Sugárzás kölcsönhatása az anyaggal XPS módszerek típusai és analitikai alkalmazásai

1. Sugárzás kölcsönhatása az anyaggalXPS módszerek típusai és analitikai alkalmazásai C.S. Fadley - X-ray photoelectron spectroscopy: Progess and perspectives, J. Electron Spectroscopy and Related Phenomena 178-179 (2010) 2-32 Készítették: Pásztor Diána Mester Dávid vegyészmérnök MSc

2. XPS elvi alapjai Fotoionizáció (hυ=1250-4500 eV)

3. Fotoelektron spektrum

4. Alkalmazás Kvalitatív Kvantitatív Áttekintő spektrumok felvétele Mg vagy Al Kα Spektrumvonalak intenzitása-atom mennyiségével arányos

5. Corelevel

6. Corelevel kémiai eltolódás Legelőször Na2S2O3 A két S különböző kémiai állapotban van jelen Felületen lévő helyek kémiai és szerkezeti tulajdonságairól ad egyedi információt

7. További jelenségek • Corelevel multiplettek felhasadása Betöltetlen vegyértékhéjú rendszerek emissziójakor Mágneses és egyéb komplex anyagok vegyértékállapota és kémiai kötései • Fotoelektron diffrakció és holográfia Fotoelektron emisszió irányát és szögét változtatjuk Különböző atomokból kilépő elektron hullámok komponensei miatt fellépő aniztoróp szórás és interferencia

8. Cirkuláris és lineáris dikroizmus Mindenütt jelen van az XPS-ben

9. Szögfeloldott fotoemissziós spektroszkópia (ARPES)

10. További XPS technikák Spinfelbontásos XPS (Spin-resolvedXPS, SRXPS) • Detektorok továbbfejlesztése szükséges • Kihasználja a spin-pálya kölcsönhatást • Elektronspin mérhetővé válik • Mágneses anyagoknál nagyon fontos • Nagy mérési idő 

11. További XPS technikák Kemény röntgensugárzással gerjesztett XPS (XPSwith hardX-rayexcitation, HXPS) • Korábbi módszerek érzékenységének javítása

12. További XPS technikák Időfelbontásos XPS (Time-resolved XPS, TRXPS) • Perturbálás után mérjük a mintában lecsengő folyamat időfüggését • min  fs • PH és PD-val alkalmas lehet időfelbontásos atomi szintű képalkotásra

13. Röntgen fotoelektron diffrakció alkalmazása • Komplex rendszerekben atomi pozíciók pontos meghatározása

14. Köszönjük a figyelmet!