. PLAN. Introduction Technologie Instructions

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Abdelyllah Elboudali ; Fouad Bana Professeur : A. Khouas Département de génie électrique

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Presentation Transcript

  1. ELE6306 : Test de systèmes électroniquesStandard IEEE 1149.6 pour le testBoundary-ScanDes réseaux numériques avancés Abdelyllah Elboudali ; Fouad Bana Professeur : A. Khouas Département de génie électrique École Polytechnique de Montréal

  2. PLAN • Introduction • Technologie • Instructions • Langage BSDL • CONCLUSION

  3. INTRODUCTION

  4. Objectifs: Couplage des réseaux numériques en mode AC • IEEE 1149.1 est conçu pour les couplage DC • Problème: le test DC ne fonctionne pas en mode AC • Solution: développer le standard IEEE1149.1 pour remédier à ce problème • Le standard IEEE1149.6 est donc une extension du standard IEEE1149.1

  5. TECHNOLOGIE • Les différents types de couplage • Les défauts • Implémentation des signaux de test

  6. Ce chapitre traite les discussions sur le couplage en AC, le signal différentiel, et l’impact des défauts dans les circuits par faute de non compatibilité au test avancé des entrées/sorties.

  7. LES COUPLAGES

  8. Les couplage en AC • La tension d’offset varie entre le driver et le récepteur • Plusieurs fournisseurs de réseaux: différents seuils • Le couplage AC différentiel résout ce problème • Le couplage AC peut créer des distorsions aux niveau de signal suivant la fréquence ( page 5 et 6)

  9. Le couplage en AC ( Mode asymétrie)

  10. Les couplage en AC (suite)

  11. Les couplage en AC (suite)

  12. Les réseaux différentiels • Les réseaux numériques à haute fréquence sont souvent différentiels -peu de problème et moins de bruits d’immunité par rapport aux réseaux asymétriques

  13. Le couplage AC ( Mode différentiel)

  14. Le couplage AC (suite)

  15. LES DEFAUTS

  16. Les défauts • Les défauts sont des anomalies qui se produisent sur les cartes électroniques pendant l’étape de fabrication et qui doivent être détectés et corrigés. Parmi les modèles de défaut qu’on peut trouver: -Les circuits ouvert -Les courts-circuits -Les défauts paramétriques -A absence ou défectuosité des composants, etc. Ce qui identifie le rôle traditionnel d' IEEE 1149,1 comme standard de test des défauts de fabrication.

  17. Circuit ouvert sur un coté de la capacité

  18. Les défauts(suite) La présence d’un circuit ouvert sur une des bornes de driver ne peut pas être détecté par le récepteur, en effet le comparateur continue à comparer une de ses bornes à Vref. Ce qui augmente le taux d’erreur. Pour cela il faut contrôler les deux bornes du driver.

  19. Défauts universelles

  20. Implémentation des signaux de test

  21. AC-EXTEST Un multiplexeurcommandé par le AC-EXTEST choisitentre la donnéeà tester et le signal à transmettre

  22. Driver en mode différentiel

  23. Récepteur en mode Single-Ended

  24. Récepteur en mode Single-Ended(suite) • Quand le signal AC EXTEST est chargé, un récepteur spéciale digitalise le signal reçu et un autre bloc détecteur (Det) détermine si le signal reçu est un ‘1’ ou un ‘0’. • Quand AC-EXTEST est chargé le signal à transmettre passe par les registres du Boundary scan.

  25. Testeur d’un récepteur qui supporte DC et AC-EXTEST

  26. Testeur d’un récepteur qui supporte DC et AC-EXTEST (suite) Un multiplexeur permet de combiner entre le DC et le AC-EXTEST

  27. Exemple contrôle d’une cellule avec AC-EXTEST

  28. LES INSTRUCTIONS

  29. Toutes les instructions fournies par IEEE STD 1149.1 s’exécutent pour les interconnexions en DC. • Les interconnexions en AC s’exécutent tel que spécifié avec l’exception d’une inversion entre la cellule de registre boundary-Scan et la sortie négative du driver. • L' instruction EXTEST_DC permet de détecter le niveau de comportement du signal sur les chemins contenant les interconnexions couplées en AC. • L’ instruction EXTEST_DC permet détecter les condensateurs court-circuités sur les chemins couplés en AC, et certains autres défauts possibles.

  30. LE LANGAGE BSDL

  31. Le mécanisme d’extension est choisit pour décrire les circuits basés sur la définition du langage de design à haut niveau (VHDL) avec le nom STD_1149_6_2003 et qui contient les définitions des attributs utilisés pour fournir les données appropriées

  32. Nouvelles commandes utilises dans BSDL • AC_0 to AC_99 • AC_Select • AC_SelU • AC_SelX • AIO_Component_Conformance • AIO_EXTEST_Pulse_Execution • AIO_EXTEST_Train_Execution

  33. Nouvelles commandes utilises dans BSDL(suite) • AIO_Pin_Behavior • HP_time • LP_time • Maximum_time • On_chip • STD_1149_6_2003

  34. CONCLUSION

  35. Le standard 1149.6 est une extension de STD 1149.1 et STD 1149.4 • Il est simple, robuste et teste les différents types de couplage asymétrie et différentiel • Au niveau logiciel, il a développé le langage BSDL pour satisfaire les nouvelles exigences

  36. Questions

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