1 / 18

Дифрактометар за прах Bruker AXS

Дифрактометар за прах Bruker AXS. D8 ADVANCE. Порекло средстава: Министарство за науку и заштиту животне средине Републике Србије Година набавке: 2004. Дифрактометар основни изглед. D8 ADVANCE. Општи технички подаци: Димензије: 2035Х1400Х1260 mm Тежина: 550 kg

lundy
Download Presentation

Дифрактометар за прах Bruker AXS

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript


  1. Дифрактометар за прахBruker AXS D8 ADVANCE Порекло средстава: Министарство за науку и заштиту животне срединеРепублике Србије Година набавке: 2004.

  2. Дифрактометаросновни изглед D8 ADVANCE Општи технички подаци: Димензије: 2035Х1400Х1260 mm Тежина: 550 kg Хлађење:затворени систем 3.6l/min, 4.0-7.5 bar, температура 10-20 C Напајање: трофазно, 208-240 v Максимална снага: 6.5 kVA Савремени систем заштите

  3. Области истраживања у којима се примењује дифрактометар D8 Овај уређај омогућује различите X-ray дифракционе експерименте који представљају моћан аналитички алат за недеструктивно истраживање чврстих и течних материјала: • Квантитативну фазну анализу • Квалитативну фазну анализу (идентификацију кристалних фаза) • Структурну анализу кристала • Одређивање микроструктуре, односно кристалне грађе (величине кристалита, микронапрезања, ...) • Напрезања, текстура • Величине, обликаи орјентације зрна • Анализа танких слојева (дебљину, поредак , густину…) посредством HRXRD или XRR • Наноструктурна истраживања посредством дифракције на малим угловиома.

  4. ГОНИОМЕТАР ТЕХНИЧКИ ПОДАЦИ: Конфигурација: вертикална, θ/2θ илиθ/θ геометрија Дијаметар мерне кружнице: променљив 435, 500 и 600(дефинисане), 435-600 могуће дефинисати Опсег углова θ и 2θ: 3600 (без додатака) Мак. могући опсег 2θ: -1100Ј 2θ Ј1680 зависи од додатне опреме Позиционирање угла: Степмотор са оптичким енкодером Минимални корак θ: 0.00010 Репродуцибилност θ: 0.00010 Максимална угаона брзина: 300/s

  5. ПРОМЕНЉИВА ГЕОМЕТРИЈА • Bragg-Brentano геометрија (она је све до 1990. године била доминантна геометрија стандардних лабораторијских X-ray дифрактометараза прах са ограниченим бројем оптичких компоненти и метода): • Рефлексиона оптика (θ/θ и θ/2θ варијанта) • Трансмисиона оптика (θ/θ и θ/2θ варијанта) • Parallel beam геометријаостварена посредством Göbel –овог вишеслојног параболичног огледала • Рефлексиона оптика (θ/θ и θ/2θ варијанта) • Трансмисиона оптика (θ/θ и θ/2θ варијанта)

  6. фокусна кружница детектор дивергентни слит аnti-scatter слит линеарни фокус рендгенске цеви излазни монохроматор аналитички слит Раван узорка мерна кружница Bragg-Brentano рефлексиона геометрија са широким варијатетом апликација

  7. Трансмисиона геометрија • Могућност хоризонталног постављања узорка (минимум захтева за препарацију узорка) • Рад у θ/θ и θ/2θваријанти

  8. Parallel Beam геометријаGöbel-ова огледала основна идеја: конвертовати дивергентни сноп у паралелни сноп Х-зрака рендгенска цев Göbel-ово огледало 0.6 - 1.0mm широк паралелни сноп Х-зрака

  9. Parallel Beam геометријапредности • Пружа нове могућностиу X-ray дифракцији на праху које превазилазе ограничења Bragg-Brentano геометрије • Могу бити коришћени неравни облици узорака • Минимализују се грешке настале услед померености и транспаренције узорка као и грешке настале прекорачењем спота ван области узорка. • Лака промена рефлексионе у трансмисионе геометрије и обрнуто- у неким апликацијама и без додиривања инструмента • Повећање интензитета и до фактора 10

  10. Повећање интензитета зафактор 10може бити добијен у следећим апликацијама Анализа танких слојева (високорезолуциона, grazing incidence, рефлектометреија) Малим угловима У стандардним мерењима нема значајне промене интензитета. Parallel Beam геометријаповећање интензитета?

  11. XRPD – Облик узорака, Препарација узорака • Плексиглас или челични носачи облика диска за узорке у облику праха (рандом орјентисан), идеалан 108 до 1010 кристалита (неколико μm) • Носач за узорке са преферентном орјентацијоим • Носач за узорке у форми фолија, филтера и танких филмова • Носачи са заштитном фолијом за узорке осетљиве на спољашње утицаје или течности • Носач са ниском униформном позадином за веома мале количине узорка • Нерегуларни облици узорака • Узорци од пресованог праха • Филтер папир

  12. ЗАДУЖЕЊЕКОРИСНИЦИИСКОРИШЋЕНОСТ 1.Миодраг Митрић 2.Војислав Спасојевић 3.Владан Кусигерски 1. Института Винча, Београд 2.Институт техничких наука САНУ, Београд 3.Центар за мултидисциплинарне студије, Београд 4.Факултет техничких наука, Нови Сад 5. Природно-математички факултет, Нови Сад 6. ИХТМ, Београд 7. Технички факултет, Чачак 8. Факултет физичке хемије, Београд 9. Институт “Јожеф Штефан” , Љубљана,Словенија 10. Институт за математику, физику и механику, Љубљана

  13. ПОТРЕБЕ • Улазни монохроматор • Високо-ниско температурска комопра • Варјабилни дивергентни слит • Излазни радијални слит

  14. RExY1-xF3 La2FeCrO3 NdFeB-мешавина фаза Bi4Zr3O12-механохемија Bi4Hf3O12-механохемија NiFe2O4+ SiO2Композит-механохемија LiMn(Cr,Zn,Co)2O4 Ni1-xHFx -интерметалици Co2TiO4 (Ni,Zn)Fe2O4 Композитни биоматеријали HAp+polimer Кристална грађа графитних влакана Превлака TiN na Fe Нанокомпозити PS +Fe EVA+Fe PBT+Fe SAN+Fe Нанокомпозити полимер+SiO2-amorfni Koloidni rastvor SiO2+EuO РЕЗУЛТАТИ

  15. РЕЗУЛТАТИ

  16. РЕЗУЛТАТИ Prevlaka TiN na Fe

  17. РЕЗУЛТАТИ voda

  18. РЕЗУЛТАТИ Ni1-xHfx

More Related