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Geometrie am Gerät und in der Ewald-Konstruktion

Geometrie am Gerät und in der Ewald-Konstruktion. Eine Anwendung des Streudreiecks. Inhalt. Orientierung einer (00l) orientierte Platte auf dem Diffraktometer, Ziel: Beugung am Si-Reflex (004), 2 θ =69,130°, a=5,431 Å, λ CuKAlpha=1,542 Å

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Geometrie am Gerät und in der Ewald-Konstruktion

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Presentation Transcript

  1. Geometrie am Gerät und in der Ewald-Konstruktion Eine Anwendung des Streudreiecks

  2. Inhalt Orientierung einer (00l) orientierte Platte auf dem Diffraktometer, Ziel: • Beugung am Si-Reflex (004), 2θ=69,130°, a=5,431 Å, λCuKAlpha=1,542 Å • Methode: Ewald Konstruktion zur Messung der Intensität am Reflex (004)

  3. Si (004) – Cu Kα: Ausgangsstellung (Reflex erscheint nicht) Beugung am Si-Reflex (004), 2θ=69,130°, a=5,431 Å, λCuKAlpha=1,542 Å links oben: (00l) orientierte Platte auf dem Diffraktometer, rechts unten: Ewald Konstruktion zur Messung der Intensität am Reflex (004) Die Achse ω stehe senkrecht zur Zeichenebene, ω004=35° - Maus-Klick startet die Animation

  4. Si (004) – Cu K Alpha Beugung am Si-Reflex (004), 2θ=69,130°, a=5,431 Å, λCuKAlpha=1,542 Å links oben: (00l) orientierte Platte auf dem Diffraktometer, rechts unten: Ewald Konstruktion zur Messung der Intensität am Reflex (004) Die Achse ω stehe senkrecht zur Zeichenebene, ω004=35°

  5. Zusammenfassung • Die Ewald-Konstruktion dient der Berechnung der Orientierung der Kristalle, um Beugung an einem bestimmten Reflex, hier dem Si-Reflex (004), zu erreichen • Die Drehwinkel übertragen sich vom direkten in den reziproken Raum Vermeiden Sie, beide Räume zu mischen, z. B. Kristalle oder Teile des Geräts in die Ewaldkugel einzuzeichnen

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