460 likes | 631 Views
Systemy pomiarowe. Struktury systemów pomiarowych. Komputer nadrz ę dny. Magistrala interfejsu. Kontroler podsystemu. Kontroler podsystemu. Magistrala interfejsu. Magistrala interfejsu. Przetwornik pomiarowy. Przetwornik pomiarowy. Przetwornik pomiarowy. Przetwornik pomiarowy.
E N D
Systemy pomiarowe
Komputer nadrzędny Magistrala interfejsu Kontroler podsystemu Kontroler podsystemu Magistrala interfejsu Magistrala interfejsu Przetwornik pomiarowy Przetwornik pomiarowy Przetwornik pomiarowy Przetwornik pomiarowy Czujnik Czujnik Czujnik Czujnik Systemy pomiarowe MT-3
Warstwy interfejsowe wg. ISO-OSI (open system interconection) PROFIBUS DDLM FDL RS485 Użytkownika Aplikacyjna Prezentacji Sesyjna Transportu Sieciowa Przesyłu danych Fizyczna
Interfejsy SZEREGOWE CAN Controller Area Network do500 m RÓWNOLEGŁE Motoryzacja do 1Mb/s Automatyka CAMAC (Computer 232 RS - (1962) Automated Measurement and RS - 232C (1968) Control Equipment) } RS - 423A { 1:10, 30 m, 100kb/s} RS - 422A {1:10, 1200 m 10Mb/s} 1 :1, 15 m 115 kb/s Drukarka Centronix RS - 485 {32:32,1200 m, 10 Mb/s} (EIA/TIA 232E) 1:14 2-25 m 1 MB/s USB (1997) {1:127, 5m, 480 Mb/s } Karta PC Karta IEC 625 PROFIBUS 32 : 32 1200m 10 – 500 kb/s ISA IEC 625/ PCI MXI ETHERNET VME (1982) Kaseta 40 MB/s PXI MXI VXI (1987) Dla mikrokontrolerów i I2C Microwire czujników zintegrowanych HPIB (1972) GPIB IEEE 488 Fire Wire do 400Mb/s} IEEE 1394 {
Pętla elementów aktywnych (Token) Pętla elementów aktywnych (Token) .... Master Master Master Magistrala .... Slave Slave Slave Slave MT-3 Profibus FMS (Fieldbus Messge Specification) PA (Process Automation) DP (Decentralized Peripherials)
A/C Czujnik TEDS Czujnik TEDS Logika MSTIM 1451.4 MMI NCAP 1451.1 Lista przyłączy Czujnik TEDS NORMA IEEE 1451 MT-3 STIM 1451.2 NCAP 1451.1 Sieć
Moduł czujnika pomiarowego wyposażonego w elektroniczna kartękatalogowa TEDS
I 20 mA I 4 mA 20 mA X min X max 4 mA PĘTLA 4 –20 mA X max X min ZASILACZ12, 24, 36, 48 V NADAJNiK ŹRÓDŁO PRĄDOWE ODBIORNIK Pętla Prądowa 4 – 20 mA
Protokół HART Przesyłanie danych cyfrowych pętlą prądową Sygnał o częstotliwości 1200Hz – stan niski Sygnał o częstotliwości 2200Hz – stan wysoki Do 15 elementów w sieci
Realizacja skomplikowanego kształtu metodą wielokrotnego nakładania warstw poświęconych
ROTOR o średnicy 100 m m MIKROSILNIK ELEKTROSTATYCZNY STOJAN prędkość obrotowa 25000 obr/min
Elementy mikromechaniczne wykonane technologią EFAB Wykonanie Projekt w CAD Cewka Chip z wieloma układami RF
Elementy mikromechaniczne wykonane technologią EFAB Waraktor obrotowy
Elementy mikromechaniczne wykonane technologią EFAB Projekt w CAD Wykonanie Linia opóźniająca Scaner
1 mm Zespół dysz wraz z przełącznikiem
Miniaturowa łódź podwodna płynie w naczyniu krwionośnym Techniką stereolitografi wytworzono subminiaturową łódź podwodną, przeznaczoną do diagnostyki układów krążenia, o wymiarach 4 x 0.8 mm . Urządzenie to jest napędzane śrubą wielołopatkową. Może być wyposażone w kamerę TV i różne czujniki wielkości nieelektrycznych. Dzięki uprzejmości firmy Micro TECH, Bismarckstrasse 1426, 47057 Duisburg, Niemcy
Światowy rynek mikrosystemów Struktura i zakres 1996-2002, produkty dobrze usytuowane (przewidywania 1999) Noworozwijane mikrosystemy 1996-2002 (przewidywania 1999)
EUROPRACTICE • W Europie powołano jeden ogólnoeuropejski i kilka narodowych programów rozwoju mikrosystemów pod nazwą EUROPRACTICE, który podzielono na pięć głównych działów: • pomiary fizyczne i motoryzacja (CC1) • mikrourządzenia biomedyczne i zastosowania w medycynie (CC2a) • mikrosystemy bioanalityczne dla nauki o życiu i ochrony środowiska (CC2b) • MEOMS, urządzenia peryferyjne i telekomunikacyjne (CC3) • mikromaszyny i mikroaktuatory, kontrola procesów i zastosowania w narzędziach (CC4) • mikrofluidyka i mikrosystemy cieczowe (CC5) • czujniki promieniowania, areonautyka i zastosowania instrumentalne w aparaturze naukowej (CC6a) • systemy obrazowe CMOS (CC6b).
Struktura nakładów inwestycyjnych na badania i instytucji badawczych w dziedzinie mikrosystemów Struktura nakładów inwestycyjnych na badania w dziedzinie mikrosystemów krzemowych Struktura instytucji badawczych i dydaktycznych
pierwsza cyfra zabezpieczenie przed: druga cyfra zabezpieczenie przed: 0 brak zabezpieczenia 0 brak zabezpieczenia 1 dużymi przedmiotami 1 pionowymi kroplami 2 przedmiotami średniej wielkości 2 kroplami padającymi pod kątem nie większym od 150 3 małymi przedmiotami 3 kroplami padającymi pod kątem nie większym od 600 4 elementami powyżej 1 mm 4 wodą padającą pod dowolnym kątem 5 gromadzeniem się kurzu wewnątrz urządzenia 5 strumieniem wodnym o dowolnym kierunku 6 wnikaniem kurzu 6 zalaniem wodą - - 7 zanurzeniem do wody przy określonym ciśnieniu i czasie zanurzenia - - 8 zanurzeniem do wody przy określonym ciśnieniu IP (interelement protection)
EMC Kompatybilność elektromagnetyczna Emisyjność elektromagnetyczna Odporność elektromagnetyczna Źródła emisji Urządzenia gospodarstwa domowego Linie energetyczne i telefoniczne Łączność naziemna i satelitarna Wyładowania atmosferyczne Im wyższa częstotliwość, tym większe zaburzenie
EMC Kompatybilność elektromagnetyczna Zapobieganie Konstrukcja Ekranowanie (klatki Faraday’a) Szczelność elektromagnetyczna Badania emisji i odporności Wg. normy 9kHz – 1GHz (bada się do 30GHz) Anteny nadawcze i odbiorcze Kierunkowość pola Przestrzeń do badań, odbicia Komory bezechowe Komory rewerberacyjne (wieloodbiciowe) 10 m pole pomiarowe 10 mln euro
Strefy wybuchowości 0-Ciągła 1- Doraźna 2 - okazjonalna 10- ciągłe 11- okazjonalne Klasy wybuchowości I-Metan IIA IIB IIC atmosfera wybuchowa Różne gazy zagrożenie wybuchem pyłu Zabezpieczenie przeciwwybuchowe Klasy temperaturowe (maksymalna temperatura powierzchni) T1- do 450 °C, T2- do 300 °C, T3- do 200 °C, T4- do 135 °C, T5- do100 °C, T6- do85 °C,
EEx qe IIB T5 Oznaczenie norm europejskich (CENELEC) Zabezpieczenie przeciwwybuchowe Rodzaje zabezpieczeń o – olejowe p – nadciśnieniowe q – piaskowe d- ciśnieniowe szczelne e- zwiększonego bezpieczeństwa i - samoistnie bezpieczne