1 / 18

LABORATORIUM SKANINGOWEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ

INSTYTUT METALI NIEŻELAZNYCH ZAKŁAD TECHNOLOGII PRZETWÓRSTWA METALI I STOPÓW. LABORATORIUM SKANINGOWEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ. SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY LEO GEMINI 1525 Z MIKROANALIZATOREM RENTGENOWSKIM ROENTEC. Działo Wiązka elektronowa. Komora i stolik.

cheryl
Download Presentation

LABORATORIUM SKANINGOWEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ

An Image/Link below is provided (as is) to download presentation Download Policy: Content on the Website is provided to you AS IS for your information and personal use and may not be sold / licensed / shared on other websites without getting consent from its author. Content is provided to you AS IS for your information and personal use only. Download presentation by click this link. While downloading, if for some reason you are not able to download a presentation, the publisher may have deleted the file from their server. During download, if you can't get a presentation, the file might be deleted by the publisher.

E N D

Presentation Transcript

  1. INSTYTUT METALI NIEŻELAZNYCH ZAKŁAD TECHNOLOGII PRZETWÓRSTWA METALI I STOPÓW LABORATORIUM SKANINGOWEJ MIKROSKOPII ELEKTRONOWEJ

  2. SKANINGOWY MIKROSKOP ELEKTRONOWY LEO GEMINI 1525 Z MIKROANALIZATOREM RENTGENOWSKIM ROENTEC

  3. Działo Wiązka elektronowa Komora i stolik System pomp próżniowych SCHEMAT BUDOWY MIKROSKOPU

  4. INSTYTUT METALI NIEŻELAZNYCH ZAKŁAD TECHNOLOGII PRZETWÓRSTWA METALI I STOPÓW • Opis danych technicznych: • Zdolność rozdzielcza - 1,5nm przy 20 kV, • 3,5nm przy 1 Kv • Napięcie przyspieszające – od 0,5 kV do 30 kV • Zakres powiększeń – 20x do 500000x • Zakres analizowanych pierwiastków od Boru do Uranu

  5. Rys.1. Przykładowe obrazy morfologii powierzchni próbek badanych z wykorzystaniem SEM

  6. Rys.2. Przykładowe obrazy topografii powierzchni próbek badanych z wykorzystaniem SEM

  7. Rys.3. Przykładowe obrazy SEM mikrostruktur na zgładach trawionych przekrój poprzeczny drutu Pt

  8. Rys.4. Przykładowe obrazy SEM powierzchni przełomów.

  9. Rys.5. Przykładowe obrazy SEM morfologii powierzchni proszku CdO.

  10. C - 18.63% O - 7.80% Zn - 73.57% -------------------------- 100.00% Rys.6. Przykład mikroanalizy punktowej składu chemicznego (EDS) „cynku twardego”

  11. Rys.7. Przykład mikroanalizy punktowej składu chemicznego „cynku twardego’

  12. Zr -1.22% Sn-5.50% Cu - 93.13% Si - 0.15% ----------------------- 100.00% Rys.8. Przykład mikroanalizy powierzchniowej składu chemicznego przełom stopu CuSn

  13. Zr - 0.06% Sn- 6.47% Cu -93.45% Si - 0.02% ------------------------ 100.00% Rys.9. Przykład mikroanalizy liniowej składu chemicznego przełom stopu CuSn

  14. Rys.10. Przykładowy liniowy rozkład pierwiastków chemicznych przełom stopu CuSn

  15. faza η +Zn-94,91%, Fe-5,09% (faza ζ) +Zn-92,37%, Fe-7,63% (faza δ) +Zn-74,34%, Fe-25,66% (faza Γ) podłoże stalowe Rys.11. Przykładowy liniowy rozkład pierwiastków chemicznych, przekrój poprzeczny powłoki cynkowej

  16. Fe Cu Fe+Cu Rys.12. Przykładowy powierzchniowy rozkład pierwiastków chemicznych (mapping) stopu CuFe

  17. Rys.13. Przykładowe obrazy wady powierzchni drutów PtRh badanych z wykorzystaniem SEM

  18. Podsumowanie • Mikroskop skaningowy Leo Gemini 1525 jest urządzeniem badawczym o dużych możliwościach. Składa się na nie szeroki zakres powiększeń i możliwość obserwacji z zastosowaniem różnego typu detektorów, niezmiernie przydatne przy obserwacji mikrostruktury, topografii i morfologii badanych próbek. • Niezmiernie pomocna przy rozwiązywaniu różnorodnych problemów naukowych z zakresu materiałoznawstwa jest możliwość wykonania analizy składu chemicznego bezpośrednio na oglądanym obrazie elektronowym. W wielu przypadkach pozwalało to na natychmiastowy opis badanej próbki i zachodzących w niej zjawisk fizyczno-chemicznych lub określenie przyczyny i poznanie charakteru badanej wady metalurgicznej. • Dla poprawnego przeprowadzenia tych badań koniecznym jest stosowanie metod preparatyki próbek adekwatne do konkretnych przypadków. Poprawne przygotowanie próbek powinno zapewnić swobodny przepływ ładunków elektrycznych z wiązki elektronowej do stolika przez badaną próbkę.

More Related