750 likes | 979 Views
Význam studia povrchů. Struktura povrchů. Cíle strukturních studií – identifikace atomů a jejich vzájemných poloh délky a charakter vazeb. http://www.chem.qmul.ac.uk/surfaces/scc/ http://www.uksaf.org. Modifikace uspořádání. Povrchová relaxace. d 1-2 < d bulk. Možno i.
E N D
Význam studia povrchů Struktura povrchů Cíle strukturních studií – identifikace atomů a jejich vzájemných poloh délky a charakter vazeb http://www.chem.qmul.ac.uk/surfaces/scc/ http://www.uksaf.org Modifikace uspořádání Povrchová relaxace d1-2 < dbulk Možno i D2-3 < dbulk
Povrchová rekonstrukce Minimalizace povrchové energie Vazby Si(100)-(1x1) Si(100)-(2x1)
Adsorpce Fyzikální – pouze slabou van der Waalsovou vazbou bez výrazné redistribuce elektronové hustoty Chemická – silnější vazby, redistribuce elektronové hustoty chemisorpce 1D model Energie adsorpce a desorpce > 0,3 nm Molekulární chemisorpce
Disociativní chemisorpce H2→ H + H D(H-H) ] 435 kJ mol-1 , 4.5 eV. Přechod molekuly do stavu fyzisorpce a poté chemisorpce či desorpce Přechod molekuly do chemisorpce
Geometrie adsorpce Halogeny Polohy s vysokou koordinací H2 Obvykle vazby H-H přerušeny O2 N2 Polohy s vysokou koordinací Silné interakce často vyvolávají rekonstrukci substrátu O2 silnější tendence k disociaci Odpudivé interakce mezi adsorbovanými atomy CO
Reálný povrch Okolní prostředí, adsorpce atomů Doba života čistého povrchu SI - Pascal ( 1 Pa = 1 Nm-2 ) Atmosférický tlak ( 1 atm.) - 101325 Pa, 1013 mbar ( 1 bar = 105 Pa ). 1 torr = 1 mmHg. 1 atm ~ 760 Torr ( i.e. 1 torr = 133.3 Pa ). Gas exposure Míra množství plynu, který působí na povrch (expozice/L) = 106x (tlak/torr) x (čas/s) L – Langmuir ~ 10-6 torr Stickingcoefficientq • Část dopadajících molekul, které se adsorbují na povrchu (0 – 1) • Počet adsorbovaných částic na jednotku plochy (např. molekuly/cm-2) • Zlomek maximálního možného pokrytí povrchu • Počet adsorbovaných částic na jednotku plochy povrchu/Počet povrchových atomů substrátu na jednotkovou plochu
Doba života čistého povrchu Dva důvody pro čistý povrch
Metody přípravy povrchů Tepelná desorpce Tdes~ 1000 Kprůchod el. prouduradiacebombardování zezadu Desorpce v silném elektrickém poli Desorpce el. bombardováním (excitace, slabší vazby) Iontové bombardování Ar, Xe, univerzální, nevýhoda – porušení povrchupostupné odprašování Čištění laserovým paprskem Tepelná desorpce, lokální ohřev Štípání, lámání ve vakuu monokrystaly Využití povrchových reakcí H2, O2
Popis struktury povrchů Maticové značení povrch substrát Woodovo značení ( |b1|/|a1| x |b2|/|a2| ) (2 x 2)
c( 2 x 2 )( 2 x 2)R45 ( 3 x 3)R30 (111) - ( 3 x 3)R30 (110) - c(2 x 2 ) M(hkl) – p/c (m x n) Ra E centrování buňky adsorbát rotace povrchové buňky substrát orientace substrátu Ni(001)-p(2 x 2)C
(2 x 2) (1 x 3) (2 x 2) q = (4 x ¼ + 1) / (4 x ¼ + 4 x ½ + 1) = 2/4 0,33
(2 x 2) (2 x 1) 0,5
Jednoduché povrchové struktury f.c.c. (100) Koordinační číslo 4 sousedé v 1. vrstvě, 4 v další Atomy v další vrstvě jsou nedostupné pro adsorbáty Všechny povrchové atomy jsou ekvivalentní Povrch je relativně hladký Různé polohy pro adsorbáty: on-top, bridge, hollow f.c.c. (110) Koordinační číslo 2 sousedé v 1. vrstvě, 4 ve druhé, 1 ve třetí vrstvě Všechny povrchové atomy jsou ekvivalentní, ale atomy druhé vrstvy jsou dostupné pro adsorbáty Povrch je relativně drsný a anizotropní Různé polohy pro adsorbáty: on-top, bridge (krátké, dlouhé, hollow f.c.c. (111) Koordinační číslo 6 sousedů v 1. vrstvě, 3 ve druhé, Všechny povrchové atomy jsou ekvivalentní a s vysokou koordinací Povrch je relativně hladký Různé polohy pro adsorbáty: on-top, bridge, hollow
Jednoduché povrchové struktury b.c.c. (100) Koordinační číslo 4 sousedé ve 2. vrstvě Atomy v další vrstvě jsou prakticky nedostupné pro adsorbáty b.c.c. (110) Koordinační číslo 4 sousedé v 1. vrstvě, 2 ve druhé, b.c.c. (111) Otevřený povrch
Jednoduché povrchové struktury h.c.p. (0001) Všechny povrchové atomy jsou ekvivalentní, koordinační číslo 9 Povrch je relativně hladký Různé polohy pro adsorbáty: on-top, bridge, hollow NaCl(100) Surface explorer http://w3.rz-berlin.mpg.de/~rammer/surfexp_prod/SXinput.html NIST Surface Structure Database (SSD) http://w3.rz-berlin.mpg.de/~hermann/hermann/SSDpictures.html
bcc(310)-(1x1) fcc(111)+(3x3)-C6H6+2CO Fe(110)+(3x1)-2H hcp(0001)+(1x1)-Ad Ru(0001)+(r3xr3)R30-CO
Si(111)-(7x7) Si(100)+(2x1)-Na TiO2(100)-(3x1) TiC(111)+(r3xr3)R30-O
Schody a fazety fcc(775) fcc(10.8.7) Termodynamicky stabilní povrch Celková povrchová volná energie Závislost na krystalografické orientaci M(S) – (m(hkl) x n(h’k’l’)) (544) – (S)-[9(111) x (100)] a = 6.2º (755) – (S)-[6(111) x (100)] a = 9.5º schod substrát terasa „step“
Metody studia struktury povrchů Difrakční Rozptylové Spektroskopické Mikroskopické XRD, LEED, RHEED, difrakce atomů Rozptyl – rtg, atomů, iontů FEM, FIM, STM, AFM, ...
LEEDLow Energy Electron Diffraction • 1924:náhodný objev Davisson a Kunsman během studia emiseelektronů z Ni • 1927: Davisson and Germer nalezli difrakční maxima: • nl = D sinf • 1934:Fluorescenční stínítko (Ehrenburg) • 1960:UHV technologie E ~ 30 – 500 eV Mřížky – 1. Přímá dráha elektronů2, 3 Filtrace energií (záporný potenciál vůči vzorku)4 Stínění pole kolektoru Zdroj elektronů, držák vzorku, registrace – vše v UHV Detekce - W pokrytý Ni, 80% průchodnost
Grid 1: retarding voltage(selects only elastic electrons) Fluorescent Screen Sample Grid 2: accelerating voltage(creates fluorescence on screen)
l = h / p p = m.v = (2mEk )1/2 = (2m.e.V)1/2 => l = h / ( 2m.e.V )1/2
Electron Diffraction X-ray Diffraction ki Angle f a D ki kf kf d d q
p(2 x 2) c(2 x 2) b1 | = | b2 | = √2 u → | b1*| = | b2*| = 1/ √2 u. rotace 45°.
LEED: Si(111)7x7 Real Space: Si surface atoms • LargerD spacings give closer LEED spots (smaller f). • Higher energy electrons give closer spots. 7× bulk spacing Surface 7x spacing Bulk 1x spacing 35 eV 65 eV
Ewaldova konstrukce pro LEED Difraktované svazky Ewaldova koule Tyče reciprokého prostoru Dopadající svazek vzorek
. Si(111) GaAs(110) Sr2CuO2Cl2
Sample Electron Gun f x D spacing R LEED spot
Teorie LEED Coulombovská interakce e- x potenciál atomu Vysoké energie – Bornova apoximace LEED – komplexnější interakce Kvantově-mechanický rozptyl Hartree-Fock selfkonzistentní, potenciál muffin-tin, relativistické korekce rozptylová amplituda, t-matice, sada fázových posuvů, celkový účinný průřez Výpočty mnohonásobného rozptylu, dynamická teorie Účinný průřez interakce ~ 3x větší než rtg Analýza I vs. E křivek pro různé Braggovy svazky Teorie x Experiment - balíky programů
Kritéria shody Speciální R-faktory
Fe (310) Au (110) – (1 x 2)
Terasy Difrakční funkce jedné terasy s 5 atomy Difrakční funkce 6 teras Celková difrakční funkce
RHEEDReflection High Energy Electron Diffraction Malý úhel dopadu 1-3º E ~ 1 – 10 keV Hloubka průniku 30 – 100 Å Velká Ewaldova koule Studium růstu tenkých vrstev Objemově - difrakce na průchod, stopy Vrstva po vrstvě - kroužky Ni(110) – O2 Chemisorpce – pruhy, oxidace - jádra
Ewaldova koule Tyče reciprokého prostoru Diffraktované svazky Stopy RHEED vzorek
E-beam k-Space: Larger period e-beam Real Space: Smaller period e-beam k-Space: Smaller period e-beam Real Space: Larger period e-beam RHEED: Si(111)7x7
Line profile of AlN <1120> RHEED: AlN RHEED image of AlN • Surface periodicity given by spacing between peaks. • Surface quality given by full-width at half-max of peaks. FWHM Intensity
Rozptyl atomů 1929 Stern, He → LiF (100) Rozvoj od r. 1970 Tendulkar, Stickney HAS helium atom scattering Atomový svazekHe, Ne - 20 – 300 meV, 0,5 - 1 Å Přitažlivé van der Waalsovy sílyOdpudivé síly, překryv el. obalů Atom Surface Potential Vattr~ z-3 Vrep= k r(r), k – 170 – 520 eV Modulace – povrchová struktura povrchové vazby Corrugation function
Corrugated Hard Wall model V(z) = 0, z > ζ(x,y)V(z) = inf, z > ζ(x,y) Zanedbání přitažlivé složky Daleko od povrchu Měřené intenzity = Rayleighova hypotéza, platí i na povrchu Komplexní rozptylová amplituda Soustava rovnic pro AG Iterační procedury Povrchově nejcitlivější metoda Silný rozptyl na atomech s malým atomovým číslem Rozdělení nábojové hustoty
Chemisorpce H Povrchy izolantů Rekonstrukce povrchů Nesouměřitelné vrstvy Doplňková metoda k LEED Necitlivost k mezivrstevným vzdálenostem Vibrační charakteristiky
Měření absorpčního koeficientu v závislosti na energii dopadajícího záření Amplituda zpětného rozptylu od sousedního atomu vlnový vektor fotoelektronu s vazebnou energií E0 a střední volnou dráhou l(k)
SEXAFS – Surface Extended X-Ray Absorption Fine StructureNEXAFS – Near Edge X-Ray Absorption Fine Structure (XANES) Detekce fotoelektronů, Augerových elektronů Chemická selektivita!!! NEXAFS – 50 eV od hrany, komplikovaný mnohonásobný rozptyl, vliv detailního rozdělení el. hustoty Studium molekul (dominují intramolekulární procesy)
Rh, K hranaFourierova transformace Rh, K hrana Sumace přes všechny sousední slupky Celkový fázový posuv DW faktor Neelastické procesy Nj efektivní koordinační číslo atomu ve vzdálenosti Rj Lokální okolí vybraného atomu